
- •1.Электронная теория проводимости. Основные понятия и соотношения.
- •2.Электронная теория проводимости. Классиф. Веществ по проводимости.
- •3. Виды электрической проводимости и их характеристики.
- •4. Основные методы измерения удельного сопротивления. Условия применимости метода Ван-дер-Пау.
- •5. Основные методы ИзмерениЯ удельного сопротивления. Условия применения 2х-зондовОго методА.
- •6. Измерение удельного сопротивления однозондовым методом
- •7.Измерение удельного сопротивления 4-х- зондовым методом
- •8. Бесконтактные методы измерения удельного сопротивления.
- •9. . Измерение подвижности и концентрации носителей заряда
- •10. Эффект Холла
- •11. Измерение эдс Холла.
- •12. Измерение эдс Холла методом Ван-дер-Пау
- •13. Методы измерения тока Холла.
- •14. Измерение подвижности методом магнитосопротивления
- •15.Виды диэлектриков и диэлектрическая проницаемость различных в-в.
- •16. Измерение диэлектрической проницаемости методом баллистического гальванометра.
- •17.Изменения диэлектрической проницаемости мостовым методом.
- •18.Измерения диэлектр. Проницаем. Жидкости
- •19. Измерения диэлектрической проницаемости жидкости абсолютным методом.
- •20.Измерение диэлек. Прониц. Порошков м-дом погружения.
- •21. Измерения диэлектрической проницаемости (дп) порошков методом прямого измерения.
- •22.Измерения диэлектрической проницаемости твердых тел.
9. . Измерение подвижности и концентрации носителей заряда
Для определения концентрации и подвижности носителей заряда необходимо измерить проводимость образца и постоянную Холла. Измерения обычно проводят следующим образом: на верхней грани образца размещают два зонда 1 и 2 вдоль направления линий тока, а со стороны нижней грани устанавливают зонд 3, встречный одному из них. С помощью зондов 1 и 2 измеряют проводимость образца по двухзондовому методу, а зонды 1 и 3 служат для измерения холловской разности потенциалов.
Ez=Uн/b – холловское электрическое поле
j=I/S=I/bd – плотность тока
Холловская разность потенциалов:
U
н/b=Rн*I*B/bd
Uн=Rн*IB/d
Rн=Uн*d/IB
По измеренному значению Rн находится конц-ция носителей n, а затем из соотношения μ= Rн*σ вычисляется холловская подвижность. Если материал содержит 2 типа носителей заряда, определить их конц-wb. И подвижность с помощью эффекта Холла невозможно.Носители заряда, движущиеся со средней скоростью, не испытывают влияния силы Лоренца вследствие компенсирующего воздействия поля Холла, поэтому траектория их движения в магнитном поле остается неизменной. Но носители, скорость которых больше или меньше средней, будут отклоняться в разные стороны, скорость их движения вдоль продольного поля уменьшится, что эквивалентно возрастанию удельного сопротивления образца. Этот эффект называется поперечным магнитосопротивлением.Однако наибольшую погрешность в измерения обычно вносит напряжение неэквипотенциальности, причина появления которого: если зонды 1 и 3 расположены точно друг напротив друга, то при отсутствии магнитного поля они находятся на одной экви потенциальной поверхности и напряжение между ними равно нулю. Если между ними есть некоторое смещение δ, то они находятся на разных эквипотенциальных поверхностях и даже в отсутствие магнитного поля между ними есть некоторое напряжение неэквипотенциальности Uδ:
Uδ(B=0)=1/σ*Iδ/Ld, причем Uδ зависит от В.
Если образцы имеют произвольную форму либо пленочные образцы, то используют метод Ван-Дер-Пау, для реализации которого используются однородные по толщине образцы, имеющие 4 точечных контакта, расположенных по периметру образца.
Постоянная Холла:
μ= Rн/ρ – подвижность, где ρ-удельное сопрот-ние
Для измерения подвижности применяют метод геометрического магнитосопротивления, когда использование других методов невозможно.
Магниторезистивный эффект возникает вследствие искривления пути носителей заряда в магнитном поле и отклонения направления их движения от направления продольного электрического поля. На магниторезистивном эффекте основан метод измерения подвижности носителей заряда по геометрическому магнитосопротивлению.Сущность этого эффекта : в центральной части короткого и широкого образца магнитное поле уменьшает удельную проводимость в (1+μ2*B2) раз.Метод магнитосопротивления: на исслед. образец наносятся омические контакты большой площади и через ник протекают электрический ток Ix (вдоль оси х). В поперечном магнитном поле (вдоль оси z) в образце возникает холловский ток Iy. В данном случае холловский ток не компенсируется холловской разностью потенциалов, так как при геометрии образца, когда d/L<<1, токовые контакты закорачивают холловское поле.
L
+
d
Результирующий ток в образце будет направлен под некоторым углом к току Iх, что приведет к изменению сопротивления μ образца вдоль оси х.
μm=1/B*
- магниторезистивная подвижность
где В – индукция магнитного поля; R(B) - изменение сопротивление образца, вызванное магнитным полем с индукцией В; R(0) – сопротивление образца.
Для того чтобы метод геом. магнитосопротивления обеспечивал высокую точность измерений, сопротивление контактов должно быть минимальным и пренибрежимо малы по сравнению с сопротивлением исследуемого образца.