Тема 29. Исследование затухающих колебаний в

электрическом колебательном контуре при помощи

осциллографа

Задание

1. Разработать и описать методику исследования затухающих коле­баний в электрическом колебательном контуре с помощью осциллогра­фа, дав обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Исследовать теоретически и (или) экспериментально зависи­мость затухающих колебаний в электрическом колебательном контуре от параметров элементов, входящих в электрическую цепь (R, L, С).

3. Провести подробную обработку результатов измерений с указа­нием погрешностей.

Тема 30. Исследование вынужденных колебаний в

электрическом колебательном контуре при помощи

осциллографа

Задание

1. Разработать и описать методику исследования вынужденных ко­лебаний в электрическом колебательном контуре с помощью осцил­лографа, дав обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) из­меряемых величин.

2. Исследовать теоретически и (или) экспериментально зависи­мость амплитуды и характер вынужденных колебаний в электриче­ском колебательном контуре от параметров элементов, входящих в электрическую цепь (R, L, С).

3. Провести обработку результатов измерений с указанием погреш­ностей.

Тема 31. Интерференция и дифракция электромагнитных волн сантиметрового диапазона

Среди выпускаемого промышленностью России школьного Задание

1. Разработать и описать методику исследования интерференции и дифракции электромагнитных волн сантиметрового диапазона, дав те­оретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погреш­ностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Придумать и описать методику исследования проникновения электромагнитных волн сантиметрового диапазона при переходе из "оптически" более плотной в "оптически" менее плотную среду при полном внутреннем отражении волн, дав достаточно подробное тео­ретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погреш­ностей (ошибок) измеряемых величин.

3. Провести достаточно подробную обработку результатов измере­ний с указанием погрешностей.

ОПТИКА

Тема 32. Изучение центрированных оптических систем

Задание

1. Разработать и описать методику изучения центрированных оптических систем, дав обоснование методики исследования. Дать ри­сунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Исследовать явление аберрации тонких линз, т. е.

зависимости величины фокусного расстояния от длины

световой волны и радиусов кривизны поверхностей.

3. Провести подробную обработку результатов измерений с указа­нием погрешностей.

Тема 33. Моделирование оптических приборов и

определение коэффициента их увеличения (трубы Кеплера и Галилея, микроскоп)

Задание

1. Приведите схемы оптических приборов (трубы Кеплера и Гали­лея, микроскоп), ход лучей при непосредственном

наблюдении глазом и ход лучей при фотографировании

объекта. Опишите методику опре­деления коэффициента их увеличения, дав теоретическое и экспери­ментальное обоснование этой методики. Дайте анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Соберите модели оптических приборов и измерьте коэффициенты их увеличения.

3. Проведите обработку результатов измерений с указанием по­грешностей.