
- •Isbn 978-5-7883-0841-8
- •Isbn 978-5-7883-0841-8
- •Список использованных обозначений и сокращений
- •1. Физико-техническая специфика и проблематика нанотехнологий
- •1.1. Смысловое содержание понятия технология применительно к изделиям наноинженерии
- •1.1.1. Определение понятия антропогенной технологии
- •1.1.2. Какие макроскопические состояния «любит природа».
- •1.1.3. Общие стохастические принципы анализа нанотехнологий
- •1.2. Термодинамика процесса упорядочения материальных сред
- •1.2.1. Свободная энергия термодинамической системы как компромисс между энтропией и внутренней энергией
- •1.2.2. Анализ атомной упорядоченности с позиции принципа термодинамического равновесия физических систем
- •1.2.3. Время релаксации системы к состоянию термодинамического равновесия
- •1.2.4. Формирование требований к допустимой концентрации атомных дефектов в изделиях наноинженерии
- •1.3. Общие принципы проведения идеализации реальных объектов и процессов нанотехнологий
- •Смысловое содержание понятия «идеализация» применительно к физическим системам
- •Идеализация потенциальных энергетических диаграмм атомно-молекулярных систем
- •Идеализация состояния системы – «адиабатическое приближение»
- •Идеализация граничных и начальных условий в гетерофазных структурах
- •Время релаксации индивидуального физико-химического процесса
- •2. Формальные модели нанотехнологий
- •2.1. Классификация элементарных физико-химических процессов нанотехнологий
- •2.2. Формальное представление элементарных физико-химических процессов с позиции модели «рождение-гибель»
- •2.2.1. Классификация физико-химических процессов
- •2.2.2. Общие принципы создания моделей физико-химических процессов
- •2.3. Формальное представление нанотехнологий с позиции «векторно-броуновской» модели
- •2.3.1. Основополагающие представления
- •2.3.2. Взаимосвязь с физическими моделями технологических процессов
- •2.3.3. Специфика применения в технологических приложениях
- •2.4. Фактор необратимости реальных физико-химических процессов
- •2.5. Формальное представление нанотехнологии с позиции «стохастической» модели
- •2.5.1. Цели и задачи «стохастической» модели нанотехнологии
- •2.5.2. Определение понятия «микро- и нанотехнология» в стохастическом представлении
- •2.5.3. Показатели качества нанотехнологий на атомном уровне рассмотрения
- •2.5.4. Показатели качества технологий на микро- и макроскопическом уровне рассмотрения
- •2.5.5. Стохастические показатели качества реальных микро- и нанотехнологий
- •2.5.6. Информационный потенциал и дефицит микро- и нанотехнологий
- •2.5.7. Взаимосвязь информационного запас качества технологии и ресурса изделия наноинженерии
- •2.6. Формальные модели нанотехнологий основанные на вычислительных экспериментах с атомным уровнем разрешения
- •2.6.1. Предпосылки использования вычислительных экспериментов в технологической практике создания наноразмерных структур
- •2.6.2. Классификация методов моделирования технологических процессов
- •3. Физические основы моделирования нанотехнологий методами вероятностных клеточных автоматов
- •3.1 Основные принципы работы вероятностных клеточных автоматов.
- •3.2 Топологическая структура полигона моделирования.
- •3.3. Основные принципы временной дискретизации при моделировании процессов эволюции систем
- •3.4. Специфика моделирования процесса эволюции систем методами вероятностных клеточных автоматов
- •3.5. Общие принципы построения вычислительных алгоритмов вероятностных клеточных автоматов
- •Примеры моделирования нанотехнологий методами вероятностных клеточных автоматов
- •Часть 1
- •443086 Самара, Московское шоссе, 34.
- •443086 Самара, Московское шоссе, 34.
2.5.6. Информационный потенциал и дефицит микро- и нанотехнологий
В повседневной технологической практике часто встречаются ситуации, когда отсутствие информации затрудняет принятие оптимального решения. В этих случаях принято говорить о недостаточности информационного потенциала и, соответственно, о наличии информационного дефицита.
В соответствии с общими положениями теории информации в качестве информационного потенциала технологий уместно рассматривать параметр вида:
|
|
(2.37) |
где,
в отличие от вышеизложенного, целесообразно
рассматривать информационные энтропии
и
в удельном
представлении
(т.е. для единицы объема преобразуемого
пространства, а не фактического объема
изделия). В этом случае параметр
выступает в качестве объективной меры
эффективности (качества) преобразования
единичного
объема физического пространства.
Привязка к единице объема пространства
позволяет объективно судить об абсолютном
уровне качества различных типов
технологий как таковых, а не во взаимосвязи
со сложностью конкретных изделий, и,
соответственно, проводить сравнительную
оценку качества индивидуальных технологий
(в том числе на межотраслевом уровне).
В такой постановке вопроса параметр It выступает в качестве объективной меры абсолютного уровня достижений технологии в историческом разрезе, т.е. с учетом всего практического опыта, накопленного человечеством до настоящего момента времени. Следует отметить, что этот абсолютный уровень испытывает значительные вариации в зависимости от отраслевой направленности технологий (см. данные табл. 2.7).
Однако в повседневной производственной практике технолога интересует не столько информационный потенциал It, сколько информационный дефицит технологии It, ограничивающий выход годных для конкретного типа изделий (а не единичного объема преобразования пространства). С учетом конкретики изделия информационный дефицит технологии It может быть определен в виде
|
|
(2.38) |
где
и
– энтропийные показатели технологии
и изделия, отнесенные к изделию в целом
(а не к единице физического объема
рабочей среды или изделия).
Представляется
очевидным, что если выполняется условие
,
то имеется полное соответствие уровня
технологии целям производства данного
конкретного изделия и информационный
дефицит технологии становится равным
нулю.
С учетом выражений (2.31) – (2.33) и (2.36) информационный дефицит технологии можно связать с вероятностью выхода годных изделий с характеристическим параметром изделия :
|
|
(2.39) |
Смысл параметра It состоит в том, что он характеризует то количество информации, которое необходимо задействовать в технологии создания конкретного изделия, чтобы повысить вероятность выхода годных изделий от некоторого начального уровня Р < 1 до предельно достижимого уровня Р = 1.
Устранение информационного дефицита (с целью повышения вероятности выхода годных изделий) достигается посредством расширения метрологического обеспечения технологии. Под этим подразумевается не только расширение диагностической базы, непосредственно используемой при проведении технологических процессов, но и совокупность тех метрологических мероприятий, которые были задействованы при создании новых комплексов технологического оборудования.
Минимальное
количество индивидуальных метрологических
операций, необходимых для ликвидации
информационного дефицита текущей
технологии (обладающей изначально
показателем качества на микроскопическом
уровне
)
при производстве изделия, можно оценить
с помощью выражения:
|
|
(2.40) |
где I1 – среднее количество информации, получаемой с помощью единичной метрологической операции.
В научно-технической практике принято устанавливать параметр I1 в виде [23]:
|
|
(2.41) |
где L и l – соответственно диапазон измерения и погрешность измеряемого технологического параметра, и используя выражения (2.39) и (2.40), получаем количество метрологических операций , которыми надо дополнительно оснастить технологию для безусловного достижения 100% выхода годных изделий:
|
|
(2.42) |
Для
проведения количественных оценок можно
использовать усредненное значение
,
характерное для всех отраслей технической
деятельности. Параметр n
определяет
меру необходимых дополнительных
информационных потоков
в системе «рабочая
среда – технология – изделие»
с целью обеспечения негоэнтропийного
характера технологии создания техногенных
объектов.
В качестве иллюстрации применения выражения (2.42) для практических целей рассмотрим следующий пример. Пусть имеется изделие, реализуемое в объеме пространства V = 1 мкм3 с вероятностью выхода годных Р = 0,5 (при начальном уровне технологии). Тогда, преследуя цель достижения Р = 1, для устранения информационного дефицита технологии потребуется количество метрологических операций n порядка 102 и 104 соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.