
- •Введение
- •1. Физическая природа свойств твёрдых тел
- •1.1. Основные материалы микроэлектроники
- •2. Фазовые диаграммы и твердые растворы
- •2.1. Типы фазовых диаграмм
- •2.2. Системы, имеющие важное значение в микроэлектронике
- •2.3. Твердая растворимость
- •2.4. Задачи
- •2.5. Фазовые переходы
- •2.6. Термодинамические диаграммы
- •2.6.1. Диаграмма состояния (диаграмма равновесия, фазовая диаграмма)
- •2.6.2. Растворимость
- •2.6.3. Международная система единиц си (метр, килограмм, секунда, градус, Кельвин, моль)
- •2.6.4. Метод построения диаграмм состояния
- •2.6.5. Системы с ограниченной взаимной растворимостью компонентов в твердом состоянии
- •3. Структура твердотельных интегральных микросхем
- •3.1. Введение
- •3.1.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Технология полупроводниковых интегральных микросхем
- •3.2.1. Общая характеристика технологического процесса
- •4. Диффузионные процессы в твердых телах
- •4.1. Введение
- •4.2. Законы диффузии
- •4.3. Основы кинетической теории газов
- •4.4. Диффузия как двухстадийный процесс
- •4.5. Диффузия в гетерогенном твердом теле
- •4.6. Техника проведения процессов диффузии
- •4.6.1. Диффузия из газовой фазы
- •4.6.2. Диффузия из жидкой фазы
- •4.6.3. Диффузия из твердой фазы
- •4.7. Способы проведения диффузии
- •5. Основы ионного легирования
- •5.1. Понятие о технологии ионного легирования
- •5.2. Оборудование для ионного легирования
- •5.3. Длина пробега ионов
- •5.4. Монокристалл
- •5.6. Синтез веществ с помощью ионного легирования
- •5.7. Отжиг легированных слоев
- •6. Технологические основы микроэлектроники
- •6.1. Введение
- •6.2. Подготовительные операции
- •6.3. Эпитаксия
- •6.4. Термическое окисление
- •6.5. Легирование
- •6.5.1. Способы диффузии
- •6.5.2. Теоретические основы диффузии
- •6.5.3. Ионная имплантация
- •6.6. Травление
- •6.7. Техника масок
- •6.7.1. Фотолитография
- •6.7.2. Фотошаблоны
- •8.7.3. Новые решения и тенденции
- •6.8. Нанесение тонких пленок
- •6.8.1. Термическое (вакуумное) напыление
- •6.8.2. Катодное напыление
- •6.8.3. Ионно–плазменное напыление
- •6.8.4. Анодирование
- •6.8.5. Электрохимическое осаждение
- •6.9. Металлизация
- •6.10. Сборочные операции
- •6.11. Технология тонкопленочных гибридных ис
- •6.11.1. Изготовление пассивных элементов
- •6.11.2. Монтаж навесных компонентов
- •6.12. Технология толстопленочных гибридных ис
- •Литература
6.12. Технология толстопленочных гибридных ис
Пассивные элементы толстопленочных ГИС получаются локальным нанесением на подложку полужидких паст–стеклоэмалей с последующим их высушиванием и вжиганием в подложку. Следовательно, в данном случае пленки приобретают свою толщину сразу, а не постепенно – слой за слоем – как при тонкопленочной технологии.
Последовательность технологических операций при нанесении толстых пленок следующая:
а) нанесение слоя пасты на подложку через маску – накладной трафарет (отсюда название – метод трафаретной печати);
б) выжигание (испарение) растворителя при температуре 300–400°C и тем самым превращение пасты из полужидкого состояния в твердое;
в) вжигание затвердевшего вещества пасты в подложку – спекание – при температуре 500-700°C (в зависимости от состава пасты).
Операция вжигания – самая ответственная в технологическом цикле; она требует высокой стабилизации температуры: с точностью ±1°С.
В основе всех паст–стеклоэмалей лежит так называемая фритта – тончайший порошок стекла, к которому, в зависимости от назначения пасты, примешивается порошок резистивного, проводящего или диэлектрического материала. Дисперсная (т. е. совершенно однородная) смесь фритты и примесного материала приобретает вязкость при добавлении специальных органических веществ и растворителей. На этапе выжигания (см. выше) растворитель испаряется, а органические вещества связывают частицы порошка в единую компактную массу.
Для проводящих паст примесью обычно служит серебро или золото, для резистивных – смесь серебра и палладия (1:1), а для диэлектрических – титанат бария с высокой диэлектрической проницаемостью. Варьируя материал и процентное содержание примесей, можно варьировать электрические параметры пленок в очень широких пределах (см. 7.11).
Масками для нанесения паст на подложку служат сетчатые трафареты (рис. 6.26, а). Они представляют собой тонкую сетку из капрона или нержавеющей стали, натянутую на дно рамки. Размер ячеек сетки – около 100 мкм, диаметр нитей – около 50 мкм. Большая часть сетки покрыта пленкой, но в пленке имеются окна. Рисунок окон получают методом фотолитографии, вытравливая отверстия в пленке. Учитывая ячеистую структуру сетки, размеры окон трудно сделать менее 10–200 мкм.
Рис. 6.23. Метод локального нанесения пасты:
а – сетчатый трафарет; б – продавливание пасты через трафарет;
1 – ракель; 2 – сетка; 3 – подложка; 4 – паста
Это предопределяет минимальные размеры элементов толстопленочных ГИС и ширину линий.
Рамка с трафаретом заполняется пастой и размещается над подложкой на расстоянии 0,5–1 мм. После этого па сетку опускается специальный нож – ракель, который, перемещаясь вдоль рамки, продавливает пасту через отверстия в сетке (рис. 6.26, б). Несмотря на простоту идеи продавливания, эта операция – прецизионная; на качество будущей пленки и повторяемость результатов оказывают влияние угол заточки ракеля, его наклон относительно подложки, скорость перемещения и другие факторы.
Вообще говоря, сетка на трафарете не обязательна: можно продавливать пасту и через сплошные отверстия. Однако качество пленок при этом хуже, так как сетка обеспечивает более однородные слои в результате слияния отдельных «капель», прошедших через ячейки сетки. Толщина получаемых пленок зависит от диаметра нитей и размеров ячеек. Обычно она составляет 20–40 мкм.
Исходным материалом для сеток был шелк и потому методику нанесения паст через сетчатые трафареты часто называли шелкографией.
К подложкам для
толстопленочных ГИС предъявляются в
общем те же требования, что и для
тонкопленочных. Особое внимание часто
уделяется повышенной теплопроводности,
так как толстопленочный вариант ГИС
характерен для мощных схем. Поэтому
распространены высокоглиноземистые
керамики (96%
)
и бериллиевые керамики (99,5%
);
последние в 7–10
раз превышают глиноземистые по
теплопроводности, но уступают им по
прочности. Важная отличительная
особенность подложек для толстопленочных
ГИС состоит в том, что их поверхность
должна быть достаточно
шероховатой,
чтобы обеспечить необходимую адгезию
с веществом пасты. Степень шероховатости
характеризуется неровностями до 1–2
мкм.
Методы монтажа навесных
компонентов те же, что и у тонкопленочных
ГИС, но размеры контактных площадок
делают больше:
мкм.
В целом толстоплёночная технология характерна простотой и низкой стоимостью ИС. Однако по сравнению с тонкопленочной технологией плотность компоновки оказывается меньше (из–за большей ширины линий), а разброс параметров – больше (из–за неконтролируемой толщины пленок).