
- •1.Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
- •2.Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
- •3. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •5. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •6. Рефрактометр автоматический непрерывный.
- •7. Применение рефрактометрии для идентиф в-ва и контроля качества.
- •8. Физ. Основы поляриметрического метода.
- •9. Типы оптической активности.
- •10. Зависимость угла вращения плоскости поляризации от строения в-ва
- •11. Спекрополяриметрический метод.
- •12. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •13. Устройство клиновых поляриметров.
- •14. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •15. Физ. Основы нефелометрии и турбидим. Рассеяние и поглощение света.
- •16. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •17. Приборы нефелометрического анализа.
- •18. Приборы турбидиметрического анализа.
- •19. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •20. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация методов спектрального анализа.
- •21.Физ. Основы спектрального анализа.
- •22. Схемы энергетических переходов в атомах.
- •23. Схемы энергетических переходов в молекулах.
- •24. Способы атомизации вещества и возбуждения атомов в атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •25. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в пламенной атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •26. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в дуговой и искровой атомно-эмиссионной спектроскопии.
- •27. Условия и механизм атомизации и возбуждения в-ва в атомно-эмиссионной спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой.
- •28. Вид и основные характеристики спектров атомной эмиссии. Зависимость вида спектра от природы элемента и способа его возбуждения.
- •29. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •30. Устройство и принцип действия трехтрубчатого плазмотрона для атомно-эмиссионного анализа с индуктивно-связанной плазмой.
- •31. Способы выделения аналитических спектральных линий элементов из полихроматического излучения анализируемого образца. Схема и принцип действия монохроматора дисперсионного типа.
- •32. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •33. Достоинства и недостатки фотографической регистрации спектров атомной эмиссии.
- •34. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •35. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
- •36. Качественная идентификация спектральных линий в спектрах атомной эмиссии.
- •37. Определение интенсивности спектральной линии элемента при фотографической регистрации спектра.
- •38. Полуколичественный метод сравнения в атомно-эмиссионном анализе.
- •39. Полуколичественный метод гомологических пар в атомно-эмиссионном анализе.
- •40. Полуколичественный метод появления и усиления спектральных линий в атомно-эмиссионном анализе.
- •41. Уравнение Ломакина-Шейбе.
- •42.Методы точного количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием стандартов.
- •43. Метод добавок в количественном атомно-эмиссионном анализе.
- •44. Основы, преимущества и недостатки количественного атомно-эмиссионного анализа с использованием фотоэлектрического детектирования.
- •45. Аналитические характеристики и применение атомно-эмиссионной спектроскопии.
1.Понятие метода и методики анализа. Характеристики методики.
Метод исследования - определение принципов, полож-ых в основу исслед-ия безотносительного к конкретному объекту и исследуемому веществу.
Методика иссл-ия - подробное описание всех условий и операций проведения иссл-ния определенного объекта для обнар. конкрет компонента.
Основные хар-ки методик: правил-ть, воспроизв-ть, чувствит-ть, предел обнар-я, ниж граница опред-х содержаний, селективность.
Чувствительность
–
хар-ка, кот показ степень измен-я аналит
сигнала, при измен конц в-ва. Хар-ся
коэф. чувствит-ти:
Предел обнар – содерж опред-го в пробе в-ва, при кот вел-на анал сигнала превыш сред фоновое значение в K раз. (K=3, если сигнал >K, то в пробе есть опред-й компонент, если <K, то нет).
Диап опред-х содержаний – обл значений содерж-я компонента, огранич верх и ниж границами.
Верхняя граница – наиб знач конц компонента по дан методике, кот огранич изученным концентрац диап-ом.
Ниж граница – наим содерж в-ва в пробе, опред по дан методике и учит-я точность провед-я опред-я. (хар-т возмож-ти метода для колич анал, всегда > предела обнар-я, кот исп для кач анал)
За ниж границу приним то min кол-во, кот можно опред при относит СКО<0,33
Рис. 1 Нижние границы определяемого содержания компонентов (- lgQ) для некоторых методов анализа.
Селектив-ть – показ-ет спос-ть метода обнаруживать нужные компоненты без помех со стороны других компонентов, присутствующих в пробе.
Универсальность – возмож-ть обнар-ть или опред-ть многие компоненты одной пробы. Особенно ценно иметь возможность обнар-ть или опред-ть многие компонента одновр-но из одной пробы, т.е. проводить анализ многокомпон с-м.
Экспрессность - понятие, характеризующее быстроту проведения анализа.
Для повышения экспрессности следует использовать наиболее избирательные, не требующие специальной пробоподготовки методы и методики.
Экономичноть - стоимость анализа, включ-я стоим испол-х реагентов, аппаратуры, раб времени, анализир пробы.
Кроме указанных характеристик, при выборе метода анализа м/б существенными и такие специф требования, как проведение анализа без разрушения образца (недеструктивный анализ), локальность анализа (анализ вкраплений, микрофаз, послойный анализ пленок), при котором вводят новую характеристику - пространственное разрешение, т.е. способность различать близко расположенные участки образца.
2.Физ. Основы рефрактометрического метода. Коэффициент преломления.
Физические основы рефрактометрии. Рефрактометрический анализ основан на определении показателя (коэффициента) преломления исследуемого вещества.
При падении пучка лучей на границу раздела двух прозрачных однородных сред 1 и 2 часть его отражается под углом, равным углу падения i1, другая же часть пересекает
границу раздела и переходит в среду 2. При этом изменяется скорость и направление распространения света в среде 2. Световой луч, распространяющийся в среде 1 со скор V1 под углом падения i1, проходит в среде 2 со скор V2 под углом i2, называемым углом преломления (рис.1).
Изменение направления распространения света (преломление) при его переходе из одной среды в другую характеризуется относительным показателем преломления среды 2 по отношению к среде 1, равным
n21 =v1 / v2,
где v1 и v2, - скорости распространения световой волны в средах 1 и 2 соответственно.
Если световая волна переходит из вакуума (среда 1 - вакуум), показатель преломления среды 2 (вещество) называется абсолютным:
n2 = с/ v2, где с - скорость света и вакууме (3 х 1010 см/с).
Относительный показатель преломления n21 согласно формулам 1 и 2 равен отношению абсолютных показателей преломления веществ 1 и 2:
n21= n2/ n1
При измерении ПП жидких и твердых тел обычно опред-ся их относит ПП по отношению к воздуху. Для получения абсолют ПП достат умножить вел-ну ПП в-ва, но отношению к воздуху на абсолютный показатель преломления воздуха, равный при атмосф давлении и комн темпер nвозд=1,00027, след-но nабс=1,00027n.
На практике измерение ПП производится по формуле:
n21 =v1 / v2= sin i1/sin i2
как отношение синуса угла падения i1 к синусу угла его преломления i2
Каждое индивид хим соед-ие имеет при пост условиях измерения строго опред-ое значение ПП, вел-на кот опред-ся строением этого в-ва, что объясн-ся индивид-м характером взаимодействия электромагн излучения с в-вом.
При прохождении света через неполярное в-во мол-лы этого в-ва попадают в электромаг поле, под возд-ем кот происходит деформацион поляризация мол-лы, вызываемая как смещением электронов относит ядер атомов (электронная поляризация), так и смещением ядер ат относит друг друга (атомная поляризация), и пропорциональная напряженности поля.
Центры тяжести положительных и отрицательных зарядов в молекуле теперь не совпадают и возникает индуцированный дипольный момент, пропорциональный напряженности поля. При прохождении света через полярное в-во к деформационной поляризации добавляется и т.н. ориентационная поляризация, связанная с тем, что под влиянием электромагнитного поля такие молекулы ориентируются вдоль силовых линий поля, стремясь принять устойчивое положение, отвечающее минимуму потенциальной энергии.
Поляризации Р молекулы связана с диэлектрической проницаемостью среды:
Р = Рдеф +Рор = (-1)/( + 2) * (М /d) = 4/3*NA*, (6)
где Рдеф - деформационная поляризация; Рор–ориентационная поляризация; М- молекулярная масса вещества; d-плотность вещества; NA-число Авагадро; - поляризуемость молекулы.
Полная поляризация наблюдается только в статическом (пост) поле и поле низкой частоты. В высокочастотном поле диполи не успевают ориентироваться. Поэтому в поле ИК-излученин возникает электронная и атомная поляризация, а в поле видимого, УФ света - только электронная поляризация, т. к. благодаря высокой частоте колебаний поля смещаются только легкие частицы - электроны. Для неполярных веществ Рор =0 и Р = Рдеф = Рэл.