Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Конспект в PDF / Комбинационная логика.pdf
Скачиваний:
113
Добавлен:
03.06.2014
Размер:
607.27 Кб
Скачать

Конспект по дисциплине«Узлы и устройства ЭВМ» Комбинационная логика

(Альшевский А. Н., Фураев И. А.)

Типа оглавление

 

Разновидности интегральных микросхем. .......................................................................................

2

1. Полупроводниковые интегральные схемы....................................................................................

2

2. Гибридные интегральные схемы....................................................................................................

2

3. Совмещенные интегральные схемы...............................................................................................

2

4. Микросхемы функциональной электроники.................................................................................

2

Параметры и характеристики цифровых элементов:....................................................................

2

Степень и уровень интеграции...........................................................................................................

3

Функциональная сложность. ..............................................................................................................

3

Способ кодирования............................................................................................................................

3

Быстродействие....................................................................................................................................

4

Потребляемая мощность. ....................................................................................................................

5

Помехоустойчивость. ..........................................................................................................................

6

Коэффициент разветвления или нагрузочная способность.............................................................

7

Площадь кристалла интегральной схемы..........................................................................................

8

Площадь логического элемента на кристалле. .................................................................................

9

Работа переключения (интегральный критерий качества). .........................................................

9

Типы выходов логических элементов. ..............................................................................................

9

Обозначение логических элементов.................................................................................................

11

Маркировка элементов.......................................................................................................................

11

Отечественная маркировка...............................................................................................................

11

Зарубежная маркировка. ...................................................................................................................

12

Классификация систем элементов. ..................................................................................................

12

Формирователи импульсных сигналов...........................................................................................

13

Элемент задержки..............................................................................................................................

13

Автоколебательный генератор прямоугольных импульсов. .........................................................

14

Генератор с изменяемой скважностью. ...........................................................................................

15

Формирователь одиночных импульсов заданной длительности..................................................

16

Детекторы фронтов............................................................................................................................

18

Схемы изменения длительности импульса. ....................................................................................

19

Схемы для устранения дребезга механических контактов............................................................

20

Мультиплексор (КУ). ..........................................................................................................................

20

Дешифратор. .........................................................................................................................................

26

Шифратор..............................................................................................................................................

31

Демультиплексор. ................................................................................................................................

34

1

Элементы (в широком смысле) – наименьшие функциональные части, на которые разбивают цифровое устройство при логическом проектировании и технической реализации.

Иерархия уровней элементов:

1.Электронные компоненты (простейшие элементы) (элементы в узком смысле): резисторы, конденсаторы, диоды, транзисторы.

2.Логические и запоминающие элементы: коньюнкторы, дизьюнкторы, элементы Шеффера, элементы Пирса и др., различные виды триггеров.

3.Функциональные узлы или субсистемы: регистры, счетчики, дешифраторы, мультиплексоры и сумматоры.

4.Функциональные устройства: АЛУ, запоминающие устройства и др.

5.Вычислительная машина в целом: микроконтроллеры.

Каждый из уровней элементов выпускается в виде интегральных микросхем (ИС). Каждый предшествующий уровень является основой для следующего.

Разновидности интегральных микросхем.

Существует 4 типа интегральных схем:

1.Полупроводниковые ИС.

2.Гибридные ИС.

3.Совмещенные ИС.

4.Микросхемы функциональной электроники.

1.Полупроводниковые интегральные схемы.

Изготавливаются на основе активной, обычно кремниевой, подложке. Все элементы изготавливаются на поверхности или в объеме подложки в одном технологическом процессе.

Технологические линии по производству получаются дорогие, а сами микросхемы дешевые.

2. Гибридные интегральные схемы.

Изготавливаются на пассивной подложке (стекло, керамика), на которую методом пленочной технологии напыляют пассивные элементы. Активные элементы (бескорпусные транзисторы и диоды) являются навесными.

Оборудование для производства проще и дешевле, чем в полупроводниковых ИС, микросхемы же получаются дорогими.

3. Совмещенные интегральные схемы.

Активные элементы изготавливаются в объеме активной подложки (например, кремний), пассивные же элементы напыляются на поверхность методом пленочной технологии.

Оборудование дорогое (занимает промежуточное положение между 1 и 2), микросхемы тоже не и дешевые (между 1 и 2). По этой технологии могут изготавливать полузаказные БИС.

4. Микросхемы функциональной электроники.

Строятся на основе комплексного использования свойств твердого тела. Интегральные микросхемы просты, но реализуют сложные функциональные зависимости.

Пример:

пьезоэлектрические фильтры

термоэлектрические и газоэлектрические преобразователи

и др.

Параметры и характеристики цифровых элементов:

1.Степень и уровень интеграции.

2.Функциональная сложность.

3.Способ кодирования.

4.Быстродействие.

5.Потребляемая мощность.

2

6.Помехоустойчивость.

7.Коэффициент разветвления или нагрузочная способность.

8.Площадь кристалла.

9.Площадь логического элемента на кристалле.

10.Общие технические характеристики:

Надежность.

Габариты

Вес.

Устойчивость к спец. воздействиям.

Стоимость.

Степень и уровень интеграции.

Уровень интеграции - NЭЭ, определяется количеством электронных элементов. Степень интеграции: ] lg NЭЭ [

 

 

 

 

 

Уровень

 

Степень

 

 

МИС

Малые ИС

До 100

1,2

 

 

СИС

Средние ИС

До 1 000

2,3

 

 

БИС

Большие ИС

До 10 000

3,4

 

 

СБИС

Сверхбольшие ИС

До 1 000 000

 

До 6

 

 

УБИС

Ультрабольшие ИС

До 1 000 000 000

 

До 9

 

 

ГБИС

Гигабольшая ИС

Более 1 000 000 000

 

Более 9

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

486

 

Р1

 

Р4

Nээ(транзисторов)

 

1,2 млн.

 

3,1 млн.

 

42 млн.

Функциональная сложность.

Характеризуется уровнем и степенью функциональной сложности.

Уровень функциональной сложности – NЛЭ – количество логических элементов внутри микросхемы. Степень функциональной сложности ] lg NЛЭ [

Функциональная сложность показывает насколько сложную логическую схему можно получить из данной микросхемы.

Способ кодирования.

Внастоящее время наиболее часто используется двоичная логика.

Взависимости от того, как физически представляется 0 и 1, кодирование делится на потенциальное и импульсное.

Потенциальное:

Импульсное:

А) Б) В)

Существует соглашение о положительной логике и отрицательной логике, в зависимости от того “0” или “1” выше по значению напряжения (тока).

Положительная логика:

Отрицательная логика:

3

В большинстве случаев используют положительную логику, но бывают и исключения. Микросхемы оперируют с физическими величинами, по этому их таблицы истинности приводят не в

терминах “0” и “1”, а в терминах “H” и “L” (High, Low).

Положительная логика: “H” – 1, “L” – 0; Отрицательная логика: “H” – 0, “L” – 1. Пример:

Полож. логика: Отриц. логика:

x1

x2

y

 

x1

x2

y

 

x1

x2

y

L

L

L

 

0

0

0

 

1

1

1

L

H

H

 

0

1

1

 

1

0

0

H

L

H

 

1

0

1

 

0

1

0

H

H

H

 

1

1

1

 

0

0

0

Быстродействие.

Является одной из основных характеристик, определяющей производительность вычислительной системы. Реальный процесс переключения описывается достаточно сложно, по этому используют простейшую модель при оценке быстродействия – среднее время задержки элемента.

.СР. tЗ0 1 tЗ1 0 , 2

Где tЗ0 1,tЗ1 0 - задержка элемента при переключении его выхода из “0” в “1” и из “1” в “0”

соответственно.

Для измерения времени задержки обычно собирается цепочка (схема) из четного числа инвертирующих элементов.

Из 2n-элементов – n переключается из “1” в “0”, а половина из “0” в “1”.

t tЗ.ВХ ВЫХ З.СР. 2n

В паспорте микросхемы помимо времени задержки иногда приводят длительность фронтов переключения.

4

tЗ.СР. 0,1 100нс (в современных ИС)

0,1 – задержка элемента внутри БИС.

100 нс – задержка в медленных элементах, которые используются для вывода информации на индикаторы.

Потребляемая мощность.

Различают 2 вида мощности: статическая и динамическая.

Статическая мощность. РСТ

Это мощность, потребляемая не переключающимся элементом от источника питания. Статическая мощность может отличаться, если на выходе элемента “0”, либо “1”.

ТТЛ и ТТЛШ:

РСТ0 > РСТ1 (0 и 1 – состояние на выходе элемента).

РСТ интересно в отношении элементов, не используемых в схеме, но находящихся в микросхеме, т.е. свободных элементов.

КМОП:

PСТ UИП

IВХ0 IВХ1

2

 

UИП - напряжение источника питания.

IВХ0 - входной ток потребления в “0” при напряжении на входе U ЛОГ0 ,

IВХ0 - входной ток потребления в “1” при напряжении на входе U 1ЛОГ .

Входные напряжения подаются на затворы транзисторов. Через затвор ток течь не может, так как между затвором (проводником) и каналом лежит диэлектрик => IВХ0 IВХ1 0 => PСТ 5 0 2 0 0

Динамическая мощность. РДИН

Это дополнительная мощность, потребляемая во время переключений элемента. Динамическая мощность обуславливается двумя причинами:

Сквозными токами.

Перезарядом паразитных емкостей на выходе элемента.

Сквозные токи возникают в момент, когда К1 на выходе микросхемы размыкается, а К2 – замыкается. Возникает короткий момент времени, когда оба ключа замкнуты. Сквозные токи возникают в ТТЛ-системе элемента.

Вторая причина постоянными зарядами и разрядами паразитной емкости на выходе элемента. Предположим, перед переключением система находилась в состоянии изображенном на рисунке:

5