13.3. Вимірювання лінійних розмірів об'єкта за допомогою мікроскопа

Л

Рис. 13.2. Окуляр-мікрометри:

а - лінійний, б - з сіткою

інійні розміри різних елементів структури матеріалів (кристалів, зерен, пор, тріщин та ін.) визначають за допомогою окуляр-мікрометра, який являє собою скляну пластину, на якій нанесена лінійна шкала або сітка, що вкладається в окуляр мікроскопа (рис. 13.2). Ціна поділки окуляр-мікрометра визначається окремо. Для цього на предметний столик мікроскопа поміщають об'єкт-мікрометр у вигляді скляної пластинки, на якій вигравіровано 1 мм, поділений на 100 частин (ціна поділки дорівнює 0,01 мм) і встановлюють його шкалу : паралельно шкалі окуляра-мікрометра. Визначають візуально число поділок об'єкт-мікрометра, що приходиться на 10 або 100 поділок окуляр-мікрометра. Оскільки ціна поділки об'єкт-мікрометра відома (0,01 мм), то можна вирахувати ціну поділки о куляр-мікрометра.

Приклад. При об'єктиві 20^х на 84 поділки об'єкт-мікрометра припадає 100 поділок окуляр-мікрометра. Тоді на одну поділку шкали окуляр-мікрометра припадає (100:84 = 1:х; х = 0,84) 0,84 поділки шкали об'єкт-мікрометра, що складає 0,84 ^. 0,01 = 0,0084 мм.

Для визначення розміру зерна або кристала, розміщують його так, щоб перша поділка шкали окуляр-мікрометра співпадала із краєм зерна. Потім підраховують число поділок, які вкладаються по середині його перерізу, і визначають добуток одержаної величини на ціну поділки окуляр-мікрометра.

13.4. Методи мікроскопії

Структуру досліджуваного зразка можна визначити, коли різні його частинки по різному поглинають і відбивають світло або відрізняються одна від одної (або від середовища) показниками заломлення світла. Такі властивості обумовлюють різницю амплітуд і фаз світлових хвиль, що пройшли через різні ділянки препарату, від чого, в свою чергу, залежить контрастність зображення. Тому методи спостереження, які використовують в мікроскопії, вибирають в залежності від характеру і властивостей досліджуваного зразка.

У проведенні мікроскопічних досліджень використовують чотири основних способи підготовки матеріалів: у прозорих шліфах, в імерсійних препаратах, в полірованих шліфах, в прозоро-полірованих шліфах. В перших двох методах використовують прохідне світло, в третьому - відбите, в останньому - прохідне і відбите.

13.4.1. Дослідження матеріалів у прохідному світлі

Метод світлого поля у прохідному світлі використовується при дослідженні прозорих препаратів із включеними до них абсорбуючими (поглинаючими світло) частинками, наприклад, тонкі шліфи мінералів. У відсутності досліджуваного зразка пучок променів із конденсора 6 (рис. 13.1) проходить через об'єктив 8 і дає рівномірне світлове поле поблизу фокальної площини окуляра 9. Якщо у зразку 7 є абсорбуючий об'єкт, то він частково поглинає і частково розсіює падаюче на нього світло (штрихова лінія), що і зумовлює, згідно дифракційної теоріі, виникнення зображення. Метод може бути використано і при неабсорбуючих об'єктах, коли вони розсіюють освітлюючий пучок настільки сильно, що значна частина пучка не попадає в об'єктив.

Метод темного поля у прохідному світлі (рис. 13.3) використовується для одержання зображення прозорих неабсорбуючих об'єктів. Світло із освітлювача 1 і дзеркала 2 проходить через конденсор темного поля 3 у вигляді порожнього конуса і безпосередньо в об'єктив 5 не попадає. Зображення створюється тільки світлом, розсіяним мікрочастинками препарату. У полі зору 6 на темному фоні видно світлі зображення частинок, що відрізняються від оточуючого середовища за показником заломлення світла.