
- •1.Электронная теория проводимости. Основные понятия и соотношения.
- •2.Электронная теория проводимости. Классиф. Веществ по проводимости.
- •3. Виды электрической проводимости и их характеристики.
- •4. Основные методы измерения удельного сопротивления. Условия применимости метода Ван-дер-Пау.
- •5. Основные методы ИзмерениЯ удельного сопротивления. Условия применения 2х-зондовОго методА.
- •6. Измерение удельного сопротивления однозондовым методом
- •7.Измерение удельного сопротивления 4-х- зондовым методом
- •8. Бесконтактные методы измерения удельного сопротивления.
- •9. . Измерение подвижности и концентрации носителей заряда
- •10. Эффект Холла
- •11. Измерение эдс Холла.
- •12. Измерение эдс Холла методом Ван-дер-Пау
- •13. Методы измерения тока Холла.
- •14. Измерение подвижности методом магнитосопротивления
- •15.Виды диэлектриков и диэлектрическая проницаемость различных в-в.
- •16. Измерение диэлектрической проницаемости методом баллистического гальванометра.
- •17.Изменения диэлектрической проницаемости мостовым методом.
- •18.Измерения диэлектр. Проницаем. Жидкости
- •19. Измерения диэлектрической проницаемости жидкости абсолютным методом.
- •20.Измерение диэлек. Прониц. Порошков м-дом погружения.
- •21. Измерения диэлектрической проницаемости (дп) порошков методом прямого измерения.
- •22.Измерения диэлектрической проницаемости твердых тел.
8. Бесконтактные методы измерения удельного сопротивления.
Бесконтактные
методы измерения сопротивления относятся
к неразрушающим, т.е. для измерений не
надо изготавливать образцы специальной
геометрической формы, не надо наносить
контакты и т.д. В качестве бесконтактных
наиболее часто применяют индуктивный
и емкостной методы. Для измерения
удельного сопротивления индуктивным
методом используют катушку индуктивности,
по которой пропускают переменный ток,
а также регистрирующее устройство,
позволяющее определять значение и фазу
этого тока. При измерениях в зависимости
от типа катушки исследуемый образец
либо помещают внутрь катушки, либо
катушку прижимают к поверхности
исследуемого образца. В обоих случаях
осуществляется индуктивная связь
образца с катушкой. Исследуемый образец
влияет на электрические параметры
катушки индуктивности, в результате
чего протекающий через нее ток несет
определенную информацию о свойствах
образца.Р
ассмотрим
качественную картину реагирования
катушки на образец. При помещении
цилиндрического образца в магнитное
поле катушки в нем индуцируется вихревой
ток, плотность которого падает в
направлении к центру. При этом образец
можно представить как катушку
индуктивностью L2
с сопротивлением
R2.
Т.обр, катушку вместе с образцом можно
представить в виде эквивалентной схемы
связанных контуров с коэффициентом
взаимной индукции М. Изменение параметров
катушки при ее взаимодействии с образцом
определяют следующим образом: активное
сопротивление катушки возрастает:
Индуктивное сопротивление катушки уменьшается:
Активное и индуктивное сопротивление катушки зависят от эквивалентного сопротивления образца R2, которое связано с его удельным сопротивлением. Эта зависимость дает возможность, измеряя изменение активного и индуктивного сопротивления катушки по заранее полученным калибровочным зависимостям, определять удельное сопротивление образца. Метод пригоден для измерения удельного сопротивления в диапазоне от 10-4 до 2 Ом•см (на высокоомных образцах малые индукционные токи приводят к слабому изменению параметров катушки).
Конструкция катушки зависит от формы и измеряемых параметров образца. Большой универсальностью обладают накладные катушки, которые располагают на поверхности измеряемого образца. Их изготавливают небольшого диаметра с применением магнитопроводов и специальных экранов, локализующих магнитное поле катушки. Широко используют также устройства, в основу работы которых положен принцип вариации параметров колебательного контура, где при контакте с образцом изменяются добротность и резонансная частота.
При емкостном методе измерения удельного сопротивления измеряют импеданс образца, т.е. активное сопротивление и емкость. Связь образца с измерительной схемой осуществляется с помощью U-образных или кольцевых контактов, отделенных от образца слоем диэлектрика. Металлический контакт и поверхность образца составляют емкость. Образец с контактами можно представить в виде последовательно включенных емкости и сопротивления части образца, заключенного между контактами.
Измерения основаны на принципе вариации параметров данного колебательного контура, при этом, как и в случае индуктивного метода, необязательно фиксировать связанные с ним величины, например добротность контура, в состав которого входит конденсатор с образцом. Метод также требует предварительной калибровки и может применяться для измерения удельных сопротивлений от 10-4 до 103 Ом•см. Рассматриваемым методом трудно измерять малые удельные сопротивления, т.к. низкоомные образцы мало изменяют активное сопротивление конденсатора.