
- •Ответы на вопросы к зачету по дисциплине фхотэс
- •1. Классификация интегральных микросхем.
- •17. Диаграмма плавкости двухкомпонентной системы с простой эвтектикой (компоненты не растворимы в твердом состоянии).
- •2. Профильно-технологическая схема (пример).
- •18. Диаграмма плавкости двухкомпонентной системы с неограниченной взаимной растворимостью в жидком и твердом состоянии. («Сигара»)
- •3. Методы полупроводниковой технологии.
- •19. Диаграмма плавкости твердых растворов с ограниченной растворимостью эвтектического типа.
- •4. Диффузионное легирование. Законы диффузии.
- •20. Диаграмма плавкости твердых растворов с ограниченной растворимостью перитектического типа.
- •5. Распределение концентрации примеси при диффузии из бесконечного источника примеси. (Пример распределения примеси в приборе).
- •21. Диаграмма плавкости двухкомпонентной системы с образованием химического соединения.
- •6. Распределение концентрации примеси при диффузии из ограниченного источника примеси. (Пример распределения примеси в приборе).
- •22. Фазовые превращения в бинарной системе при изотермической диффузии. Переходный эпитаксиальный слой.
- •7. Механизмы диффузии.
- •23. Примеры использования диаграмм состояния бинарных систем.
- •8. Влияние температуры на коэффициент диффузии.
- •24. Термодинамическая модель Гиббса - Фальмера механизма зарождения и роста пленок.
- •9. Техника выполнения диффузионного легирования.
- •25. Особенности роста пленок.
- •10. Процессы взаимодействия ионов с веществом.
- •26. Эпитаксиальное наращивание пленок.
- •11. Механизмы потерь энергии при взаимодействии иона с веществом.
- •27. Молекулярно - лучевая эпитаксия.
- •Технология
- •12. Распределение пробега имплантированных ионов в твердом теле.
- •28. Марки монокристаллического кремния и эпитаксиальных структур на его основе.
- •13. Каналирование ионов.
- •29. Кинетика термического окисления кремния.
- •14. Образование и отжиг радиационных дефектов.
- •30. Химическое осаждение диэлектрических пленок.
- •15. Ядерное (трансмутационное) легирование.
- •31. Плазмохимическое осаждение диэлектрических пленок.
- •16. Фазовые превращения однокомпонентных систем. Правило фаз Гиббса.
- •32. Термическое и электронно-лучевое вакуумное осаждение пленок.
25. Особенности роста пленок.
Различают 2 этапа роста окисной пленки в атмосфере кислорода:начальный этап при низкой температуре и диффузионнный этап (высокотемпературное окисление).
Начальный этапобразования пленки связан с процессом перехода электронов от поверхностных атомов кристалла к адсорбированным на этой поверхности атомам кислорода. Со стороны кристалла возникает слой положительных ионов (слой, обедненный электронами), а со стороны газа - слой отрицательных ионов. В этом двойном слое появляется сильное электрическое поле, которое вызывает направленное к внешней поверхности пленки движение положительно заряженных атомов основного вещества (катионов). Катионы кристалла на поверхности пленки связываются с отрицательно заряженными атомами кислорода (анионами) и достраивают следующий слой пленки. На пленке вновь адсорбируются атомы кислорода, к которым из кристалла благодаря туннельному эффекту поступают электроны.
Начальная стадия формирования окисной пленки прекращается при достижении толщины пленки порядка десятка атомных слоев, что вызвано резким спадом вероятности туннельного эффекта.
В отличие от первого этапа второй этапокисления полностью определяется процессами диффузии. При высокой температуре происходит процесс диффузионного перемещения либо атомов окисляемого вещества и электронов к поверхности раздела «окисел-газ», либо атомов кислорода в объем основного вещества. Соответственно реакция окисления протекает либо на границе раздела «окисел-газ», либо на границе раздела «окисел - окисляемое вещество». В каждом конкретном случае проявляется тот или иной процесс диффузионного перемещения либо их сочетание.
10. Процессы взаимодействия ионов с веществом.
Падающий ион может обратно рассеиваться атомом или группой атомов бомбардируемого образца (1).
Импульс иона может быть достаточно велик для того, чтобы сместить поверхностный атом из положения, где он слабо связан с кристаллической структурой образца, в положение, где связь оказывается сильнее (2).
Этот процесс называется атомной дислокацией. Ионы с более высокими энергиями могут вызыватьвнутренние дислокациив толще образца (3).
Если соударяющиеся с поверхностью образца ионы передают настолько большой импульс, что полностью освобождают от связей один или несколько атомов, происходит физическое распыление(4).
Ионы могут проникать в кристаллическую решетку и захватываться там, израсходовав свою энергию (ионная имплантация)(5).
В результате химических реакций ионов с поверхностными атомами на поверхности образуются новые химические соединения, причем самый верхний слой атомов может оказаться в газообразном состоянии и испариться (химическое распыление)(6).
Бомбардирующие положительные ионы в результате процессса оже-нейтрализации могут приобретать на поверхности электроны и отражаться от нее в виде нейтральных атомов (7).
Ионы могут оказаться связанными с поверхностью образца (адсорбированными) (8).
При ионной бомбардировке металлических поверхностей в определенных условиях возможно возникновение вторичной электронной змиссии(9).
Наконец, если поверхностные атомы возбуждаются до ионизированных состояний и покидают образец, имеет место вторичная ионная эмиссия(10).