
- •58 Лекция 14. Масс-спектрометрия лекция 14. Масс-спектрометрия Что такое масс-спектрометрия?
- •Ионы в электрическом и магнитном полях Масса и заряд
- •Ионы в электромагнитном поле. Закон Лоренца
- •Разрешающая способность масс-спектрометрии
- •Точность измерения массы
- •Методы ионизации
- •От ионов в растворе к ионам в газовой фазе
- •Электронная ионизация
- •Ионизация полем
- •Бомбардировка быстрыми атомами
- •Плазменная десорбция
- •Ионизация лазерной десорбцией при помощи матрицы
- •Химическая ионизация при атмосферном давлении
- •Фотонная ионизация при атмосферном давлении
- •Ионизация лазерной десорбцией с поверхности кремния
- •Ионизация электрораспылением
- •Наноэлектрораспыление
- •Сравнение возможностей различных методов образования ионов
- •Масс-спектрометры Общая архитектура масс-спектрометра
- •Чувствительность
- •Динамический диапазон
- •Вакуумирование
- •Различные типы масс-анализаторов
- •Масс-спектрометры с одиночной и двойной фокусировкой
- •Квадрупольный масс-фильтр
- •Kвадрупольная ионная ловушка
- •Масс-спектрометрия с фурье-преобразованием
- •Времяпролетная масс-спектрометрия
- •Детекторы
- •Тандемная масс-спектрометрия
- •Орбитальная ловушка ионов
- •Масс-спектры биологических макромолекул Представление масс-спектра вещества и его интерпретация
- •Масс-спектры простых соединений
- •Масс-спектры биологических макромолекул
- •Нуклеиновые кислоты
- •Карбогидраты
Времяпролетная масс-спектрометрия
Анализ масс во времяпролетном масс-спектрометре (английская аббревиатура TOF-MS от Time of Flight Mass-Spectrometers) основан на том, что ионы с разными значениями m/z обладают одинаковой энергией, но разными скоростями, приобретенными в результате ускорения. Отсюда следует, что время прохождения ионов через времяпролетную базу будет различным для частиц с разной массой: легкие ионы долетят до детектора быстрее тяжелых. Из уравнения 6.1 мы получаем выражения для скорости u иона с массой m и зарядом z:
(8.3)
и для времени t, необходимого для преодоления базового расстояния L
(8.4)
Очевидно, что для времяпролетного масс-анализатора наиболее подходящими способами получения ионов будут те, которые работают в импульсном режиме: использование осколков деления ядра 252Cf и лазерный импульс подходящей частоты. При введении ионов из постоянных источников (ESI, EI, FAB и так далее) необходимо импульсное отражение пучка ионов или экстракция импульсов из источника.
Рис. 8.9. Время-пролетный масс-спектрометр.
Время-пролетный
метод обладает рядом
преимуществ по сравнению с технологиями,
использующими последовательное
сканирование спектра, ввиду «неограниченного»
диапазона масс, высокого пропускания
(детектируется большинство ионов,
попадающих в анализатор), высокой
скорости (весь спектр масс детектируется
одновременно в течение нескольких
микросекунд) и большого процента
детектируемых ионов. Между тем, большим
недостатком метода является его низкое
разрешение. Из уравнения 8.4 следует, что
величина m/z
пропорционально
,
откуда
получаем выражение для разрешающей
способности:
.
Для стандартных линейных TOF-MS-инструментов
оно составляет не более 1000.
Значительного улучшения разрешения при TOF-методе можно добиться, используя электростатическое зеркало или «рефлектрон» (rTOF-MS) и ортогональный времяпролетный масс-спектрометр (oTOF-MS).
Рис. 8.10. а) Время-пролетный масс-спектрометр с рефлектроном. б) Ортогональный время-пролетный масс-спектрометр
В основе работы рефлектронного времяпролетного масс-спектрометра лежит тот факт, что ионы с большой энергией проникают глубже в отражающее электрическое поле, находясь там дольше низкоэнергетических ионов. Поскольку при этом они вынуждены преодолевать бóльшее расстояние, ионы с высокой энергией достигнут детектора в то же самое время, что и ионы с низкой энергией. Рефлектрон служит для увеличения времени (t), которое нужно ионам, чтобы достичь детектора; при этом уменьшается распределение кинетической энергии и временнóе распределение Δt. Так как разрешение определяется как величина массы пика, деленная на его ширину или m/Δm (или t/Δt, так как m пропорциональна t), увеличение t и уменьшение Δt приводит к росту разрешения. Поэтому TOF-рефлектрон даёт более высокое разрешение по сравнению с простым прибором TOF из-за увеличения длины пути и фокусировки энергии посредством рефлектрона. Нужно отметить, что увеличенное разрешение (обычно выше 5000) и чувствительность на TOF-рефлектроне значительно уменьшаются при больших массах (обычно при m/z свыше 5000). Применение рефлектрона позволяет увеличить разрешение TOF-MS до 6000.
Благодаря методу ортогональной времяпролетной масс-спектрометрии удается состыковать времяпролетный анализатор с непрерывными источниками ионов. В приборах этого типа импульсный приложенный потенциал к выталкивающему электроду, расположенному параллельно движению ионов от источника к детектору, ускоряет фрагмент пучка ионов в направлении перпендикулярном их движению. В итоге ионы достигают второго детектора в соответствии со своей массой. После того как самые тяжелые ионы достигнут детектора, ортогональный импульс может быть повторен. При таком методе разброс в скоростях в ортогональном направлении отсутствует, а пространственный разброс определяется только шириной пучка ионов.
Под действием короткого электростатического импульса (10-100 нсек), направленного строго перпендикулярно исходному потоку, ионы будет испытывать ортогональное ускорение. Ионы отклоняются под углом 90о и попадают на детектор, работающий в режиме времени пролета. Такая геометрия спектрометра имеет ряд преимуществ, главное из которых состоит в возможности использования небольшой начальной скорости ионного пучка и как следствие этого – использование метода электрораспыления для получения исходных ионов. Все это приводит к повышению разрешающей способности и высокой линейности спектрометра. Разрешение таких инструментов составляет примерно 4000.