
- •1.Аналитические выражения для вах р-n-переходов
- •2.Входное сопротивление, коэффициент усиления по току, коэффициент усиления по напряжению, коэффициент усиления по мощности биполярного транзистора на низкой частоте в схеме с общей базой
- •3.Лавинный пробой электронно-дырочного перехода. Тепловой пробой.
- •Полевые транзисторы
- •7.Эффект оттеснения тока эмиттера на край эмиттера.
- •8.Параметры моп - транзистора. (Статические параметры; Дифференциальные параметры; Электрофизические параметры (подвижность и механизмы рассеяния носителей в канале).
- •9. Статические вах биполярного транзистора.
- •10 Резкий несимметричный электронно-дырочный переход в состоянии теплового равновесия
- •11 Статические вольт-амперные характеристики биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером
- •12.Высота потенциального барьера (q ). Зависимость q от температуры (т), концентрации примеси (n) и ширины запрещённой зоны
- •13. Электрические зонные диаграммы, поясняющие случаи обогащения, обеднения слабой и сильной инверсии моп структур.
- •14 Граничная концентрация неосновных носителей заряда в базе электронно-дырочного перехода
- •15. Переходные процессы в диоде:
- •16. Величина порогового напряжения моп-транзистора, и пути его регулирования:
- •17. Туннельный пробой диода. Сравнительный анализ туннельного и лавинного пробоя:
- •18.Частотные свойства бт
- •19.Эффект Эрли и его следствия
- •21.Импульсные свойства биполярного транзистора: случай малого и большого сигналов.
- •Импульсные свойства бт при малом сигнале
- •Импульсный режим работы бт при большом сигнале
- •22.Модель Эберса-Молла.
- •23.Реальные моп-структуры с n и p подложками. Энергетические зонные диаграммы, разности работ выхода металл – затвора – полупроводник (моп структур) с Al и поликремниевым затворами
- •24. Барьерная ёмкость диода
- •25. Электронно-дырочный переход при нарушении теплового равновесия. Токи инжекции и экстракции
- •26. Генерация и рекомбинация носителей в - -переходе
- •27. Коэффициент передачи тока эмиттера идеализированной модели биполярного транзистора.
- •Виды пробоя биполярного транзистора (смыкание эмиттерного и коллекторного перехода, лавинный пробой, вторичный пробой)
- •База отключена
- •Диффузионная ёмкость диода
- •Барьер Шотки. Диод Шотки. Транзистор Шотки Барьер Шоттки
- •Диод Шоттки
- •Вопрос 31. Распределение концентрации неосновных носителей в базе(случай тонкой базы).
- •Вопрос 32. Аналитические выражения вах электронно-дырочного перехода(случай тонкой базы).
- •Вопрос 33. Распределение потоков носителей в реальной одномерной бт
- •34. Особенности работы p-n перехода при высоком уровне инжекции вуи
- •35. Биполярные транзисторы
- •36. Образование электронно-дырочного (р-n) перехода
- •37. Зависимость коэффициентов передачи тока от тока эмиттера
- •38. Распределение концентрации неосновных носителей в базе (общий случай)
- •40.Входное сопротивление, коэффициент усиления по току, коэффициент усиления по напряжению, коэффициент усиления по мощности биполярного транзистора на низкой частоте в схеме с общим коллектором
- •41 Характеристические частоты биполярного транзистора
18.Частотные свойства бт
19.Эффект Эрли и его следствия
Модуляция ширины базы напряжением на обратно смещенном коллекторном переходе называется эффектом Эрли (по имени ученого Дж.Эрли, впервые исследовавшего это явление).
Действие эффекта Эрли проявляется в работе БТ в виде двух основных следствий.
Если БТ
работает в активном нормальном режиме
и напряжение
увеличивается по модулю, то коллекторный
переход расширяется, база становится
меньше и коэффициенты
и
возрастают (...Error: Reference source not found).
А так как
,
то возрастает ток коллектора при
,
что не учитывается моделью Эберса-Молла.
Следовательно, учитывая эффект Эрли,
коллекторный диод в схеме Эберса-Молла
необходимо шунтировать сопротивлением,
дифференциальное значение которого
составляет
при
.
Зная
Error: Reference source not found,
для активного режима получим
|
(3.21) |
где
– ширина коллекторного перехода в
базовой области;
.
Из ( 3 .21)
видно, что, во-первых, сопротивление
обратно пропорционально току эмиттера,
а во-вторых, так как
очень мало, сопротивление
велико.
При включении по схеме с ОЭ изменение напряжения приводит к изменению коэффициента и, следовательно, тока коллектора Error: Reference source not found. Этот эффект эквивалентен шунтированию коллекторного перехода сопротивлением
.
С учетом
того, что
,
т.к. изменение напряжения на открытом
эмиттерном переходе мало, получим
|
(3.22) |
Из ( 3 .21) и
( 3 .22) видно, что сопротивление коллекторного
перехода
при включении БТ по схеме с общим
эмиттером в
меньше сопротивления
БТ, включенного посхеме с ОБ; Это
отражается на наклоне выходных
вольт-амперных характеристик (см. рис.Рисунок 3 .5
и рис. Error: Reference source not found, б).
В задаче
анализа и расчета схем интерес представляет
напряжение Эрли, которое характеризует
активный нормальный режим БТ в схеме с
ОЭ. Проведя касательные к участкам
графика
,
соответствующих активному режиму,
приблизительно выбираем точкуих
пересечения с осью напряжений для
некоторого диапазона смещений (рис. 3 .5,
точка А).
Считая
треугольники АОВ и ВСД подобными, можно
записать, что ДС/СВ=ОВ/ОА.
А так как
ДС =
,
СВ ==
,
ОВ =
,
а ОА =
,
то можно записать
Рисунок 3.5 –Механизм определения напряжения Эрли
|
(3.23) |
где
–напряжение Эрли.
Вторым следствием эффекта Эрли является существование в БТ внутренней обратной связи, которая проявляется в зависимости напряжения
от
при длясхемы с ОБ и зависимости от при
для схемы с ОЭ и характеризуется коэффициентами
и
Рисунок 3.6– Механизм возникновения внутренней обратной связи под действием эффекта Эрли: а – ОБ, ; б – ОЭ, .
Механизм возникновения внутренней обратной связи под действием эффекта Эрли пояснимна графиках распределения неосновных носителей в базе бездрейфового n-p-n-транзистора в активном нормальном режиме работы (рис. 3 .6, а) и ОЭ (рис. 3 .6, б)
При
изменении напряжения
или
изменяется толщина базы и, как видно из
рис. 3 .6, граничная концентрация неосновных
носителей
.
При
(см. рис. 3 .6, а) получим
;
учитывая, что
и
,
получим:
.
При
должен сохраняться полный заряд
избыточных неосновных носителей в базе
,
т.е. при изменении
,
а, следовательно,
площади треугольников ОАД и ОВЕ должны
быть равны.
,
где
– площадь эмиттера.
.
Учитывая,
что
,
получим
Следовательно,
.
При увеличении обратного смещения на
коллекторном переходе
толщина базы уменьшится и напряжение
,
судя по величине
(см. рис. 3 .6, а), уменьшится, препятствуя
увеличению тока коллектора. Следовательно,
обратная связь является отрицательной.
20.Омический контакт. Контакты n+-n, Me-n+-n. энергетические зонные диаграммы параметры
Биполярный транзистор – полупроводниковый прибор, предназначенный для усиления и генерации электромагнитных колебаний. Он включает в себя два p-nперехода: эмитерный и коллекторный, и три полупроводниковых области: эмитер, база и коллектор. Термин «биполярный» означает то, что токоперенос в этом типе транзистора осуществляется двумя типами свободных носителей заряда: основными и неосновными.
Биполярные транзисторы делятся на бездрейфовые, перенос инжектированных в базу носителей у которых осуществляется только за счет диффузии, и дрейфовые, у которых перенос носителей через базу осуществляется как за счет диффузии, так и за счет дрейфа.
Биполярный транзистор может работать в четырех режимах:
режим отсечки (эмиттерный и коллекторный переходы смещены в обратном направлении) (рис. 3 .7, а);
режим насыщения (эмиттерный и коллекторный переходы смещены в прямом направлении) (рис. 3 .7, б);
активный нормальный режим (эмиттерный переход включен в прямом, а коллекторный — в обратном направлениях) (рис. 3 .7, в);
активный инверсный режим (эмиттерный переход включен в обратном, а коллекторный — в прямом направлениях) (рис. 3 .7, г).
Графики распределения концентрации неосновных носителей заряда в базе транзистора для всех режимов его работы строили исходя из следующих соображений: во-первых, база в транзисторе всегда тонкаяи, следовательно, распределение линейное; во-вторых, граничную концентрацию неосновных носителей в базе со стороны эмиттера или коллектора можно рассчитать, воспользовавшись уже известным выражением Error: Reference source not found:
,
где в качестве Uj подставляют величину напряжения перехода эмиттер - база или коллектор - база соответствующего знака.
Если предположить, что ток основных носителей базы (дырок для n-p-n-транзисторов) равен нулю (считаем, что рекомбинация отсутствует), то
|
(3.24) |
E |
(3.25) |
Из( 3 .25) видно, что если база легирована равномерно, то Eх = 0 (случай бездрейфового транзистора).
Как правило, в инженерных расчетах наличие поля в базе учитывается удвоением коэффициента диффузии неосновных носителей в базе. Наличие поля в базе несколько изменит вид энергетической зонной диаграммы транзистора и распределение концентрации неосновных носителей в базе (рис. 3 .8).
В зависимости от названия электрода, который подключается к общему электроду внешней электрической цепи и по отношению к которому отсчитывается потенциал, различают три схемы включения транзистора: схема с общей базой - ОБ (схема с эмиттерным входом) (рис. 3 .9, а), схема с общим эмиттером - ОЭ (схема с базовым входом) (рис. 3 .9, б), схема с общим коллектором - ОК (эмиттерный повторитель) (рис. 3 .9, в).
Как уже отмечалось, поведение транзистора во многом определяется параметрами и распределением концентрации носителей в базе. Поэтому та область транзистора, база которой находится непосредственно под областью эмиттера, называется активной (рис. 3 .10, I) остальная — пассивной (рис. 3 .10, II).
Рисунок 3.7 – Энергетические зонные диаграммы и распределение концентрации неосновных носителей в базе n-р-n бездрейфового транзистора в режимах
отсечки (а), насыщения (б), активном нормальном (в) и активном инверсном (г)
Рисунок 3.8 – Энергетическая зонная диаграмма (а) и распределение концентрации неосновных носителей в базе (б) n-р-n дрейфового транзистора в активном нормальном режиме
а)
б)
в)
Рисунок 3.9– Схемы включения транзисторов
а– с общей базой; б – с общим имиттером; в – с общим коллектором.
В таблице 3 .1приведены соотношениякооэфициентов передачи тока KI, напряжения KUи мошности KPтранзисторов с различным типом включения.
Таблица 3.1–стравнительный анализ коэффициентов усиления по току, напряжению и мощности для различных схем включения транзистора.
Коэффициент передачи |
Схема включения |
||
ОБ |
ОЭ |
ОК |
|
КI |
< 1 |
> 1 |
> 1 |
KU |
> 1 |
> 1 |
< 1 |
KP |
> 1 |
> 1 |
> 1 |
Рисунок 3.10– Типичный n-р-n планарно-эпитаксиальный транзистор