
- •Л.Й. Дворкін, і.Г. Скрипник фізико-хімічні і фізичні методи досліджень будівельних матеріалів
- •Передмова
- •1. Основні поняття та визначення
- •1.1. Фізико-хімічний аналіз
- •1.2. Хімічні, фізичні і фізико-хімічні методи аналізу
- •1.З. Фізико-хімічні і фізичні методи досліджень
- •Фігуровського
- •2.1.1. Опис експериментальної установки
- •2.1.2. Порядок обробки результатів вимірювань
- •2.1.3. Питання самоконтролю
- •2.2. Визначення питомої поверхні дисперсних матеріалів
- •2.2.1. Суть методу та опис приладу псх-2. Робоча формула
- •2.2.2. Прилад Блейна
- •2.2.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •3. Методи дослідження структури порового простору будівельних матеріалів
- •3.1. Будова пористого матеріалу
- •3.1.1. Пікнометричний метод визначення істинної густини речовини
- •3.1.2. Визначення середньої густини твердих тіл за допомогою гідростатичного зважування
- •3.1.3. Визначення загальної, відкритої та закритої пористості твердих тіл
- •3.1.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •3.2. Метод визначення показників пористості матеріалів за кінетикою їх водопоглинання
- •3.2.1. Порядок обробки результатів вимірювань
- •3.2.2 .Питання самоконтролю
- •Література
- •4. Визначення в’язкості речовин в рідкому стані та дослідження реологічних властивостей структурованих дисперсних систем
- •4.1. Визначення умовної в'язкості рідин
- •4 Рис. 4.2. Віскозиметр .1.1. Опис експериментальної установки
- •4.2. Дослідження в’язкості рідин методом Пуазейля і Стокса
- •4.3. Дослідження в’язкості рідин методом Швидковського
- •4.3.1. Опис експериментальної установки
- •Ампула зі зразком
- •Кінематичної в'язкості
- •4.4. Дослідження реологічних властивостей структурованих дисперсних систем
- •4.4.1. Опис експериментальної установки
- •4.5. Визначення граничної напруги зсуву формовочних мас конічним пластоміром
- •4.5.1. Опис експериментальної установки
- •4.6. Питання самоконтролю
- •Література
- •5. Термічні методи дослідження матеріалів
- •5.1. Простий термічний аналіз (та)
- •5.2. Диференціальний термічний аналіз (дта)
- •5.3. Термогравіметричний аналіз (тг) та диференціальнотермогравіметричний аналіз (дтг) матеріалів
- •5.4. Ідентифікація олігомерів та полімерів як приклад застосування термографії
- •5.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •6. Методи дослідження теплофізичних властивостей матеріалів
- •6.1. Теплопровідність як явище переносу енергії
- •6.1.1 .Вимірювання теплопровідності методом відносного горизонтального шару
- •6.1.2. Опис експериментальної установки
- •6.2. Питома теплоємність будівельних матеріалів
- •6.2.1. Визначення питомої теплоємності матеріалів калориметричним методом змішування
- •6.2.2. Опис експериментальної установки
- •6.3. Калориметричні методи
- •6.3.1. Тепловиділення
- •6.3.2. Теплота гідратацій цементу
- •(За о.В. Ушеровим-Маршаком):
- •6.3.3. Види калориметрії
- •6.3.4. Термосний метод калориметрії
- •6.3.5. Ізотермічний метод калориметрії
- •6.3.6. Адіабатичний метод калориметрії
- •6.3.7. Метод розчинення
- •6.3.8. Диференціальна мікрокалориметрія
- •6.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •7. Ультразвукові методи дослідження властивостей матеріалів
- •7.1. Основні положення
- •7.2. Суть та застосування ультразвукового імпульсного методу для дослідження міцності бетону
- •7.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •8. Дослідження електрофізичних властивостей сировини та матеріалів
- •8.1. Метод електропровідності
- •8.1.1. Вимірювання електропровідності матеріалів контактним методом
- •8.2. Метод діелектрометрії
- •8.2.1. Відносна діелектрична проникність речовини та діелектричні втрати
- •8.2.2. Застосування методу діелектрометрії
- •8.2.3. Установка для вимірювання ємності та діелектричних втрат на змінному струмі
- •8.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •9. Застосування методу термо-е.Р.С. Для визначення вмісту вуглецю в сталях і чавунах та фізичні основи теорії і практики термоелектричної термометрії
- •9.1. Фізичні основи термоелектричних ефектів
- •9.1.1. Ефект Пельтьє
- •9.1.2.Ефект Томсона
- •9.1.3. Ефект Зеебека
- •9.2. Закони термоелектричних ефектів та їх застосування
- •9.3. Конструкція приладу експрес-методу термо-е.Р.С. Для визначення вмісту вуглецю в сталях і чавунах та виробах із них
- •9.3.1. Принципова і електровимірювальна схема та функціональна робота приладу.
- •9.3.2. Електрична схема тиристорного регулятора температур робочих електродів
- •9.3.3. Механічна частина приладу
- •9.3.4. Обґрунтування вибору матеріалів для виготовлення робочих електродів, наконечників, термопар і нагрівних елементів
- •Значення коефіцієнтів а, в і с та е0100 для Cu і Ag, в контакті із Fe
- •Фізичні властивості для Сu, Аg, Fe і ніхрома
- •Термоелектрична характеристика гілок тха
- •9.3.5. Калібровка приладу та його апробація
- •9.3.6. Основні конструкційні і технічні характеристики приладу
- •9.4. Області застосування методу термо-е.Р.С.
- •9.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •10. Метод рентгенографічного дослідження фазового складу сировини та матеріалів
- •10.1. Структура кристалічних речовин, дифракція рентгенівських променів та суть методу рентгенографії
- •10.2. Застосування методу рентгенографії
- •10.3. Якісний рентгенфазовий аналіз
- •10.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •11. Оптична спектроскопія
- •11.1. Атомна спектроскопія
- •11.1.1. Емісійний спектральний аналіз
- •11.1.2. Фотометрія полум'я
- •11.1.3. Атомно-абсорбційний спектральний аналіз
- •11.2. Молекулярна спектроскопія
- •11.2.1. Спектроскопія комбінаційного розсіювання
- •11.2.2. Застосування інфрачервоної спектроскопії
- •11.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •12. Метод інфрачервоної спектроскопії у дослідженні органічних і неорганічних речовин
- •12.1. Взаємодія інфрачервоного випромінювання з речовиною
- •12.2. Способи зображення спектрів пропускання та поглинання
- •12.3. Апаратура та приготування досліджуваних зразків
- •12.3.1. Спектрометр
- •12.3.2. Джерела інфрачервоного випромінювання
- •12.3.3. Монохроматори та їх оптичні характеристики
- •12.3.4. Приймачі випромінювання
- •12.3.5. Приготування досліджуваних зразків
- •12.3.6.Інфрачервоний спектрофотометр типу ur -20
- •12.4. Розшифровка інфрачервоного спектру поглинання
- •Спектри каолініту:
- •12.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •13. Оптична мікроскопія
- •13.1. Застосування оптичної мікроскопії
- •13.2.Оптична схема і принцип дії мікроскопа та основні його характеристики
- •13.3. Вимірювання лінійних розмірів об'єкта за допомогою мікроскопа
- •13.4. Методи мікроскопії
- •13.4.1. Дослідження матеріалів у прохідному світлі
- •Мікроскопа
- •13.4.2. Дослідження матеріалів у відбитому світлі
- •Мікроскопа
- •13.4.3. Метод ультрамікроскопії
- •13.4.4. Метод спостереження об'єктів у поляризованому світлі
- •13.4.5. Метод дослідження у люмінесцентному світлі та флуоресцентна мікроскопія
- •13.4.6. Методи спостереження в ультрафіолетових та інфрачервоних променях
- •13.4.7. Методи фазового та інтерференційного контрасту
- •13.4.8. Високо- і низькотемпературна мікроскопія
- •13.4.9. Телевізійна мікроскопія
- •13.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •14. Електронна мікроскопія
- •14.1. Оптична схема та вузли електронного мікроскопа
- •14.2. Роздільна здатність і збільшення електронного мікроскопа
- •14.3.Типи електронних мікроскопів
- •14.4. Методи досліджень в електронній мікроскопії
- •14.5. Методи препарування зразків для досліджень
- •14.6. Растрова електронна мікроскопія
- •14.6.1. Суть методу електронної растрової мікроскопії
- •14.6.2. Електронні растрові мікроскопи на просвічування і відбивання
- •Р ис. 14.7. Принципова схема растрового електронного мікроскопа на просвічування:
- •14.6.3. Растрова мікроскопія спеціального призначення
- •14.7. Приклади використання електронної мікроскопії
- •14.8. Питання самоконтролю
- •Література
Р ис. 14.7. Принципова схема растрового електронного мікроскопа на просвічування:
1 - автоемісійний
катод; 2 - проміжний анод; 3 - анод; 4 -
відхиляюча система для юстування пучка;
5 - діафрагма “освітлювача”; 6, 8 - системи
відхилення для розгортки електронного
зонда; 7 - магнітна довго фокусна лінза;
9 - апертурна діафрагма; 10 - магнітний
об'єктив; 11 - об'єкт; 12, 14 - системи
відхилення; 13 - кільцевий колектор
розсіяних електронів; 15 - колектор
нерозсіяних електронів; 16 - магнітний
спектрометр; 17 - відхиляюча система для
відбору електронів з різною втратою
енергії; 18 - щілина спектрометра; 19 -
колектор; ВЕ - вторинні електрони;
- рентгенівське випромінювання
Нижче об'єкта розміщені детектори - центральний і кільцевий. На перший попадають не розсіяні електрони, і після перетворення та підсилення відповідних сигналів на екрані електронно-променевої трубки з’являється так зване темнопольне зображення. За допомогою мікроскопа можна досліджувати більш грубіші об'єкти, ніж з використанням електронного мікроскопа на просвічування, оскільки зростання числа не пружно розвіяних електронів з товщиною не впливає на розсіяння (після об'єкта оптика в растровому електронному мікроскопі на просвічування відсутня). За допомогою аналізатора енергії електрони, які пройшли через об’єкт, розділяються на пружно і непружно розсіяні пучки. Кожен пучок попадає на свій детектор, і на електронно-променевій трубці спостерігається відповідне зображення, яке містить додаткову інформацію про розсіюючі властивості об'єкта. Висока роздільна здатність мікроскопа досягається при повільній розгортці, оскільки для зонда діаметром лише 2... 3 Å струм одержується досить малим.
14.6.3. Растрова мікроскопія спеціального призначення
Розроблено конструкції електронних мікроскопів для аналітичних досліджень, емісійні, дзеркальні та ін. Підвищення роздільної здатності в зображеннях неперіодичних об'єктів до 1 Å і більше дозволить регіструвати не тільки важкі, а і легкі атоми і візуально спостерігати та вивчати будову органічних речовин, що є важливим для області полімерних матеріалів. Особливо перспективним для дослідження складних об'єктів є поєднання скануючого мікроскопа з мас-спектрометром , що дозволяє одночасно із "зображенням" зразка встановити хімічний склад окремих ділянок. У мікроскопах спеціального призначення є приставки для нагрівання і деформації досліджуваного зразка, може використовуватись рентгенівський мікроаналізатор, проводитись електронний мікрокристалохімічний аналіз та ін.
14.7. Приклади використання електронної мікроскопії
За допомогою електронно-мікроскопічних досліджень методом суспензій можна вивчати глинисті і високодисперсні неглинисті мінерали фракцій менших за 1 мкм. За одержаними даними на основі характеристик морфологічних особливостей частинок і агрегатів проводиться ідентифікація окремих груп мінералів. Так, наприклад, для каолінової групи характерна шестигранна форма у площині плівки-підкладки і чіткі контури кристалів (рис. 14.8). Розміри і товщина частинок можуть змінюватись від кількох мікрон до 0,2...0,1 мкм, а товщина - від непрозорої для електронного променя до майже прозорих тонких листків. Величина частинок і їх товщина змінюються довільно: іноді зустрічаються крупні кристали каолініта та малої товщини і відносно грубі дрібні кристали, які дають чорне зображення. Кристали каолініта із добре вираженою гексагональною формою зустрічаються рідко, здебільше вони мають добре виражених лише кілька граней, проте цього достатньо для їх ідентифікації.
Г
Рис.
14.8. Каолініт
Рис.
14.9. Галуазит
Рис.
14.10. Мінерали групи гідрослюди
Для мінералів групи гідрослюди найбільш характерна пластинкоподібна форма частинок із згладженими контурами, більш-менш ізометричними у площині плівки-підкладки (рис. 14.10) і рідше видовженими, трісковидними, що характеризує різні політипні модифікації гідрослюди.
Електронно-мікроскопічна картина мінералів монтмориллонітової групи залежить головним чином від катіона, який знаходиться у поглинаючому комплексі. Для монтмориллонітів, насичених іонами натрію, характерні дуже дрібні, майже прозорі частинки, які навіть при виготовленні зразка із суспензії можуть зливатись один із одним на плівці-підкладці, утворюючи своєрідну, майже прозору плівку з окремими більш темними плямами згущення (рис. 14.11). Навпаки, монтмориллоніти, насичені кальцієм, магнієм, утворюють крупні, непрозорі в центральних частинах агрегати із своєрідними розширеннями шиповидними відростками. В загальному випадку нечіткість, розмитість контурів, хлоп’єподібність агрегатів, більш грубіших посередині і тонкіших до периферії, характерні ознаки монтмориллоніта.
І
Рис.
14.11. Монтмориллоніт
В електронній мікроскопії об’єктом досліджень здебільше є тверді тіла. В електронних мікроскопах на просвічування електрони з енергіями від 1 кеВ до 5 МеВ проходять через об'єкт, тому досліджують зразки у вигляді тонких плівок, фольги (рис. 14.12), зрізів та ін. завтовшки від 1 нм до 10 мкм (від 10 Å до 105 Å).
П
Рис.
14.14. Гвинтові дислокації на поверхні
кристала NaCl,
зазнаного термічного травлення при
температурі 773 К. Зображення одержано
методом декорування
Метод декорування дозволяє досліджувати не тільки геометричні структури поверхонь, але і мікрополя, зумовлені дислокаціями (рис. 14.14), скупченням точкових дефектів, сходинок росту кристалічних граней, доменної структури та ін. В цьому випадку на поверхню зразка спочатку напорошується дуже тонкий шар декоруючих частинок (атоми Au, Pt, молекули напівпровідників або діелектриків), які осідають переважно на ділянках концентрацій мікрополів, а потім знімається репліка із включеними декоруючими частинками.