
- •1.Электронная теория проводимости. Основные понятия и соотношения.
- •2.Электронная теория проводимости. Классиф. Веществ по проводимости.
- •3. Виды электрической проводимости и их характеристики.
- •4. Основные методы измерения удельного сопротивления. Условия применимости метода Ван-дер-Пау.
- •5. Основные методы ИзмерениЯ удельного сопротивления. Условия применения 2х-зондовОго методА.
- •6. Измерение удельного сопротивления однозондовым методом
- •7.Измерение удельного сопротивления 4-х- зондовым методом
- •8. Бесконтактные методы измерения удельного сопротивления.
- •9. . Измерение подвижности и концентрации носителей заряда
- •10. Эффект Холла
- •11. Измерение эдс Холла.
- •12. Измерение эдс Холла методом Ван-дер-Пау
- •13. Методы измерения тока Холла.
- •14. Измерение подвижности методом магнитосопротивления
- •15.Виды диэлектриков и диэлектрическая проницаемость различных в-в.
- •16. Измерение диэлектрической проницаемости методом баллистического гальванометра.
- •17.Изменения диэлектрической проницаемости мостовым методом.
- •18.Измерения диэлектр. Проницаем. Жидкости
- •19. Измерения диэлектрической проницаемости жидкости абсолютным методом.
- •20.Измерение диэлек. Прониц. Порошков м-дом погружения.
- •21. Измерения диэлектрической проницаемости (дп) порошков методом прямого измерения.
- •22.Измерения диэлектрической проницаемости твердых тел.
15.Виды диэлектриков и диэлектрическая проницаемость различных в-в.
Диэлектрики — вещества, плохо проводящие электрические ток, так их удельноесопротивление находится в пределах 104 — 1018 Ом∙м. В тоже время у металлов удельноесопротивление находится в пределах 10-8‒10-6 Ом∙м. Кроме того, создаваемое внешнимиисточниками и поддерживаемое в металлах постоянное электрическое поле вызываетнаправленное перемещение зарядов, т. е. электрический ток, а в диэлектриках это полеприводит к перераспределению электрических зарядов и появлению (или изменению)электрического дипольного момента в любом объѐме вещества, т. е. его п о л я р и з а ц и и
16. Измерение диэлектрической проницаемости методом баллистического гальванометра.
Величина статической диэлектрической проницаемости ε', может быть определена по емкости, измеренной методом баллистического гальванометра, который позволяет измерять диэлектрическую проницаемость на постоянном токе .Данный метод основан на том, что исследуемая емкость заряжается до строго определенного напряжения и затем разряжается на баллистический гальванометр. Отклонение указателя пропорционально количеству электричества, прошедшего через гальванометр (гальванометр обычно калибруется в единицах заряда). Емкость конденсатора вычисляют по известному заряду и напряжению на обкладках: С= Q/U.
Метод обычно применяют для веществ с малой проводимостью.
Измерения
диэлектрической проницаемости в
переменных полях позволяют получить
более широкую информацию о структуре
и свойствах веществ. Мостовые методы
измерения диэлектрической проницаемости
и тангенса угла диэлектрических потерь
реализуются на переменном
токе
и основаны на использовании различных
модификации моста Уитстона.
Мост питается переменным напряжением с некоторой частотой. При условии равновесия моста уравновешивается с помощью R3 и С4) величина искомой емкости и тангенс угла потерь определяются по формулам: Сx = С2 •( R4 / R3 ) и tg δ = ω•R4•С4.При работе простых мостов на высоких частотах возникает ряд трудностей, поэтому для измерений используются ихболее сложные модификации, двойные мосты и т. д. Мостовые схемы, работающие при высоких частотах, требуют тщательного экранирования и компенсации индуктивностей и емкостей линий связи.
17.Изменения диэлектрической проницаемости мостовым методом.
Измерения диэлектрической проницаемости в переменных полях представляют значительно больший интерес. Это связано с тем, что они позволяют получить более широкую информацию о структуре и свойствах веществ. Мостовые методы измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь реализуются на переменном токе и основаны на использовании различных модификаций моста Уитстона (рис. 2.4).
Мост питается переменным напряжением с некоторой частотой. При условии равновесия моста (уравновешивается с помощью R3 и С4) величина искомой емкости и тангенс угла потерь определяются по формулам
Сх=С2R4/R3
tgδ=ωR4С4
При работе простых мостов на высоких частотах возникает ряд трудностей, поэтому для измерений используются их более сложные модификации, двойные мосты и т. д. Мостовые схемы, работающие при высоких частотах, требуют тщательного экранировании и компенсации индуктивностей и емкостей линий связи.
Р
K
ис 2.4 Схема измерительного моста
Схема измерений с баллистическим гальванометром
C
