
- •1 Системный подход при конструировании технологии производства эвм
- •1.1 Физическая и математическая суть системного подхода
- •1.2 Системный подход к технологии производства эвм
- •1.3. Системный подход к конструированию эвм
- •2 Общая характеристика процесса конструкторского проектирования эвм и систем
- •2.1 Конструкторский документ
- •2.2 Этапы процесса проектирования
- •2.3 Общие принципы конструкторского проектирования
- •2.4 Математическая модель конструкции эвм и систем
- •3 Математические модели объектов схемно – топологического конструирования
- •3.1 Модель схемы в виде неориентированного мультиграфа
- •3.2 Модель схемы в виде ориентированного мультиграфа
- •3.3 Представление схемы гиперграфом и ультрографом
- •3.4 Математические модели монтажного пространства
- •4 Компоновка типовых элементов конструкции
- •4.1 Постановка задачи компоновки. Критерии оптимизации и ограничения
- •4.2 Последовательный алгоритм разрезания схем
- •4.3 Итерационный алгоритм компоновки
- •4.4 Смешанный алгоритм компоновки
- •4.5 Алгоритм решения задачи покрытия
- •5 Размещение и трассировка
- •5.1 Постановка задачи размещения. Критерии оптимизации
- •5.2 Последовательные алгоритмы размещения
- •5.3 Улучшение размещения перестановкой модулей
- •5.4 Общая постановка задачи трассировки
- •5.4.1 Трассировка проводного монтажа
- •5.4.2 Трассировка при печатном монтаже
- •6 Конструирование печатных плат
- •6.1 Расчет элементов печатного монтажа
- •6.2 Проектирование структуры мпп
- •6.4 Особенности конструирования бис и аппаратуры на их основе
- •6.5 Конструирование эвм на микропроцессорах
- •6.6 Особенности конструирования микро и персональных эвм
- •7 Конструирование эвм с учетом надежности
- •7.1 Основные показатели надежности
- •7.2 Невосстанавливаемые эвм
- •7.3 Восстанавливаемые эвм
- •7.4 Оценка показателей надежности эвм как сложного объекта
- •7.5 Оценка надежности типовых конструкций
- •7.6 Повышение надежности резервированием
- •8 Конструирование типовых элементов учетом паразитных влияний
- •8.1 Виды линий связи и их электрические параметры
- •8.2 Конструирование линий связи с учетом эффекта отражений
- •8.3 Конструирование с учетом помех во взаимную линию связи
- •8.4 Конструирование с учетом помех по цепям управления и питания
- •9 Тепловые расчеты конструкций эвм
- •9.1 Теплообмен в эвм
- •9.2 Способы переноса тепловой энергии
- •9.2.1 Кондуктивный перенос
- •9.2.2 Конвективный теплообмен
- •9.2.3 Теплообмен излучением
- •9.3 Принцип суперпозиции температурных полей и принцип местного влияния
- •9.4 Определение теплового сопротивления типовой конструкции
- •10 Теоретические основы организации и функционирование технологических систем
- •10.1 Производственный технологические процессы, их структура, виды и типы организации
- •10.2 Технологическая подготовка производства, естпп
- •10.3 Проектирование и оптимизация тс
- •10.3.1 Методы оптимизации тс при их проектировании
- •10.3.2 Автоматизация и проектирование тп
- •11 Основные конструкторско-технологические принципы проектирования и технология изготовления полупроводниковых микросхем
- •11.1 Группа технологических процессов при производстве полупроводниковых микросхем
- •11.2 Операция фотолитографии
- •11.3 Базовая технология полупроводниковых интегральных мс
- •11.4 Технология гибридных пленочных схем
6.4 Особенности конструирования бис и аппаратуры на их основе
Тенденция развития средств ВТ и элементной базы показывают, что для построения ЭВМ различных классов необходимо разрабатывать и использовать следующее:
БИС микропроцессорных комплектов или МПБИС , которые настраиваются прямым способом для микро и персональных ЭВМ, а так же контролеров ввода/вывода.
Полузаказные БИС на основе матричных кристаллов (БМК) Применяется для центр. обработки устройств ЭВМ систем средней и высокой производительности.
заказные БИС для ЭВМ наивысшей производительности, специализированных ЭВМ
Средние интегральные схемы (СИС) со структурами пассивных компонентов R и С.
Применяется для всех классов ЭВМ.
Наиболее перспективны БМК, а так же МБИС (матричные). При проектировании МБИС или МПБИС возникают все задачи, которые были описаны ранее (трассировка, компоновка, размещение)
Кристалл БИС – многослойная пластина, на которой реализуются активные и пассивные компоненты, их межсоединения, шины питания, земли и внешние выводы.
Особенностью МБИС является то, что вначале разрабатывался и изготавливался базовый матричный кристалл БМК.
Структура БМК:
4
3
5
1
2
БМК – содержит базовые и периферийные области, ячейки которых 3 и 5 состоят из компонентов. Выводы 1 внутри ячеек должны располагаться на периферии макроячеек 5 для облегчения условий трассировки. В больших БМК используют 2 слоя соединительной металлизации: 1 слой выделяется для функционирования топологических макроячеек 5 и периферийных ячеек 3, а так же для проведения сигнальных соединений и шин питания 2; во 2 слое сигнальные соединения проводят в ортогональном направлении, там же и шины земли 4. Переходы между слоями осуществляются с помощью контактных окон. Функциональные ячейки соединяются с внешним контактом площадки 1 через периферийные элементы 3. Одновременно с конструктивным БМК разрабатывается библиотека функциональных ячеек и их топологическая реализация. Функциональная ячейка строится на основе простейших элементов и эл.-компонентов. При проектировании ЭВМ схем описывается на уровне функциональных ячеек, которые могут быть расположены в любом месте БМК благодаря его регулярности. Задача конструктора – это реализация схем на БМК, а конечная цель – разработка шаблонов межсоединений. Таким образом, для различных БИС свои металлизации межсоединений являются переменными, а комплекты фотошаблонов для производства БМК постоянными.
Повышение плотности упаковки компонентов на кристаллах, объемов, реализации на них схем, и скорости переключения элементов возникают проблемы:
Рост количества внешних выводов БИС и субблоков.
Необходимость увеличения плотности упаковки для снижения потерь из-за задержек в линиях связи.
Переход к работе в гигагерцовом диапазоне.
Рост удельной мощности.
Наиболее существенная проблема – обеспечение требуемого количества внешних выводов от числа вентилей (логических элементов) N
Правило Рента:
Nв
=
,
где =
=
2,5 - 3,5 – среднее количество входов и
выходов логического элемента.
p=0,5 - 0,75 – показатель Рента
При р=0,5 для БИС с N=1000 , 5000, 10000, 100000 требуется соотв. Nв =80 – 100,
175 – 245, 250 – 350, 1000