
- •Введение
- •1. Физическая природа свойств твёрдых тел
- •1.1. Основные материалы микроэлектроники
- •2. Фазовые диаграммы и твердые растворы
- •2.1. Типы фазовых диаграмм
- •2.2. Системы, имеющие важное значение в микроэлектронике
- •2.3. Твердая растворимость
- •2.4. Задачи
- •2.5. Фазовые переходы
- •2.6. Термодинамические диаграммы
- •2.6.1. Диаграмма состояния (диаграмма равновесия, фазовая диаграмма)
- •2.6.2. Растворимость
- •2.6.3. Международная система единиц си (метр, килограмм, секунда, градус, Кельвин, моль)
- •2.6.4. Метод построения диаграмм состояния
- •2.6.5. Системы с ограниченной взаимной растворимостью компонентов в твердом состоянии
- •3. Структура твердотельных интегральных микросхем
- •3.1. Введение
- •3.1.1. Основные понятия и определения
- •3.2. Технология полупроводниковых интегральных микросхем
- •3.2.1. Общая характеристика технологического процесса
- •4. Диффузионные процессы в твердых телах
- •4.1. Введение
- •4.2. Законы диффузии
- •4.3. Основы кинетической теории газов
- •4.4. Диффузия как двухстадийный процесс
- •4.5. Диффузия в гетерогенном твердом теле
- •4.6. Техника проведения процессов диффузии
- •4.6.1. Диффузия из газовой фазы
- •4.6.2. Диффузия из жидкой фазы
- •4.6.3. Диффузия из твердой фазы
- •4.7. Способы проведения диффузии
- •5. Основы ионного легирования
- •5.1. Понятие о технологии ионного легирования
- •5.2. Оборудование для ионного легирования
- •5.3. Длина пробега ионов
- •5.4. Монокристалл
- •5.6. Синтез веществ с помощью ионного легирования
- •5.7. Отжиг легированных слоев
- •6. Технологические основы микроэлектроники
- •6.1. Введение
- •6.2. Подготовительные операции
- •6.3. Эпитаксия
- •6.4. Термическое окисление
- •6.5. Легирование
- •6.5.1. Способы диффузии
- •6.5.2. Теоретические основы диффузии
- •6.5.3. Ионная имплантация
- •6.6. Травление
- •6.7. Техника масок
- •6.7.1. Фотолитография
- •6.7.2. Фотошаблоны
- •8.7.3. Новые решения и тенденции
- •6.8. Нанесение тонких пленок
- •6.8.1. Термическое (вакуумное) напыление
- •6.8.2. Катодное напыление
- •6.8.3. Ионно–плазменное напыление
- •6.8.4. Анодирование
- •6.8.5. Электрохимическое осаждение
- •6.9. Металлизация
- •6.10. Сборочные операции
- •6.11. Технология тонкопленочных гибридных ис
- •6.11.1. Изготовление пассивных элементов
- •6.11.2. Монтаж навесных компонентов
- •6.12. Технология толстопленочных гибридных ис
- •Литература
6.5. Легирование
Внедрение примесей в исходную пластину (или в эпитаксиальный слой) путем диффузии при высокой температуре является исходным и до сих пор основным способом легирования полупроводников с целью создания диодных и транзисторных структур. Этому способу мы уделим главное внимание. Однако за последние 10 лет широкое распространение получил и другой способ легирования — ионная имплантация, который рассматривается в конце параграфа.
6.5.1. Способы диффузии
Диффузия может быть общей и локальной. В первом случае она осуществляется по всей поверхности пластины (рис. 6.5, а), а во втором – на определенных участках пластины через окна в маске, например, в слое (рис. 6.5, б).
Общая диффузия приводит
к образованию в пластине тонкого
диффузионного слоя, который отличается
от эпитаксиального неоднородным (по
глубине) распределением примеси (см.
кривую
на рис. 6.5).
В случае локальной
диффузии примесь распространяется не
только в глубь пластины, но и во всех
перпендикулярных направлениях, т. е.
под маску. В результате этой так называемой
боковой диффузии
участок
–перехода,
выходящий на поверхность, оказывается
«автоматически» защищенным окислом
(рис. 6.5, б). Соотношение между глубинами
боковой и основной «вертикальной»
диффузии зависит от ряда факторов, в
том числе от глубины диффузионного слоя
.
Типичным для глубины боковой диффузии
можно считать значение
.
Диффузию можно проводить
однократно и многократно. Например, в
исходную пластину
–типа
можно во время 1–й
диффузии внедрить акцепторную примесь
и получить
–слой,
а затем во время 2–й
диффузии внедрить в полученный
–слой
(на меньшую глубину) донорную примесь
и тем самым обеспечить трехслойную
структуру. Соответственно различают
двойную и тройную диффузию.
При проведении
многократной диффузии следует иметь в
виду, что концентрация каждой новой
вводимой примеси должна превышать
концентрацию предыдущей, в противном
случае тип проводимости не изменится,
а значит, не образуется
–переход.
Между тем концентрация примеси в кремнии
(или другом исходном материале) не может
быть сколь угодно большой: она ограничена
особым параметром –
предельной растворимостью примеси.
Предельная растворимость зависит от
температуры. При некоторой температуре
она достигает максимального значения
,
а затем снова уменьшается. Максимальные
предельные растворимости вместе с
соответствующими температурами приведены
в табл. 6.1.
Рис. 6.5. Общая (а) и локальная (б) диффузия примеси в кремний
Следовательно, если проводится многократная диффузия, то для последней диффузии нужно выбирать материал с максимальной предельной растворимостью. Поскольку ассортимент примесных материалов ограничен, не удается обеспечить более 3–х последовательных диффузий.
Табл. 6.1. Максимальная предельная растворимость типичных примесей
Примесь |
|
|
|
|
|
1150°С |
1150°С |
1200°С |
1300°С |
Примеси, вводимые путем
диффузии, называют диффузантами
(бор, фосфор и др.). Источниками
диффузантов являются их химические
соединения. Это могут быть и жидкости
(
,
),
и твердые тела (
,
),
и газы (
,
).
Внедрение примесей обычно осуществляется с помощью газотранспортных реакций — так же, как при эпитаксии и окислении. Для этого используются либо однозонные, либо двухзонные диффузионные печи.
Двухзонные печи используются в случае твердых диффузантов. В таких печах (рис. 6.6) имеются две высокотемпературные зоны, одна – для испарения источника диффузанта, вторая — собственно для диффузии. Пары источника диффузанта, полученные в 1–й зоне, примешиваются к потоку нейтрального газа–носителя (например, аргона) и вместе с ним доходят до 2–й зоны, где расположены пластины кремния.
Рис. 6.6. Схема двухзонной диффузионной печи:
1 — кварцевая труба; 2 — поток газа-носителя; 3 — источник диффузанта;
4 — пары источника диффузанта; 5 — тигель с пластинами; 6 — пластина кремния;
7 — первая высокотемпературная зона; 8 — вторая высокотемпературная зона
Температура во 2–й зоне выше, чем в 1–й. Здесь атомы диффузанта внедряются в пластины, а другие составляющие химического соединения уносятся газом–носителем из зоны.
В случае жидких и газообразных источников диффузанта нет необходимости в их высокотемпературном испарении. Поэтому используются однозонные печи, в которые источник диффузанта поступает уже в газообразном состоянии.
При использований жидких источников диффузанта диффузию проводят в окислительной среде, добавляя к газу–носителю кислород. Кислород окисляет поверхность кремния, образуя окисел , т. е. в сущности – стекло. В присутствии диффузанта (бора или фосфора) образуется боросиликатное или фосфорно–силикатное стекло. При температуре выше 1000 °С эти стекла находятся в жидком состоянии, покрывая поверхность кремния тонкой пленкой, так что диффузия примеси идет, строго говоря, из жидкой фазы. После застывания стекло защищает поверхность кремния в местах диффузии, т. е. в окнах окисной маски. При использовании твердых источников диффузанта – окислов – образование стекол происходит в процессе диффузии без специально вводимого кислорода.