
- •3 Модуль
- •1.) Физические основы эхо-метода контроля. Структура и принцип действия эхо-импульсного дефектоскопа (требования к узлам).
- •2.) Основные типы искусственных дефектов. Расчёт акустического тракта. Ард-диаграммы и их применение.
- •3.) Характеристики эхо-метода контроля: глубина прозвучивания, мертвая зона, разрешающая способность. Способы улучшения характеристик.
- •4.) Чувствительность эхо-метода контроля и способы её повышения. Что такое уровень чувствительности и какие уровни различают при реализации контроля?
- •5.) Виды сканирования объектов. Шаг и скорость сканирования.
- •6.) Особенности повышения чувствительности эхо-метода при высоком уровне помех.
- •7.) Помехи при эхо-методе контроля и способы их уменьшения.
- •8.) Способы определения координат и оценка размеров и формы дефектов при эхо-методе контроля.
- •9.) Теневой метод контроля. Физические основы метода. Оценка изменения уровня сигнала в зависимости от велечины дефекта и параматров обьекта контроля.
- •10.) Особенности аппаратуры для реализации теневых методов контроля. Помехи при теневом контроле и способы их уменьшения.
- •11.) На чём основаны временной теневой и дифракционно-временной методы контроля, их возможности?
- •12.) Зеркально-теневой метод контроля. Схемы прозвучивания. Оценка результатов контроля.
- •13.) Измеряемые характеристики и признаки дефектов.
- •14.) Схемы измерения условных размеров дефектов. Погрешности измерения условных размеров. Какие существуют способы задания крайних положений преобразователя при измерении дефектов?
- •15.) Методы распознавания типа дефектов (по условным размерам, по коэффициенту формы).
- •16.) Методы распознавания типов дефектов (по параметрам трансформированных и дифрагированных волн).
- •17.) Стандартные образцы со-1, со-2, со-3, используемые при настройке аппаратуры.
- •18.) Стандартные образцы предприятия (соп), их особенность и виды отражателей.
3 Модуль
1.) Физические основы эхо-метода контроля. Структура и принцип действия эхо-импульсного дефектоскопа (требования к узлам).
Импульсный эхо-метод является в настоящее время наиболее распространенным методом ультразвуковой дефектоскопии, применяемым для контроля различных изделий, в том числе крупногабаритных и сложной формы. Эхо-метод позволяет обнаружить неоднородности в изделии, определить их координаты, размеры и характер путем излучения импульсов УЗ-колебаний, приема и регистрации отраженных от неоднородностей эхо-сигналов.
К преимуществам эхо-метода относятся: односторонний доступ к изделию, относительно большая чувствительность к внутренним дефектам, высокая точность определения координат дефектов. К недостаткам следует отнести: низкую помехоустойчивость к поверхностным отражателям, резкую зависимость эхо-сигнала от ориентации дефекта.
Отличительной особенностью метода является то, что при контроле изделий регистрируются и анализируются практически все сигналы, приходящие из изделия после зондирующих колебаний. Поэтому при контроле изделий с плоскопараллельными поверхностями возможен одновременный прием эхо-сигналов как от дефектов, так и от противоположной поверхности. Причем временное положение эхо-сигнала от дефекта относительно зондирующего импульса пропорционально глубине h его залегания t = 2h/c.
Амплитуда эхо-импульса сложным образом зависит от величины отражателя (дефекта), свойств его поверхности и ориентации, а также затухания ультразвуковых волн в изделии и расстояния до дефекта.
2.) Основные типы искусственных дефектов. Расчёт акустического тракта. Ард-диаграммы и их применение.
Отражение от диска или отверстия с плоским дном. В данном случае можно представить каждую точку В диска, совпадающего с плоским дном отверстия, вторичным источником ультразвука с амплитудой, равной амплитуде падающей волны, умноженной на коэффициент отражения R. При этом будем считать, что точки плоскости вне диска не излучают ультразвук. Тогда выражение для давления на приемнике будет иметь вид
(2.1)
где Sa - площадь преобразователя;
Sb - площадь дна отверстия.
Для границы с воздухом R-1.
В случае небольших размеров дефекта, но превосходящих длину волны , функцию I2 на дефекте можно считать постоянной, тогда
(2.2)
где Aд=Sb/2 - коэффициент формы дефекта
амплитуда отраженной волны от небольшого плоского дефекта не зависит от его формы и пропорциональна его площади. Следует отметить, что если размер дефекта меньше , то описанное выше приближение (Кирхгофа) оказывается неверным, т.е. в этом случае амплитуда отражения убывает с уменьшением отношения b/ (b - радиус отражателя) намного быстрее, чем при b. Является неверным суждение о том, что дефекты размером меньше длины волны не выявляются, т.к. в этом случае отражение имеется, но уменьшается оно гораздо существеннее.
Когда площадь отражателя приближается к площади преобразователя, то нельзя считать функцию I на поверхности дефекта постоянной. Поскольку I уменьшается от центра к периферии, амплитуда сигнала возрастает с ростом дефекта медленнее, чем по закону Sb/2.
Если размеры отражателя превосходят размеры преобразователя, необходимо учитывать при оценке эхосигналов в какой зоне находится отражатель (ближней или дальней), а также тот факт, что и отражатель, являясь вторичным излучателем, имеет ближнюю и дальнюю зоны, в которые попадает приемник.
Как видно из выражения (2.1) величину P/P0 можно представить как функцию двух безразмерных параметров: отношения диаметра диска к диаметру преобразователя (2b/2a) и отношения расстояния от преобразователя до отражателя к длине ближней зоны преобразователя (r/rб). На основе этого ослабление амплитуды сигнала в широком диапазоне диаметров плоского отражателя и расстояний до него находят по безразмерной диаграмме амплитуда - расстояние - диаметр (рисунок 2.2), так называемой АРД-диаграмме. По ней определяют максимальную амплитуду эхосигнала от диска, расположенного на данной глубине. Затухание ультразвука в данной диаграмме не учтено. По безразмерной АРД-диаграмме строят размерные диаграммы для конкретных типов преобразователей. Здесь все параметры выражаются в прямых единицах. Для учета затухания ультразвука размерные диаграммы вставляют в планшет, имеющий поворотную сетку линий. Сетку поворачивают относительно оси абсцисс на угол, определяемый коэффициентом затухания , и линиями сетки пользуются вместо горизонтальных линий координат АРД-диаграммы.
АРД-диаграммы применяют для настройки чувствительности перед контролем и для определения эквивалентных размеров дефектов. Эта величина определяется как диаметр или площадь плоскодонного отражателя, расположенного на той же глубине, что и реальный дефект, и дающего одинаковую с дефектом амплитуду эхо-сигнала.
Отражение от цилиндра. Ослабление амплитуды эхо-сигнала от бесконечного протяженного цилиндра в дальней зоне преобразователя определяют из выражения
(2.5)
где d - диаметр цилиндра.
При контроле применяют эталонные образцы (СО3) в форме полуцилиндра, в центральной части которого располагают преобразователь. В этом случае в плоскости, перпендикулярной оси цилиндра, излученная энергия полностью (без учета затухания) возвращается обратно к преобразователю, а в плоскости оси цилиндра энергия расходится, как при отражении от бесконечной плоскости. Тогда в дальней зоне получаем
(2.7)
Данные образцы используют для определения акустического центра преобразователя и для оценки максимальной амплитуды эхо-сигнала. Для цилиндрических отражателей строятся также размерные АРД-диаграммы.
Все приведенные выше формулы не учитывают затухания ультразвука в акустическом тракте.
В практике контроля следует учитывать, что реальные дефекты отличаются от рассмотренных моделей неправильностью формы и шероховатостью поверхности. Они могут быть пустыми или заполненными инородными веществами. Все это оказывает влияние на ослабление амплитуды эхо-сигналов. Так, например, шероховатость поверхности отражателя ослабляет амплитуду сигнала, когда величина неровностей превосходит /3. Шлаки и другие вещества, заполняющие дефект, снижают амплитуду отраженного сигнала приблизительно пропорционально коэффициенту отражения. Если акустические характеристики основного материала и неоднородностей сравнимы, то наблюдается резкое уменьшение амплитуды эхо-сигнала.