
- •В.Ф. Сухова, а.М. Пахомов элементная база радиоэлектронных устройств
- •Часть 2
- •Задания к лабораторной работе.
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания к защите работы
- •Динамическая нагрузочная прямая
- •Схемы питания транзисторов
- •Графо-аналитический расчёт режима усиления биполярного транзистора.
- •Задания к лабораторной работе.
- •Вопросы для допуска к работе
- •Контрольные вопросы и задания к защите работы
- •Полупроводниковые источники излучения
- •Характеристики и параметры светодиодов
- •Полупроводниковые приёмники излучения
- •Фоторезисторы
- •Основные характеристики и параметры фоторезистора
- •Фотодиоды
- •Основные характеристики и параметры фотодиоды
- •Фототранзисторы
- •Фототиристоры
- •Оптроны
- •Основные характеристики и параметры оптронов
- •Сравнительная характеристика оптронов
- •Литература
- •Содержание
Фотодиоды
Фотодиод – это полупроводниковый диод, обратный ток которого зависит от освещённости.
Конструкция фотодиода мало отличается от конструкции обычного полупроводникового диода. Но помещают его в корпус, имеющий собирательную линзу. В зависимости от размещения линзы световой поток может падать либо перпендикулярно плоскости p-n перехода, либо параллельно ей, как на рис. 7.15,а. Здесь выводы от области, через которую проходит световой поток, сделаны в виде тонкого кольца. Второй вывод выполнен от области n-типа.
а) |
Рис. 7.15. Устройство (а) и схема включения фотодиода (б).
При поглощении квантов света в p-n переходе и в прилегающих к нему областях генерируются пары электрон-дырка. Неосновные носители заряда, возникшие в прилегающих к p-n переходу областях на расстояниях, не превышающих диффузионной длины, диффундируют к p-n переходу и проходят через него под действием электрического поля. Пары электрон-дырк, возникшие непосредственно в p-n переходе, так же разносятся полем p-n перехода в “свои” области. В результате обратный ток через переход при облучении его квантами света возрастает на величину, называемую фототоком.
Основные характеристики и параметры фотодиоды
Фотодиоды можно характеризовать такими же параметрами и характеристиками, как и фоторезисторы. Однако у фотодиодов есть и существенные отличительные особенности.
Вольт-амперная характеристика фотодиода – это зависимость обратного тока от обратного напряжения при постоянном световом потоке (рис. 7.16).
При отсутствии освещённости через фотодиод протекает очень небольшой темновой ток фотодиода Iт (1-25мкА), вызванный термогенерацией носителей в полупроводнике. При увеличении освещённости повышается концентрация неосновных носителей, увеличивается обратный ток через диод.
I
Uобр
Iт
U
Ф=0
Iф1
Ф1
Ф2
Iф2
Ф2
Ф3
Iобр
Ф3 > Ф2
> Ф1
Рис. 7.16. Вольт-амперные характеристики фотодиода. |
Рис. 7.17. Световые характеристики фотодиода. |
Световая характеристика фотодиода – зависимость фототока от освещённости (рис. 7.17) является строго линейной. Связано это с тем, что толщина базы фотодиода всегда меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда; поэтому практически все неосновные носители, возникшие в базе в результате световой генерации, доходят до p-n перехода и принимают участие в образовании фототока. При увеличении приложенного напряжения фототок несколько возрастает. Это объясняется расширением области p-n перехода и уменьшением ширины базы, в результате чего меньшая часть носителей заряда рекомбинирует в базе при движении к p-n переходу.
Следствием линейности световой характеристики фотодиода является независимость интегральной чувствительности от приложенного обратного напряжения. Поэтому одним из основных параметров фотодиода является не удельная интегральная чувствительность, а просто интегральная чувствительность, составляющая десятки мА/лм.
Для фотодиодов часто приводят частотную характеристику, которая показывает изменение интегральной чувствительности при изменении частоты светового потока (рис. 7.18). Уменьшение чувствительности объясняется уменьшение фототока с ростом частоты модуляции светового потока, что свидетельствует об инерционных свойствах фотодиода.
На инерционность фотодиода оказывают влияние два фактора: время заряда барьерной ёмкости и время пролёта носителей через базу и через переход. Если период модулирующих световой поток колебаний сравним с временем пролёта носителей через базу фотодиода, то процессы изменения тока в фотодиоде не успевают за быстрыми изменениями светового потока. В результате, с увеличением частоты уменьшается амплитуда переменной составляющей в нагрузке фотодиода и увеличивается фазовый сдвиг между модулирующим световой поток колебанием и переменной составляющей тока в приборе.
|
Рис. 7.18. Частотная характеристика фоторезистора.
Инерционность
фотодиодов гораздо меньше, чем
фоторезисторов (10нс). Граничная частота,
на которой интегральная чувствительность
уменьшается в
раз
по сравнению со своим статическим
значением, для быстродействующих
кремниевых фотодиодов порядка 107Гц.
Спектральные характеристики фотодиодов аналогичны соответствующим характеристикам фоторезисторов и зависят от материала введённых примесей, а также от конструкции фотодиода.
Спектральные характеристики практически захватывают всю видимую (300-700нм) и инфракрасную области спектра.