Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
(микроэлектроника)Конструктивно-технологические...doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.05.2025
Размер:
706.05 Кб
Скачать

Факторы, влияющие на величину теплового контактного сопротивления.

Тепло от одной соприкасающейся поверхности к другой в общем случае передается следующими путями :

- теплопроводностью через места непосредственного контакта;

- теплопроводностью через среду, заполняющую пространство между выступами и шероховатостями контактирующих поверхностей;

- конвективным переносом тепла средой, заполняющей это пространство;

- лучистым теплообменом между поверхностями.

Зависимость перепада температур между корпусом транзистора и теплоотводом от мощности рассеяния при нормальном и пониженном давлениях представлены на рисунке.

Величина теплового контактного сопротивления зависит от следующих факторов :

- площади контактных поверхностей;

- физико-химических свойств материалов контактных поверхностей;

- качества обработки контактных поверхностей;

- температуры в области контакта;

- наличие электроизоляционных прокладок;

- усилия затяжки винтов или силы, прижимающей полупроводниковый прибор.

Зависимость температуры корпуса транзистора от Р-ти рассеяния при применении различных смазок между транзистором и теплоотводом представлены на рисунке.

1 – транзистор без смазки, 2 – транзистор со смазкой ЦИАТИМ, 3 - транзистор с бериллиевой смазкой КПТ-8.

Расчет мощности, рассеиваемой полупроводниковыми приборами.

При работе транзисторов в усилительных и генераторных схемах 2 гармоническим сигналом мощность, рассеиваемая коллектором, рассчитывается по формуле :

, напряжение источника питания, - падение напряжения. На нагрузке от постоянной составляющей коллектора.

При работе транзисторов в импульсных режимах, при величинах тока коллектора, не достигающих насыщения, мощность, рассеиваемая коллектором, определяется по формуле

Если транзистор работает в импульсных схемах с насыщением, то значительная Р- сть рассеивается также и в базовой цепи Рб . В ряде случаев эта Р-сть может даже превосходить Р-сть рассеиваемую на коллекторе.

, где F- частота следования импульсов или f-та переключения; - неуправляемый ток коллектора, - сопротивление в цепи коллектора, длительность переднего фронта импульса, - длительность заднего фронта импульса, - время в течение которого транзистор заперт, - время в течение которого транзистор находился в насыщении.

При большой частоте переключения .

Р-ть, рассеиваемая базой

где - ток базы в режиме насыщения, напряжение между б и э в режиме насыщения.

Формула для определения предельно допустимой мощности рассеивания при различных температурах окружающей среды (корпуса) :

показывает, что с повышением температуры окружающей среды величин Рпред.доп. снижается по линейному закону.