- •1. Введение. Общие сведения об электронных приборах
- •1.1. Определение электронных приборов. Классификация
- •1.2. Режимы и параметры электронных приборов
- •2. Полупроводниковые приборы
- •2.1. Физические явления в полупроводниках
- •2.2. Токи в полупроводниках
- •2.3. Уравнение непрерывности
- •2.4. Электрические переходы в полупроводниковых приборах
- •2.5. Электронно-дырочный переход в равновесном состоянии
- •2.6. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •2.8. Пробой p-n-перехода
- •2.9. Емкости p-n-перехода
- •2.10. Полупроводниковые диоды
- •2.11. Общие параметры диодов
- •2.12. Выпрямительные диоды
- •2.13. Полупроводниковые стабилитроны
- •2.14. Импульсные диоды
- •2.15. Варикапы
- •2.16. Туннельные и обращённые диоды
- •2.17. Параметры туннельных диодов
- •3. Биполярные транзисторы
- •3.1. Устройство и принцип действия биполярных транзисторов
- •3.2. Режимы работы биполярных транзисторов
- •3.3. Физические процессы в биполярном транзисторе в активном режиме
- •3.4. Модель Эберса-Молла
- •3.6. Статические характеристики транзисторов в схеме с оэ
- •3.8. Система z-параметров
- •3.9. Система y-параметров
- •3.10. Система h–параметров
- •3.12. Физические параметры транзисторов
- •3.13. Зависимость статических характеристик транзисторов от температуры
- •3.15. Связь физических параметров транзистора с h–параметрами
- •3.16. Работа биполярного транзистора в режиме усиления
- •3.17. Графоаналитический расчет рабочих параметров транзистора
- •3.18. Частотные свойства биполярных транзисторов
- •3.19. Эквивалентные схемы транзисторов на высоких частотах
- •3.20. Работа транзистора в импульсном режиме
- •3.21. Классификация транзисторов по мощности и частоте
- •3.22. Методы формирования транзисторных структур и конструкции
- •6.2. Триодные тиристоры
- •6.3. Симметричные тиристоры (симисторы)
2.2. Токи в полупроводниках
Дрейфовый ток
При наличии электрического поля на хаотическое движение электронов и дырок накладывается компонента направленного движения. В результате электроны и дырки начинают перемещаться – возникает дрейфовый ток. Плотность дрейфового тока пропорциональна концентрации носителей, подвижности и напряжённости поля E:
; (2.15)
, (2.16)
где
,
– подвижности электронов и дырок.
Суммарная
плотность дрейфового тока
равна:
, (2.17)
, (2.18)
г
де
σ – удельная электрическая проводимость
полупроводника, См/см.
У
германия
,
;
у кремния –
,
.
Зависимость удельной электрической проводимости от температуры представлена на рис. 2.3.
При низкой температуре концентрация электронов и дырок определяется в основном концентрацией примеси и слабо зависит от температуры. С ростом температуры удельная проводимость несколько уменьшается за счёт уменьшения подвижности носителей заряда.
При высокой температуре начинается ионизация собственных атомов полупроводника, поэтому концентрация носителей, а следовательно, и проводимость полупроводника возрастает.
При прохождении дрейфового тока через однородный полупроводник концентрация носителей заряда в любом элементарном объёме остаётся постоянной.
Диффузионный ток
Если концентрация подвижных носителей в различных точках неодинакова, в полупроводнике в соответствии с законами теплового движения возникает диффузия частиц из области с большей их концентрацией в область с меньшей концентрацией. В результате этого в полупроводнике возникает электрический ток, обусловленный градиентом (перепадом) концентрации носителей, называемый диффузионным током.
Плотность диффузионного тока дырок в одномерном случае
, (2.19)
где
– коэффициент диффузии дырок, равный
для германия
,
для кремния –
.
Знак «минус» указывает, что диффузионный
дырочный ток направлен в сторону
уменьшения концентрации дырок;
– градиент концентрации дырок.
Плотность диффузионного тока электронов определяется аналогично:
, (2.20)
где
– коэффициент диффузии электронов,
равный
для германия и
– для кремния;
– градиент концентрации электронов.
Принято считать, что диффузионный ток направлен в сторону увеличения концентрации электронов, поэтому он берётся со знаком «плюс».
В полупроводнике могут существовать и электрическое поле, и градиент концентрации носителей заряда. Тогда ток в полупроводнике будет иметь как дрейфовую, так и диффузионную составляющие:
; (2.21)
. (2.22)
Параметры дрейфового и диффузионного токов связаны между собой соотношениями Эйнштейна:
;
,
(2.23)
где
– температурный потенциал.
2.3. Уравнение непрерывности
Уравнение
непрерывности является одним из основных
уравнений, используемых при анализе и
расчёте электрических параметров и
характеристик полупроводниковых
приборов. В нём учитывается дрейфовое
и диффузионное движение свободных
носителей в полупроводнике, а также их
рекомбинация или генерация. Концентрация
носителей заряда в элементарном объёме
полупроводника может изменяться за
счёт генерации и рекомбинации носителей,
а также вследствие различия в величине
втекающего и вытекающего токов. Скорость
изменения концентрации носителей в
рассматриваемом объёме может быть
скоростью рекомбинации
и скоростью изменения концентрации
носителей заряда за счёт различия в
величине втекающего и вытекающего токов
:
. (2.24)
Скорость рекомбинации дырок
, (2.25)
где
– превышение над равновесной концентрацией
дырок, а τ – время жизни неосновных
носителей.
Скорость изменения концентрации носителей можно определить, зная плотность тока в полупроводнике:
. (2.26)
Полная скорость изменения концентрации дырок в элементарном объёме будет равна
. (2.27)
Это выражение называется уравнением непрерывности.
Аналогичное уравнение можно написать и для электронов:
, (2.28)
где
и
– время жизни неосновных носителей.
