
- •Введение
- •Структурные особенности полупроводникового диода
- •Прямое включение диода
- •Обратное включение диода
- •Зависимость удельного сопративления от концентрациии
- •Расчет параметров и характеристик диода.
- •Исходные данные
- •Модель выпрямительного диода
- •Диффузионные процессы
- •Вах характеристика
- •Библиографический список
Вах характеристика
Напряжение пробоя
p-n-перехода
определяется в основном лавинными
процессами размножения носителей заряда
в сильном электрическом поле, которое
возникает при напряженности
.
Поэтому для оценочных расчетов можно
принимать
Точные значения позволяют найти следующее выражение для резкого перехода:
,
где −ширина запрещенной зоны полупроводника эВ;
−концентрация
примеси в слаболегированной области
;
Вольт-амперная характеристика (ВАХ) p-n-перехода описывается выражением
Так как имеем все необходимые значения построим ВАХ:
Рисунок 6
Заключение
В курсовой работы я рассмотрел процессы происходящие в полупроводниках и рассмотрел технологию производства диодов. С помощью программ Maple 13 я посчитал основные характеристики электронно-дырочного перехода в кремниевом диоде и получили результаты:
Диффузионная емкость = 3,04∙10-15 Ф
Барьерная емкость = 9,2∙10-11 Ф
Напряжение пробоя =18,5 В
Ток насыщения = 1,54 А
Построил графики:
зависимости концентрации от глубины залегания p-n перехода, при температуре в 1250 К,
Вольт-амперную характеристику диода.
Построил трехмерную модель диода в в современном твердотельном САПРе
Библиографический список
Королёв, В. Л., Карпов, Л. Д. Конструирование полупроводниковых интегральных схем: учеб. пособие/ В. Л. Королёв – Красноярск: Изд-во КрПИ., 1992. – 118 с.
Трутко, А.Ф. Методы расчета транзисторов: учеб. пособие/ А.Ф. Трутко. – Челябинск: Изд-во М., Энергия, 1971. – 272с.
Тугов Н.М. Полупроводниковые приборы: учебн. пособие/ Н.М. Тугов.- Москва:Изд-во М., Энергоатомидздат, 1990.-576 с.