
- •Лекция 1
- •Классификация контролируемых параметров и дефектов
- •Лекция 2
- •1.2 Стандартизация нк и д
- •1.3Автоматизация средств нк и д (снк и д)
- •Лекция 3
- •1.4.Экспертные системы (эс)
- •1.5. Эффективность применения снк и д
- •8. Формулы для расчета технической эффективности системы
- •14.1 Общие сведения
- •Приборы, основанные на регистрации искажения электромагнитного поля
- •Термоэлектрические приборы
- •Электроискровые, трибоэлектрические и электростатические приборы
- •Лекция 6
- •Электрорезистивные методы и средства контроля и диагностики
- •Общие сведения и физические основы
- •Диагностические параметры и модели
- •Лекция 7
- •Методы и средства дефектоскопии
- •Лекция 8
- •Методы и средства контроля отклонений формы поверхностей
- •Лекция 9
- •15.1. Физические основы оптического неразрушающего контроля
- •1. Основные области применения оптических методов нк и контролируемые параметры изделий
- •15.2. Структурные схемы и элементная база приборов оптического контроля
- •Лекция 10
- •Приборы оптической дефектоскопии
- •15.5.1. Приборы для контроля внутренних поверхностей и обнаружения дефектов в труднодоступных местах
- •Лекция 11
- •15.11. Лазерные сканирующие микроскопы (лсм)
- •Приборы оптической интроскопии
- •Лекция 12
- •Спектральные методы оптической структуроскопии
- •Метрологическое обеспечение оптического контроля
- •16.2. Средства контроля температуры
- •16.3. Методы экспериментального определения теплофизических характеристик объектов
- •Другие возможные методы и средства тнк
- •Лекция 16
- •Основы вибродиагностики
- •20.3. Принципы и приборы измерения вибрации
- •22.1. Общие сведения и основные понятия
- •22.2. Определение оптимальных физических методов для решения поисковых задач
Лекция 10
Приборы оптической дефектоскопии
Визуально-оптические приборы
К приборам этого класса относятся проекторы различного типа, в том числе телевизионные, обычные и стереоскопические микроскопы, эндоскопы.
Телевизионные проекторы широко применяются в дефектоскопии и обладают следующими преимуществами: возможностью усиления яркости, контраста изображения, сравнительно малыми световыми нагрузками на объект, равномерным распределением яркости экранов ЭЛТ, высоким качеством изображения (в том числе цветного), возможностью его размножения на нескольких телевизионных приемниках и наблюдения на большом удалении от объекта, широким спектральным диапазоном преобразования светового сигнала, который можно наблюдать в невидимых лучах, благодаря этому резко снижается утомляемость операторов, увеличивается производительность труда.
С помощью телевизионных проекторов можно легко автоматизировать процесс измерений и контроля и выдавать результаты на ЭВМ, а также производить различные преобразования изображения и их количественную обработку (выделение изолиний и т.д.).
Расширению областей применения телевизионных проекторов способствует серийное производство высокоэффективных передающих трубок и аппаратуры промышленного телевидения.
Наиболее распространена схема проектора с передающей телевизионной трубкой. Она включает источник света, объектив, передающую трубку, видеотракт с блоками усиления и обработки сигнала и видеоконтрольное устройство. Для управления процессом контроля и запоминания информации могут быть использованы ЭВМ и видеомагнитофоны.
Чаще всего в ПТУ используют трубки типа видикон и диссектор.
В системах «бегущего луча» в качестве источника света используют специальный проекционный кинескоп с высокой яркостью свечения. Отраженный от объекта сигнал воспринимается фотоумножителем, усиливается и подается на видеоконтрольное устройство. Иногда вместо проекционной трубки применяют лазер, луч которого сканирует объект с помощью оптикомеханической или электрооптической развертки.
Система «бегущий луч» по сравнению с обычной телевизионной системой обеспечивает более высокое качество изображения, имеет больший динамический диапазон, быстродействие, высокое пространственное разрешение. Ее недостатки: конструктивная сложность, невозможность контроля больших объектов из-за падения яркости при увеличении масштаба изображения, снижение световой чувствительности из-за отсутствия процесса накопления сигнала. Эти устройства применяют в микроскопах для контроля малых объектов.
Микроскопы находят применение при контроле интегральных схем и других прецизионных изделий. Наиболее широко применяют стереомикроскопы, их выпускают в двух модификациях, соответствующих схемам Грену и Аббе.
Схема Грену состоит из двух оптических каналов (угол между оптическими осями которых 12 ... 18°), что облегчает работу по рассматриванию дефектов, так как при этом глаза оператора конвергированы (сведены) под углом, соответствующим рассматриванию объектов, расположенных в непосредственной близости от оператора. Таким образом,* условия работы на микроскопе соответствуют естественным условиям наблюдения близких объектов.
В схеме Аббе оптические оси окуляров параллельны, что приводит к некоторому несоответствию условий работы при контроле близких объектов, так как оптические оси глаз в естественных условиях параллельны только при наблюдении удаленных объектов. В то же время в схеме Аббе легче реализовать плавное (панкра- тическое) изменение масштаба изображения, что удобно при контроле.
Разработан ряд высокоразрешающих проекционных стереосистем. Выпускается стереопроектор, в котором для сепарации изображений стереопар использован растровый экран на основе линзы Френеля. Прибор предназначен для контроля в часовой и электронной промышленности. Создан стереопроектор, в котором сепарация стереопар осуществляется с помощью вращающегося растрового экрана.
Для контроля прецизионных изделий типа фотошаблонов применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа.
В связи с малым полем измерения в ТВМ и ФЭМ объекты больших размеров перемещаются с помощью точных программируемых приводов (обычно в пределах 300 ... 500 мм). При этом абсолютная погрешность позиционирования изделия составляет 0,01 ... 0,1 мм. Таким образом, в этих приборах реализуется принцип комбинированного сканирования объекта - высокоточного сканирования в малом поле измерения и менее точного сканирования, но имеющего большие пределы перемещения.
Рис. 20. Схема линзового эндоскопа