
- •Лекция 1
- •Классификация контролируемых параметров и дефектов
- •Лекция 2
- •1.2 Стандартизация нк и д
- •1.3Автоматизация средств нк и д (снк и д)
- •Лекция 3
- •1.4.Экспертные системы (эс)
- •1.5. Эффективность применения снк и д
- •8. Формулы для расчета технической эффективности системы
- •14.1 Общие сведения
- •Приборы, основанные на регистрации искажения электромагнитного поля
- •Термоэлектрические приборы
- •Электроискровые, трибоэлектрические и электростатические приборы
- •Лекция 6
- •Электрорезистивные методы и средства контроля и диагностики
- •Общие сведения и физические основы
- •Диагностические параметры и модели
- •Лекция 7
- •Методы и средства дефектоскопии
- •Лекция 8
- •Методы и средства контроля отклонений формы поверхностей
- •Лекция 9
- •15.1. Физические основы оптического неразрушающего контроля
- •1. Основные области применения оптических методов нк и контролируемые параметры изделий
- •15.2. Структурные схемы и элементная база приборов оптического контроля
- •Лекция 10
- •Приборы оптической дефектоскопии
- •15.5.1. Приборы для контроля внутренних поверхностей и обнаружения дефектов в труднодоступных местах
- •Лекция 11
- •15.11. Лазерные сканирующие микроскопы (лсм)
- •Приборы оптической интроскопии
- •Лекция 12
- •Спектральные методы оптической структуроскопии
- •Метрологическое обеспечение оптического контроля
- •16.2. Средства контроля температуры
- •16.3. Методы экспериментального определения теплофизических характеристик объектов
- •Другие возможные методы и средства тнк
- •Лекция 16
- •Основы вибродиагностики
- •20.3. Принципы и приборы измерения вибрации
- •22.1. Общие сведения и основные понятия
- •22.2. Определение оптимальных физических методов для решения поисковых задач
Лекция 9
15.1. Физические основы оптического неразрушающего контроля
Оптический неразрушающий контроль (ОНК) основан на анализе взаимодействия оптического излучения (ОИ) с объектом контроля (ОК).
Оптическое излучение или свет - электромагнитное излучение с длиной волны 10-3 ... 103 мкм, в котором принято выделять ультрафиолетовую (УФ), видимую и инфракрасную (ИК) области спектра с длинами волн соответственно 10-3... 0,38; 0,38 ... 0,78 и 0,78 ... 103 мкм.
Возникновение ОИ связано с движением электрически заряженных частиц (электроны, атомы, ионы, молекулы). Дискретные спонтанные или индуцированные переходы носителей зарядов с более высоких на более низкие уровни энергии сопровождаются испусканием световых квантов (фотонов) с энергией, равной разности энергий этих уровней. Энергия фотона Е = hv, где h = 6,626 • 10-34 Дж • с - постоянная Планка; v - частота излучения, Гц.
Скорость распространения ОИ в вакууме с0 = = 299 792,5 км/с. В реальных средах ОИ распространяется со скоростью v = с0 / n = 0v/n = v, где
п
=
- показатель преломления среды;
и
- относительные диэлектрическая и
магнитная проницаемости среды; 0
и
- длина волны света в вакууме и среде
соответственно.
Информационными параметрами ОИ являются пространственно-временные распределения его амплитуды, частоты, фазы, поляризации и степени когерентности. Для получения дефектоскопической информации используют изменение этих параметров при взаимодействии ОИ с ОК в соответствии с явлениями интерференции, дифракции, поляризации, преломления, отражения, поглощения, рассеяния, дисперсии света, а также изменение характеристик самого ОК под действием света в результате эффектов фотопроводимости, фотохромизма, люминесценции, электрооптических, механооптических (фотоупругость), магнитооптических, акустооптических и других явлений.
Основными информационными параметрами объектов оптического контроля являются их спектральные и интегральные фотометрические характеристики, которые в общем случае зависят от строения вещества, его температуры, физического (агрегатного) состояния, микрорельефа, угла падения излучения, степени его поляризации, длины волны.
К числу дефектов, обнаруживаемых неразрушаю- щими оптическими методами, относятся пустоты (нарушения сплошности), расслоения, поры, трещины, включения инородных тел, внутренние напряжения, изменение структуры материалов и их физико-химических свойств, отклонения от заданной геометрической формы и т.д.
С помощью оптических методов внутренние дефекты выявляются только в изделиях из материалов, прозрачных в оптической области спектра.
Использование оптического излучения как носителя информации перспективно. Электромагнитное поле по природе многомерно, что позволяет вести многоканальную (многомерную) обработку информации одним устройством с большой скоростью, определяемой скоростью света в данной среде.
Основные области применения оптических методов приведены в табл. 1. Особенно перспективно использование резонансных эффектов взаимодействия ОИ с ОК, в том числе нелинейных, основанных на использовании сверхмощного лазерного излучения.