
- •Классификация оптико-электронных приборов (оэп)
- •1.2. Сведения из оптики
- •1.2.1. Явления, лежащие в основе работы эоп
- •1.2.2. Гомо- и гетеропереходы
- •1.2.3. Люминесценция полупроводников
- •1.2.4. Основные энергетические и световые характеристики излучения
- •1.3. Источники излучения
- •1.3.1. Светоизлучающие диоды
- •1.3.2. Лазерные диоды
- •1.3.3. Характеристики источников излучения
- •Часть 2. Структурные схемы оэп
- •2.1. Обобщенная структурная схема оэп
- •2.2. Структурные схемы и методы измерений
- •2.3. Чувствительность приборов
- •2.4. Статистические параметры сигналов в оэп
- •2.5. Оптические шумы и помехи
- •2.6. Шумы электронных устройств
- •Часть 3. Модуляция светового потока
- •Часть 4. Применение оптико-электронных приборов
- •Часть 5. Спектральные приборы
2.2. Структурные схемы и методы измерений
Обобщенная структурная схема ОЭП позволяет установить назначение отдельных его узлов, однако она не отражает связи структуры прибора с методами измерений.
Виды измерений
В зависимости от того, чем характеризуется измеряемая величина, различают: амплитудные, частотные и фазовые измерения. Измерение постоянных, а также медленно изменяющихся величин относится к амплитудным измерениям. При импульсном характере изменения величины возможны время- импульсные измерения, являющиеся во многих случаях разновидностью фазовых измерений. Измерение сводится к сопоставлению тем или иным способом измеряемой величины с ее эталоном. В приборах используются эталонные образцы, соответствующие измеряемой величине и методу измерения.
Методы амплитудных измерений, Приборы с одним оптическим каналом
Прибор, в котором излучение источника электромагнитной энергии распространяется по одному определенному оптическому пути называется одноканальным (рис.2). В оптический канал может быть установлен эталонный либо исследуемый образец. При размещении образца в оптическом канале используемый поток источника излучения частично поглощается или рассеивается.
Рис. 23. Структурная схема одноканального прибора: 1 – источник излучения;
2 – исследуемый образец; 3 – приемник; 4 – усилитель; 5 – индикатор
Измеряя прошедший поток можно получить информацию о свойствах образца:
.
Автоматизация измерений (рис. 24).
Рис. 24. Структурная схема одноканального прибора с индикатором нуля:
1 – источник излучения; 2 – поляризатор; 3 – объект измерения;
4 – анализатор; 5 – приемник; 6 – усилитель; 7 – индикатор нуля; 8 - шкала
Методы амплитудных измерений, Приборы с двумя оптическими каналами
Схема амплитудных измерений с двумя оптическими каналами показана на рис. 25.
Рис. 25. Структурная схема двухканального прибора: I , II – эталонный и измерительный каналы;
1 – источник излучения; 2 – эталон с постоянным поглощением; 3 – оптический клин; 4 – объект измерения; 5, 6 – приемники; 7 – усилитель; 8 – двигатель; 8 – шкала
Схема включения приемников производится по мостовой схеме (рис. 26).
Рис. 26. Схема включения приемников двухканальном приборе
Автоматизация измерений
На рис.6 показан способ автоматизации отсчетов. Выходное напряжение усилителя приложено к управляющей обмотке реверсивного двигателя. При неравенстве потоков на выходе усилителя появляется переменное напряжение и вал двигателя начинает вращаться. Вращение вала преобразуется в поступательное перемещение оптического клина.
Рис. 27. Структурная схема двухканального прибора с поочередным сопоставлением потоков: 1 – источник излучения; 2 – эталон с постоянным поглощением;
3 – оптический клин; 4 – исследуемый объект; 5 – диск; 6 – приемник; 7 – усилитель; 8 – двигатель; 9 – шкала; 10 – двигатель модулятора
Рис. 28. Напряжение потоков на нагрузке приемника в приборе с
сопоставлением потоков
Применение частотных измерений
Двухканальные структуры приборов используются в интерференционных приборах. Изменение интерференционной картины позволяют получать определенные сведения об объекте измерения.
Рис. 29. Схема интерференционного прибора:
1 – источник излучения; 2 – полупрозрачная пластина;
3 – неподвижное зеркало; 4 – подвижное зеркало; 5 – приемник; 6 – усилитель
Рис. 30Зависимость потока от разности оптических
путей в интерференционном приборе
Применение фазовых измерений
Поток излучения полупроводникового лазера примерно пропорционален току в его цепи. Прикладывая гармоническое напряжение к цепи лазера, можно получить изменение потока, близкие к синусоидальным. Фазы изменения потока и напряжения одинаковы. Синусоидально изменяющийся поток можно использовать для фазовых измерений. Излучение полупроводникового лазера распространяется до отражателя, установленного на расстоянии D от дальномера. Отраженное излучение возвращается к фотоприемнику (рис. 31).
Рис. 31. Схема светодальномера: а – структура устройства; б – графики напряжений;