
- •Министерство образования и науки республики казахстан казахский агротехнический университет им. С. Сейфуллина
- •Учебно-методический комплекс для специальности
- •5В012000 «профессиональное обучение»
- •Предисловие
- •Распределение учебного времени
- •5. Краткое описание курса
- •5.1 Цели изучения курса оенд:
- •5.2 Задачи изучения курса:
- •6. Содержание курса
- •6.1 Перечень лекционных занятий
- •8. Список литературы Основная литература
- •Дополнительная литература
- •9. Политика курса
- •10. Информация об оценке знаний
- •Политика выставления оценок
- •Шкала оценки знаний студентов
- •Тема 1. Элементы кинематики
- •Тема 2. Динамика частиц
- •Тема 3. Работа и энергия
- •Тема 4. Твердое тело в механике
- •Тема 5. Физика колебаний
- •Тема 6. Молекулярно - кинетическая теория идеального газа
- •Тема 7. Основы термодинамики
- •Тема 8. Электростатика
- •Тема 9. Постоянный электрический ток
- •Тема 10. Магнитное поле в вакууме и в веществе
- •Тема 11. Явление электромагнитной индукции
- •Тема 12. Основы теории Максвелла для электромагнитного поля
- •Тема 13. Волновая оптика
- •Тема 14. Квантовая природа излучения
- •Тема 15. Элементы квантовой физики атомов
- •Элементы физики атомного ядра и элементарных частиц
- •Изучение движения тел по наклонной плоскости
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Изучение собственных колебаний пружинного маятника
- •Натуральный логарифм этого отношения называется логарифмическим декрементом затухания:
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение момента инерции маятника максвелла
- •На маятник действуют две силы: сила тяжести ft, направленная вертикально вниз и сила упругости двух нитей 2т (рис.2).
- •Порядок работы
- •Определение коэффициента вязкости жидкости методом стокса
- •Порядок работы
- •Определение отношения удельных теплоемкостей газа методом адиабатического расширения
- •1.Электроизмерительные приборы и их классификация
- •1.2. Классификация приборов по принципу действия
- •1.3.Характеристики электроизмерительных приборов
- •1.4.Амперметры, вольтметры, гальванометры
- •1.5.Вспомогательные электрические приборы
- •2. Правила работы с электрическими схемами
- •Для соблюдения техники безопасности при работе с электрическими схемами следует:
- •3.Измерения и обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Определение сопротивления проводников с помощью мостиковой схемы
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 28 определение горизонтальной составляющей напряженности магнитного поля земли
- •Контрольные вопросы
- •Исследование процесса разряда конденсатора через сопротивление
- •Лабораторная работа № 41 определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
- •Лабораторная работа № 44 изучение поляризации света
- •Снятие вольтамперной характеристики фотоэлемента
- •Зависимость силы тока от прило-
- •Задачи для самостоятельной работы
- •Вопросы экзаменационных тестов Механика
- •Колебания и волны
- •Молекулярная физика и термодинамика
- •Электростатика
- •Постоянный электрический ток
- •Электромагнетизм
- •Оптика и квантовая физика
- •Основная литература
- •Дополнительная литература
- •1. Основные физические постоянные (округленные значения)
- •2. Плотность твердых тел
- •3. Некоторые свойства твердых веществ
- •4. Плотность жидкостей
- •5. Некоторые свойства жидкостей
- •6. Плотность газов (при нормальных условиях)
- •Алия Кенжебековна Мукашева
Лабораторная работа № 41 определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
Ц е л ь: изучение явления дифракции света
П р и б о р ы: дифракционная решетка, проекционный фонарь, экран с миллиметровой шкалой
Т е о р и я м е т о д а
Явления, возникающие при распространении света в среде с резко выраженными неоднородностями, получили название дифракции света. В более узком смысле, под дифракцией понимают огибание волнами препятствий.
Явление дифракции можно объяснить, пользуясь принципом Гюйгенса-Френеля: каждая точка пространства до которой доходит световое возбуждение становится вторичным источником полусферических волн, огибающая которых представляет фронт вторичной волны.
Если на щель падает поток параллельных лучей (рис.1), то после прохождения щели фронт вторичных волн плоский только в средней части, а по краям искривляется. Таким образом, свет попадает за непрозрачный экран.
Дифракционную картину можно рассчитать, применив метод зон Френеля. Пусть на щель шириной а падает поток параллельных лучей (рис.2). После прохождения щели свет распространяется по разным направлениям. Выберем произвольное направление лучей под углом j к первоначальному. Опустим перпендикуляр из точки А на луч 2.
АС - фронт вторичной волны
ВС = D - оптическая разность хода лучей
Из треугольника АВС найдём, что оптическая разность хода D = аsinj. Отложим на оптической разности хода отрезки, равные l/2. Пусть таких отрезков уместилось 2. Проведём из точки деления прямую, параллельную фронту АС до щели. Тогда щель также разобьется на две части или две зоны - зоны Френеля. Каждая зона посылает колебания в противофазе с соседней. Если на пути лучей прошедших через щель поставить собирающую линзу, то она соберет лучи в фокальной плоскости в точке M. Колебания в точку М придут в противофазе и результирующая будет равна нулю и точка М не будет освещена. Отсюда вытекает условие минимума: если на открытой части волнового фронта укладывается четное число длин полуволн, то в наблюдаемой точке свет будет ослаблен (погашен), т.е.
а
sin
j
= 2k
k
= 0,1,2…
Если на открытой части волнового фронта укладывается нечетное число зон Френеля (рис.3), то в наблюдаемой точке свет будет усилен, или, если на оптической разности хода укладывается нечетное число полуволн,
то в наблюдаемой точке свет будет усилен т.е.
а sin j = (2k +1) k = 0,1,2…
Рис.1
Рис. 2
Рис.3
Рис.4
Рис.5
Если взять не одну щель, а несколько, т.е. дифракционную решетку (рис.4), то на каждой щели будет наблюдаться явление дифракции. Лучи прошедшие через все щели дифракционной решетки, собираются линзой в одной точке, т.е., интерферируют. Условие максимума интерференции наблюдается при четном числе длин полуволн, укладывающихся на оптической разности хода.
D = (а+b) sinj - оптическая разность хода
Тогда (а+b) sinj = kl - условие максимума дифракционной решетки где k = 1,2,3…
Если на дифракционную решетку падает белый свет, то на экране наблюдается дифракционный спектр. Из условия максимума дифракционной решетки можно определить длину волны
l
=
На рисунке 5 приведена схема установки. Здесь L -расстояние от дифракционной решетки до экрана. S - источник света, А - щель, 0-объектив осветителя, Д - дифракционная решетка, Э - экран, l - расстояние от центральной полосы до середины исследуемой линии.
В
связи с малостью угла отклонения
sin
j
»
tqj
=
.
Тогда
l
=
где а+b = 1/100 мм - постоянная дифракционной решетки.
П о р я д о к р а б о т ы
1. Включить лампочку проекционного фонаря и получить на экране центральную белую полосу и спектры 1-го и 2-го порядка.
2. Измерить расстояние от центральной полосы до фиолетовой полосы в спектре 1-го порядка и расстояние L от дифракционной решетки до экрана.
3. Повторить измерения для зелёного и красного цвета в спектрах 1-го и 2-го порядка и вычислить длины волн для каждого цвета:
4.
Вычислить относительную погрешность
5. Результаты измерений и вычислений занести в таблицу:
Цвет исследуемой полосы |
k |
l |
l |
<l > |
Dl |
DL |
|
<Dl> |
l = <l>±<Dl> |
фиолетовый |
1 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
зеленый |
1 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
красный |
1 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
К о н т р о л ь н ы е в о п р о с ы
1. Что такое дифракция? Каковы условия наблюдения дифракции?
Виды дифракции (дифракция Френеля, дифракция Фраунгофера).
2. В чем заключается принцип Гюйгенса - Френеля? Описать метод зон
Френеля.
3. Указать оптическую разность хода между лучами от одной щели и от
дифракционной решетки.
4. Записать условия максимума и минимума для одной щели и
дифракционной решетки.
5. Начертить график распределения интенсивности максимумов от одной и
многих щелей.