
- •Введение
- •I аналитический обзор
- •II разработка технических требований на микросхему
- •III выбор и обоснование конструктивно-технологического исполнения микросхемы
- •IV расчет элементов и выбор навесных компонентов
- •4.1 Конструктивный расчет тонкопленочных резисторов
- •4.1.1 Расчет рассеиваемой мощности
- •4.1.2 Расчет конструктивных размеров резисторов
- •4.2 Выбор навесных компонентов
- •V разработка топологии имс
- •5.1 Выбор материалов
- •5.2 Определение размера платы и выбор типоразмера корпуса
- •5.3 Разработка коммутационной схемы
- •5.4 Оценка качества разработанной топологии
- •5.4.1 Расчет теплового режима
- •5.4.1.1 Расчет теплового режима резисторов
- •5.4.1.2 Тепловой расчет транзисторов
- •5.5 Расчет паразитных связей
- •5.6 Оценка надежности
- •VI разработка и обоснование технологического маршрута изготовления имс
- •6.1 Подложки гис
- •6.2 Очистка поверхности и контроль подложек
- •6.3 Формирование элементов тонкоплёночных гис
- •6.3.1 Технология нанесения тонких плёнок
- •6.4 Операции контроля тонких плёнок
- •6.5 Разделение подложек на платы
- •6.6 Сборка микросхем
- •6.6.1 Монтаж плат в корпус
- •6.6.2 Монтаж навесных компонентов
- •6.6.3 Присоединение выводов
- •6.6.4 Герметизация
- •6.6.5 Термотоковая тренировка
- •VII Промышленная экология и безопасность производства
- •7.1 Анализ условий труда при изготовлении и контроле сборок микросхемы
- •7.2 Расчёт искусственного освещения
- •7.3 Расчет механической вентиляции
- •7.4 Расчет зануления
- •VIII Экономическая часть Обоснование потребности в данном устройстве на потребительском рынке
- •8.1 Организация и планирование проекта
- •8.1.1 Анализ рынка сбыта
- •8.1.2 Оценка конкурентной среды
- •8.1.3 Организационный план
- •8.2 Расчёт затрат и договорной цены
- •8.2.1 Расчёт затрат на материалы и покупные изделия
- •8.2.2 Специальное оборудование для научных целей
- •8.2.3 Основная заработная плата исполнителей
- •8.2.4 Дополнительная заработная плата
- •8.3 Оценка экономической целесообразности проекта
- •Заключение
- •Список литературы
- •Приложение а - основные виды печатных плат
- •1 Топология и чертежи печатных плат
- •2 Программные средства проектирования печатных плат
- •4 Установка и распайка компонентов
- •Приложение б- Выбор материалов для изготовления корпуса устройства
- •Приложение в - Конструкторские расчеты. Расчет показателей качества конструкции
- •1 Расчет теплового режима платы
- •1.1 Выбор модели
- •1.2 Расчет среднеповерхностной температуры корпуса
- •1.3 Расчет среднеповерхностной температуры нагретой зоны
- •1.4 Расчет температуры в центре нагретой зоны
- •2 Расчет вибропрочности платы
- •3 Рассчет допустимой стрелы прогиба печатной платы
- •4 Расчет компоновочных параметров блока
- •5 Расчет размерной цепи
- •Приложение г - Технологическая часть
- •1 Выбор типа и организационной формы производства
- •2 Оценка технологичности конструкции устройства
- •2.1 Качественная оценка технологичности
- •2.2 Количественная оценка технологичности
- •2.2.1 Определение конструкторских показателей технологичности функциональной ячейки устройства:
- •2.2.2 Определение производственных показателей технологичности
- •2.3 Комплексная оценка технологичности
- •3 Проектирование технологического процесса изготовления блока
6.4 Операции контроля тонких плёнок
При получении тонких плёнок могут быть проконтролированы как параметры процесса (температура, время, глубина вакуума, рабочее давление или рабочее напряжение), так и параметры растущей плёнки (толщина или сопротивление).
Поскольку все указанные параметры обладают некой нестабильностью, которая не может быть устранена путём регулирования этих параметров вследствие их инертности или вследствие физических ограничений, а ряд параметров вовсе не может быть проконтролирован, контроль параметров растущей плёнки по времени напыления является малоэффективным. Целесообразно отслеживать изменение основного параметра плёнки или какого либо с ним связанного и прекращать процесс по достижения этих параметров расчётного значения.
В качестве контрольных методов используется:
для контроля поверхностного сопротивления – четырехзондовый метод, как один из наиболее простых, быстрых и точных;
толщина пленок контролируется оптическим интерференционным методом. Он основан на использовании эффектов, возникающих в системе пленка – подложка при изменении толщины пленки. Эти эффекты состоят в том, что по мере утолщения пленки интенсивность отраженного света уменьшается и достигает минимума в момент, когда толщина пленки становится равной одной четверти длины волны и т.д. Положительным свойством метода является возможность измерять толщину в процессе напыления пленки [6].
качество пленки определяется визуально. Поверхность пленки должна быть зеркальной, без дефектов (точек, разводов, замутнений).
адгезия контролируется по силе отрыва, соскабливанием и нанесением царапин.
частотный метод – основан на зависимости частоты генерируемых сигналов от изменения массы кварцевого элемента.
6.5 Разделение подложек на платы
Разделение подложек на платы скрайбированием осуществляется в две стадии: вначале на поверхность подложки между готовыми микросхемами наносят в двух взаимно перпендикулярных направлениях неглубокие риски, а затем по этим рискам разламывают ее на платы. При сквозном разделении пластину прорезают режущим элементом насквозь.
Алмазное скрайбирование. Эта операция состоит в создании на пластине или подложке рисок или разделительных канавок механическим воздействием на нее алмазного резца, что приводит к образованию неглубоких направленных трещин. При приложении дополнительных усилий в процессе разламывания трещины распространяются на всю толщину пластины или подложки, в результате чего происходит разделение ее на отдельные кристаллы или платы. Основными достоинствами скрайбирования являются высокая производительность и малая ширина прорези (10..20 мкм), а, следовательно, отсутствие потерь материала пластины или подложки [6].
При лазерном скрайбировании разделительные риски между готовыми структурами создают испарением узкой полосы материала с поверхности подложки или платы во время перемещения ее относительно сфокусированного лазерного луча. Достоинством лазерного скрайбирования наряду с созданием глубокой (50..100 мкм) и узкой канавки (25..40 мкм) и высокой производительностью является отсутствие микротрещин и сколов на пластине или плате.
Разламывание пластин на кристаллы и подложек на платы после скрайбирования осуществляется механическим способом, прикладывая к ней изгибающий момент. Наиболее простым методом является разламывание валиком. При этом методе подложку или пластину помещают рабочей поверхностью на мягкую гибкую основу и прокатывают в двух взаимно перпендикулярных направлениях стальным или резиновым валиком. При этом процесс разламывания происходит в две стадии: сначала происходит ломка на полоски, а после смены направления движения валика – на отдельные кристаллы и платы. Валик должен двигаться параллельно направлению скрайбирования, иначе ломка будет происходить не по рискам. Брак возможен и в том случае, если полоски или отдельные кристаллы и платы смещаются относительно друг друга при ломке. Поэтому перед ломкой пластины и подложки наклеивают на тонкую эластичную полиэтиленовую пленку [6].
При разламывании на сферической опоре пластину, расположенную между двумя тонкими пластичными пленками помещают рисками вниз на резиновую диафрагму, подводят сверху сферическую опору и с помощью диафрагмы гидравлическим или пневматическим способом прижимают к ней пластину, которая разламывается на отдельные кристаллы. Достоинством этого способа является простота, высокая производительность и одностадийность, а также высокое качество.
Дешевле и проще оборудование для алмазного скрайбирования, поэтому для данной схемы малой интеграции целесообразно выбрать именно этот метод.