
- •Курсовая работа
- •Задание на курсовую работу
- •Часть 1 Аналитический обзор Требования к подложкам имс
- •Характеристика материала
- •Обоснование применения материала
- •Технология получения материала.
- •Процесс механической обработки материала Резка слитков на подложки
- •Шлифовка
- •Процесс разделения Скрайбирование
- •Механическое скрайбирование
- •Лазерное скрайбирование
- •Ломка подложек на платы
- •Часть 2 Расчётное задание Определение суммарного припуска на механическую обработку
- •Определение исходной толщины заготовки
- •Список литературы
Министерство образования и науки Российской Федерации
Орловский Государственный Технический Университет
Кафедра «ПТЭ и ВС»
Курсовая работа
На тему: «Технология изготовления плат тонкоплёночных гибридных интегральных схем»
Дисциплина: «Материаловедение и материалы электронных средств»
Выполнил Митюрёв Д.Н.
Группа 32– В Шифр 2205
Факультет ЭиП
Курсовая работа защищена с оценкой _____________
Руководитель: Косчинская Е.В._________
Орёл 2004г.
Орловский Государственный Технический Университет
Кафедра «ПТЭ и ВС»
Задание на курсовую работу
Студент Митюрёв Д.Н. шифр 2205 группа 32 – В
Вариант №21
Таблица 1 – Исходные данные
1 |
Материал |
Стекло С - 48 |
2 |
Размер заготовки |
S = 60 × 48 мм |
3 |
Типоразмер платы |
№10 10 × 12 мм |
4 |
Толщина платы l |
0,4 мм |
5 |
Годовой план N |
1500000 штук |
6 |
Выход годного по обработке |
V1 = 80% |
7 |
Выход годного по плате |
V2 = 83% |
Содержание
Введение 5
Часть 1 Аналитический обзор 7
Требования к подложкам ИМС 7
Характеристика материала 8
Обоснование применения материала 12
Технология получения материала. 15
Процесс механической обработки материала 18
Резка слитков на подложки 18
Шлифовка 20
Таблица 5 – Микропорошки для шлифовки подложек стекла С-48 21
Процесс разделения 22
Скрайбирование 22
Механическое скрайбирование 22
Лазерное скрайбирование 23
Ломка подложек на платы 24
Часть 2 Расчётное задание 26
Определение суммарного припуска на механическую обработку 26
Определение исходной толщины заготовки 26
Определение исходной массы заготовки и массы обработанной пластины 26
Определение количества плат, получаемых из 1 подложки: 27
Определение количества материала, необходимого для выпуска годового плана: 27
Определение исходной массы материала 27
Определение полезной массы материала 27
Определение коэффициента использования материала 28
Заключение 29
Список литературы 32
Введение
В настоящее время микроэлектроника является важнейшим направлением в создании средств вычислительной техники, радиотехники и автоматики.
Основополагающая идея микроэлектроники – конструктивное объединение элементов электронной схемы – приводит к тесной взаимосвязи схемотехнических, конструкторских и технологических решений при создании интегральных микросхем (ИМС). Главная задача всех этапов проектирования – это обеспечение высокой надежности ИМС. Это заключается в устойчивой работе при низких уровнях мощности (малая допустимая мощность рассеяния), в условиях сильных паразитных связей (высокая плотность упаковки) и при ограничениях по точности и стабильности параметров элементов. Потенциальная надежность ИМС оценивается с учетом возможностей выбранного структурно-топологического варианта ИМС и его технологической реализации.
Конструктор определяет оптимальную топологию, выбирает материалы и технологические методы, обеспечивающие надежные электрические соединения, а также защиту от окружающей среды и механических воздействий с учетом технологических возможностей и ограничений. Подбирается наилучшая структура технологического процесса обработки и сборки, позволяющая максимально использовать отработанные, типовые процессы и обеспечивать высокую производительность труда, минимальные трудоемкость и стоимость с учетом конструкторских требований.
Для обеспечения качества и надежности ИМС должны быть разработаны методы контроля на всех этапах производства, в частности входного контроля основных и вспомогательных материалов и комплектующих изделий, контроля в процессе обработки, межоперационного контроля полуфабрикатов и выходного контроля готовых изделий.
В данной курсовой работе рассмотрена технология изготовления плат тонкопленочных гибридных интегральных микросхем.
Гибридные интегральные микросхемы (ГИМС) – это интегральные микросхемы, в которых пассивные элементы выполняются по толстопленочной или тонкопленочной технологии, а активные элементы являются навесными, т.е. компонентами. Такой метод проектирования ИМС обеспечивает большие производственно-экономические выгоды и расширяет схемотехнические возможности выбора оптимальных режимов работы ИМС. Степень миниатюризации ГИМС определяется количеством используемых навесных компонентов, для реализации которых необходима определенная площадь, и геометрическими размерами пленочных элементов. ГИМС создаются на подложке с хорошими изоляционными свойствами, поэтому материал подложки не оказывает влияния на электрические связи элементов.
ГИМС заняли доминирующее положение в устройствах СВЧ, причем, как показывает опыт, для устройств, работающих на частотах до 1 ГГц, с успехом можно применять толстопленочную технологию, поскольку она не требует жестких допусков и высокой точности нанесения и обработки пленок. Для устройств, работающих на более высоких частотах, когда необходимо обеспечить прецизионное нанесение пленочных элементов очень малых размеров, предпочтительнее тонкопленочная технология. ГИМС применяются также в тех случаях, когда требуется получить конденсаторы большой емкости или резисторы, предназначенные для работы с большими электрическими мощностями.