2.2. Влияние модуляции на интенсивность регистрируемых пиков

Влияние амплитуды модуляции на соотношение между амплитудами первой и второй гармоник и, соответственно, N(E) и dN(E)/dE для анализатора с тормозящим полем проанализировано в работе [19], в предположении, что оже-пик имеет гауссову форму:

_,

здесь i – полный ток, соответствующий данному оже-пику, s - полуширина гауссова пика на половине высоты.

Р

Рис. 32. Зависимость ошибки амплитуды первой и второй гармоник от амплитуды модуляции [19]

езультаты такого расчета для относительного отклонения от пропорциональности между сигналом первой гармоники DА₁ и амплитудой модуляции DU, а также относительного отклонения DА₂ между сигналом второй гармоники и квадратом амплитуды модуляции (DU)² для U_S = 0, т.е при максимуме энергетического распределения, и U_S = ±s, где максимальна производная распределения электронов по энергии, показана на рис. 32.

С ростом амплитуды модуляции зависимость между амплитудой первой гармоники и N(E_S) становится все более нелинейной, что обусловлено вкладом членов высших порядков в уравнении ((15). При DU = s отклонение составляет приблизительно 11%. Нелинейность зависимости амплитуды второй гармоники от квадрата амплитуды модуляции связана с влиянием вклада членов высших порядков в соотношении ((16). При тех же условиях (DU = s) ошибка в максимумах зависимости dN(E)/dE равна почти 20%. Если двойная амплитуда модуляции меньше полуширины пика, то отклонения обеих величин не превышает 6%.

2.3. Порядок выполнения работы

1. Получить вариант задания у преподавателя.

2. Изучить метод электрического дифференцирования.

3. Ознакомиться с устройством и принципом работы экспериментальной установки.

4. Ознакомиться с документацией к программе для выполнения виртуальных лабораторных работ “VR_Lab”.

5. Запустить программу для выполнения виртуальных лабораторных работ “VR_Lab”.

6. Перейти в окно с установкой.

7. В соответствии с описанием включить виртуальную лабораторную установку.

8. Установить параметры записи спектров, указанные в вариантах.

9. Записать спектр и сохранить его формате *.dat.

10. Выключить виртуальную установку, закрыть программу.

11. Произвести компьютерную обработку полученных спектров: вычесть фон из спектров, определить энергии и интенсивности пиков, зарегистрированных в спектрах.

12. Произвести анализ результатов: выявить характерные особенности в спектрах N(E) и dN/dE, сравнить интегральные и дифференциальные спектры.

13. Оформить отчет по проделанной работе в WORD.

2.4. Контрольные вопросы

1. Объясните схему экспериментальной установки, назначение отдельных элементов установки.

2. Почему анализ вторичных электронов необходимо производить в сверхвысоком вакууме?

3. Объясните устройство и принцип работы анализатора задерживающего поля.

4. Что называется кривой задержки вторичных электронов? Назовите характерные области этой кривой, дайте каждой из них краткую характеристику.

5. Объясните метод электрического дифференцирования спектров распределения электронов по энергии.

6. Как в экспериментальной установке осуществляется процедура электрического дифференцирования?

7. При каких условиях регистрируется кривая распределения электронов по энергии N(E), а при каких – ее первая производная dN/dE?

8. Почему при регистрации слабых пиков предпочтительнее регистрировать первую производную распределения электронов по энергии?

9. Какому требованию должна удовлетворять амплитуда модулирующего напряжения?