
- •Isbn 978-5-7883-0841-8
- •Isbn 978-5-7883-0841-8
- •Список использованных обозначений и сокращений
- •1. Физико-техническая специфика и проблематика нанотехнологий
- •1.1. Смысловое содержание понятия технология применительно к изделиям наноинженерии
- •1.1.1. Определение понятия антропогенной технологии
- •1.1.2. Какие макроскопические состояния «любит природа».
- •1.1.3. Общие стохастические принципы анализа нанотехнологий
- •1.2. Термодинамика процесса упорядочения материальных сред
- •1.2.1. Свободная энергия термодинамической системы как компромисс между энтропией и внутренней энергией
- •1.2.2. Анализ атомной упорядоченности с позиции принципа термодинамического равновесия физических систем
- •1.2.3. Время релаксации системы к состоянию термодинамического равновесия
- •1.2.4. Формирование требований к допустимой концентрации атомных дефектов в изделиях наноинженерии
- •1.3. Общие принципы проведения идеализации реальных объектов и процессов нанотехнологий
- •Смысловое содержание понятия «идеализация» применительно к физическим системам
- •Идеализация потенциальных энергетических диаграмм атомно-молекулярных систем
- •Идеализация состояния системы – «адиабатическое приближение»
- •Идеализация граничных и начальных условий в гетерофазных структурах
- •Время релаксации индивидуального физико-химического процесса
- •2. Формальные модели нанотехнологий
- •2.1. Классификация элементарных физико-химических процессов нанотехнологий
- •2.2. Формальное представление элементарных физико-химических процессов с позиции модели «рождение-гибель»
- •2.2.1. Классификация физико-химических процессов
- •2.2.2. Общие принципы создания моделей физико-химических процессов
- •2.3. Формальное представление нанотехнологий с позиции «векторно-броуновской» модели
- •2.3.1. Основополагающие представления
- •2.3.2. Взаимосвязь с физическими моделями технологических процессов
- •2.3.3. Специфика применения в технологических приложениях
- •2.4. Фактор необратимости реальных физико-химических процессов
- •2.5. Формальное представление нанотехнологии с позиции «стохастической» модели
- •2.5.1. Цели и задачи «стохастической» модели нанотехнологии
- •2.5.2. Определение понятия «микро- и нанотехнология» в стохастическом представлении
- •2.5.3. Показатели качества нанотехнологий на атомном уровне рассмотрения
- •2.5.4. Показатели качества технологий на микро- и макроскопическом уровне рассмотрения
- •2.5.5. Стохастические показатели качества реальных микро- и нанотехнологий
- •2.5.6. Информационный потенциал и дефицит микро- и нанотехнологий
- •2.5.7. Взаимосвязь информационного запас качества технологии и ресурса изделия наноинженерии
- •2.6. Формальные модели нанотехнологий основанные на вычислительных экспериментах с атомным уровнем разрешения
- •2.6.1. Предпосылки использования вычислительных экспериментов в технологической практике создания наноразмерных структур
- •2.6.2. Классификация методов моделирования технологических процессов
- •3. Физические основы моделирования нанотехнологий методами вероятностных клеточных автоматов
- •3.1 Основные принципы работы вероятностных клеточных автоматов.
- •3.2 Топологическая структура полигона моделирования.
- •3.3. Основные принципы временной дискретизации при моделировании процессов эволюции систем
- •3.4. Специфика моделирования процесса эволюции систем методами вероятностных клеточных автоматов
- •3.5. Общие принципы построения вычислительных алгоритмов вероятностных клеточных автоматов
- •Примеры моделирования нанотехнологий методами вероятностных клеточных автоматов
- •Часть 1
- •443086 Самара, Московское шоссе, 34.
- •443086 Самара, Московское шоссе, 34.
2.5.4. Показатели качества технологий на микро- и макроскопическом уровне рассмотрения
Непосредственный анализ энтропийных показателей качества на макроскопическом уровне рассмотрения сопряжен со значительными трудностями, обусловленными необходимостью учета условных энтропий всевозможных реализаций атомных последовательностей длиной N. Однако учитывая тот факт, что в реальной технологической практике создания элементов конструкций микро- и наноразмерных устройств значение параметра удовлетворяет условию >107 (N >106, при минимальном объеме элементов устройства более 10-6 мкм3), можно считать, что технологический процесс является энтропийно устойчивым.
Понятие энтропийной устойчивости технологических процессов является достаточно новым в производственной практике, поэтому его целесообразно рассмотреть в более подробном представлении. Если технологический процесс является стационарным, то вероятности размещения индивидуальных атомов не претерпевают изменений во времени. Отсюда следует, что энтропия единичного размещения ht будет также сохранять своё постоянство во времени. С практической точки зрения это означает, что технология производства изделия будет «законсервирована» во времени, то есть вероятность выхода годных изделий становится также независимой от времени. Именно это обстоятельство имеется в виду, когда говорится об энтропийной устойчивости технологических процессов.
Принимая во внимание допущение о наличии фактора энтропийной устойчивости технологии, можно, согласно теореме об асимптотической равновероятности индивидуальных случайных реализаций, полное множество возможных реализаций, включающих в себя цепочку из N атомов (элементов), представить в виде суммы двух частных подмножеств [19]:
одно из этих подмножеств, со значительной мощностью множества, имеет практически нулевую суммарную вероятность его проявления;
другое подмножество, с существенно меньшей мощностью множества, состоит из достаточно ограниченной совокупности равновероятных реализаций.
На основании теоремы об асимптотической равновероятности индивидуальных случайных реализаций, для энтропийно устойчивого технологического процесса, используемого при создании атомной структуры содержащей N элементов (атомов), имеем:
|
|
(2.32) |
где Nt – мощность множества равновероятных реализаций с учетом фактора избирательности технологии.
В табл. 2.8 представлены значения энтропии Ht в зависимости от физического объема устройства и уровня технологии, используемого при его создании.
Т а б л и ц а 2.8. Зависимость энтропии макроскопических объектов Ht от их объема и уровня технологии (при m= 100)
№ |
Уровень технологии |
Объем устройства |
|||
1мм3 |
1мкм3 |
10-3 мкм3 |
10 -6 мкм3 |
||
1 |
Перспективный
(нанотехнология –
|
11015 |
1103 |
1100 |
110-3 |
2 |
Высокий
(микротехнология –
|
11017 |
1105 |
1102 |
110-1 |
3 |
Случайный
( |
21024 |
21012 |
2109 |
2106 |
Использование выражения (2.32) приводит к равенству показателей качества технологии на микро- и макроскопических уровнях рассмотрения. Представляется очевидным, что в реальной производственной практике показатель качества технологии на макроскопическом уровне рассмотрения должен быть непосредственно связан со сложностью изделия (см. ниже выражение (2.33)). С позиций энтропийного подхода в качестве объективной меры сложности устройства C следует принять показатель вида
|
|
(2.33) |
где
– энтропия
в отсутствие технологии как таковой;
– энтропия
реализаций, обеспечивающих функциональное
качество устройств.
Определение значения параметра Ni относится к проблематике конструктора изделия. Следует, однако, отметить, что в настоящее время конструктор не готов к такой постановке вопроса и оперирует в своей деятельности макроскопическими параметрами (материальных сред и устройств) термодинамического характера. Подобный подход приемлем для устройств и технологий их создания при значениях избирательности <104 , для которых не играют существенной роли эффекты флуктуационной природы. В противном случае становится проблематичным использование в конструкторско-технологической практике представлений континнуального характера. В этой связи возможность объединения микро- и макроскопических подходов в рамках единой методологии рассмотрения является позитивным моментом энтропийных моделей технологии создания изделий, в особенности для устройств микро - и наноинженерии.