- •1. Введение. Общие сведения об электронных приборах
- •1.1. Определение электронных приборов. Классификация
- •1.2. Режимы и параметры электронных приборов
- •2. Полупроводниковые приборы
- •2.1. Физические явления в полупроводниках
- •2.2. Токи в полупроводниках
- •2.3. Уравнение непрерывности
- •2.4. Электрические переходы в полупроводниковых приборах
- •2.5. Электронно-дырочный переход в равновесном состоянии
- •2.6. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •2.8. Пробой p-n-перехода
- •2.9. Емкости p-n-перехода
- •2.10. Полупроводниковые диоды
- •2.11. Общие параметры диодов
- •2.12. Выпрямительные диоды
- •2.13. Полупроводниковые стабилитроны
- •2.14. Импульсные диоды
- •2.15. Варикапы
- •2.16. Туннельные и обращённые диоды
- •2.17. Параметры туннельных диодов
- •3. Биполярные транзисторы
- •3.1. Устройство и принцип действия биполярных транзисторов
- •3.2. Режимы работы биполярных транзисторов
- •3.3. Физические процессы в биполярном транзисторе в активном режиме
- •3.4. Модель Эберса-Молла
- •3.6. Статические характеристики транзисторов в схеме с оэ
- •3.8. Система z-параметров
- •3.9. Система y-параметров
- •3.10. Система h–параметров
- •3.12. Физические параметры транзисторов
- •3.13. Зависимость статических характеристик транзисторов от температуры
- •3.15. Связь физических параметров транзистора с h–параметрами
- •3.16. Работа биполярного транзистора в режиме усиления
- •3.17. Графоаналитический расчет рабочих параметров транзистора
- •3.18. Частотные свойства биполярных транзисторов
- •3.19. Эквивалентные схемы транзисторов на высоких частотах
- •3.20. Работа транзистора в импульсном режиме
- •3.21. Классификация транзисторов по мощности и частоте
- •3.22. Методы формирования транзисторных структур и конструкции
- •6.2. Триодные тиристоры
- •6.3. Симметричные тиристоры (симисторы)
3.12. Физические параметры транзисторов
Рассмотренные дифференциальные параметры называются внешними, т.к. они измеряются на зажимах четырехполюсника. Существенным недостатком их является зависимость от схемы включения. Поэтому удобнее пользоваться физическими параметрами транзистора, связанными с физическими процессами в нем и не зависящими от схемы включения.
К физическим параметрам помимо рассмотренных коэффициентов передачи тока относят дифференциальные сопротивления переходов, объемные сопротивления областей транзистора, емкости переходов и др.
Эти
параметры характеризуют основные
физические процессы в транзисторе. В
активном режиме ВАХ эмиттерного перехода
описывается выражением Iэ=
Iэ.о(
-1).
Дифференциальное сопротивление эмиттерного перехода
rэ=
=0;
[rэ]-1=[
]-1=
;
rэ=
. (3.33)
При Т=300 К
0,026
В, тогда rэ=
. (3.34)
Оно имеет малое значение и с ростом тока Iэ уменьшается, а с увеличением температуры возрастает.
Дифференциальное сопротивление коллекторного перехода для схемы с ОЭ можно получить, дифференцируя выражение для тока коллектора:
Iк=
Iб+(
+1)Iк.бо, (3.35)
rк=
=[Iб
]-1=
. (3.36)
С ростом тока базы сопротивление rк уменьшается.
Ток коллектора Iк протекает через коллекторный переход, смещенный в обратном направлении, и слабо зависит от напряжения на коллекторном переходе. Величина rк велика, более 0,1 МOм, и определяется в основном эффектом модуляции ширины базы.
Аналогично можно найти дифференциальное сопротивление коллекторного перехода в схеме с ОБ:
rк.об= rк.оэ( +1), (3.37)
т.е. дифференциальное сопротивление коллекторного перехода в схеме с ОБ выше, чем в схеме с ОЭ.
Сопротивление базы rб определяется размерами структуры и распределением концентраций примесей в активной и пассивной областях базы. Оно равно сумме распределенного сопротивления базы rб’ и диффузионного сопротивления rб”: rб= rб’+ rб”. Распределенное сопротивление базы rб отражает сопротивление активной области базы. Как показывают расчеты, величина его может определяться соотношением
rб’=
, (3.38)
где e – заряд электрона;
– подвижность основных носителей в
базе;
N –концентрация примеси в базе;
Wб – ширина базы.
Уменьшение ширины базы Wб приводит к возрастанию этого сопротивления. Часть входного напряжения, приложенного к эмиттерному переходу, теряется на распределенном сопротивлении rб’, что снижает эффективность управления током в транзисторе.
Диффузионное сопротивление базы rб” отражает влияние коллекторного напряжения на ширину базы вследствие изменения ширины коллекторного перехода.
Аналогично отдельному p-n-переходу эмиттерный и коллекторный переходы транзистора характеризуются барьерными и диффузионными емкостями. Емкость коллектора Ск гораздо меньше емкости прямосмещенного эмиттерного перехода Сэ. Однако емкость Ск шунтирует большое сопротивление коллектора rk и с ростом частоты оказывает существенное влияние на работу транзистора. В справочниках приводится емкость Ск, измеренная между коллекторным и базовым выводами на заданной частоте при отключенном эмиттере и обратном напряжении на коллекторе.
