Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ТОН .doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.05.2025
Размер:
9.83 Mб
Скачать

2.5.5. Стохастические показатели качества реальных микро- и нанотехнологий

Ввиду сложности определения параметра Ni прямыми теоретическими (конструктором изделия) и экспериментальными методами, проведем его оценку на основе использования традиционных производственных показателей. Из всей совокупности последних в качестве параметра, определяющего взаимосвязь между параметрами Ht и Hi, уместно рассматривать вероятность выхода годных изделий. Представляется очевидным, что в первом приближении вероятность выхода годных изделий P зависит от соотношения между избирательностью технологии t и избирательностью i , заложенной конструктором изделия для безусловного (P = 1) достижения функционального качества устройства (на практике, как правило, выполняется условие t < i ):

.

(2.34)

С учетом выражения (2.30) и (2.34) для необходимой энтропии единичного размещения hi, при условии i >> 1 (что имеет место для случаев микро- и нанотехнологий) имеем

.

(2.35)

В табл. 2.9 представлены значения параметров i и hi, в зависимости от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств.

Т а б л и ц а 2.9. Зависимость избирательности и энтропии единичного размещения hi от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств (при значении m=100)

Уровень технологии

Показатель

Вероятность выхода годных устройств

10-3

10-2

10-1

0,5

1,0

1

Перспективный (нано:  t = 1010)

hi

1,510-12

1,41011

1,310-10

610-10

1,210-9

i

1013

1012

1011

21010

1010

2

Высокий

(микро:  t = 108)

hi

1,310-10

1,210-9

1,110-8

5,210-8

10-7

i

1011

1010

109

210-8

10-8

Согласно данным табл. 2.9 следует, что достижение приемлемой в промышленной практике эффективности производства (Р > 0,1) возможно для изделий с показателями i  1011 и 109 соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.

В табл. 2.10 представлены значения Ni в зависимости от объема и вероятности выхода годных устройств, полученные на основании данных табл. 2.9.

Т а б л и ц а 2.10. Зависимость количества реализаций Ni от физического объема и вероятности выхода годных устройств (при m= 100)

Уровень

технологии

Объем,

мкм3

Вероятность выхода годных устройств

10-3

10-2

10-1

0,5

1,0

1

Перспективный

(нанотехнологии:

t = 1010)

1

31

(14)

(130)

(620)

(103 )

10-3

1,00

1,03

1,34

4,23

15,8

10-6

1,00

1,00

1,00

1,00

1,00

2

Высокий

(микротехнологии:

t = 108)

1

(130)

(103 )

(104 )

(104 )

(105 )

10-3

1,34

15,8

(11)

(52)

(102 )

10-6

1,00

1,00

1,02

1,12

1,26

Примечание: запись вида (14) означает, что lgNi = 14.

Наличие в табл. 2.10 значений Ni близких единице свидетельствует о том, что для данных позиций конструктором закладывается, а технологу необходимо реализовать (при приемлемой вероятности выхода годных изделий) практически вырожденные конструкции, которым соответствуют единичные реализации размещения атомов. В то же время следует отметить, что для современных устройств (V > 1 мкм3) количество реализаций Ni при P > 0,1 достигает значений Ni >10130.

В свете вышеизложенного весьма важным моментом является установление взаимосвязи между сложностью изделия (закладываемой конструктором на этапе проектирования) и уровнем технологии, необходимым для обеспечения заданного выхода годных изделий. Указанная взаимосвязь может быть установлена на основании выражений (2.31) ,(2.33) и (2.34) в виде

.

(2.36)

Последнее выражение позволяет определить эффективность согласования конструкторских решений (параметр С) с технологическими возможностями изготовления устройств (параметр К) для типичных производственных ситуаций, удовлетворяющих условию . Это условие позволяет обеспечить нормировку параметра P в виде 0 <P <1. При выполнении условия (что представляется маловероятным для случая микро- и нанотехнологий) имеет место: P = 1.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]