
- •1. Теоретические основы метода атомно-эмиссионной спектроскопии (аэс)
- •2. Связь интенсивности спектральной линии с концентрацией элемента в пробе
- •3. Спектральные приборы
- •4. Источники атомизации и возбуждения
- •5. Способы регистрации спектров. Основы фотографического метода аэс
- •6. Характеристическая кривая фотопластинки и способы ее построения
- •7. Основы количественного атомно-эмиссионного анализа
- •Литература
7. Основы количественного атомно-эмиссионного анализа
В методе АЭС выходной аналитический сигнал связан с интенсивностью спектральной линии. Зависимость между интенсивностью спектральной линии атома (иона) определяемого элемента и его концентрацией в пробе выражается эмпирической формулой Шайбе-Ломакина:
,
где J – интенсивность спектральной линии;
c – концентрация элемента в пробе;
а – величина, зависящая от параметров источника возбуждения и свойств пробы;
b – коэффициент, характеризующий самопоглощение.
Э
1
2 3 c
Рис. 7.1. Зависимость
интенсивности спектральной линии от
концентрации элемента
Если содержание элемента колеблется в пределах двух–трех порядков, то логарифмическая зависимость J от с имеет линейный вид:
.
При фотографическом способе регистрации связь между интенсивностью света (J) и почернением линии (S) выражается соотношением:
, (7.2)
где j – инерция фотопластинки;
g – коэффициент контрастности.
Интенсивность спектральных линий
зависит от ряда неконтролируемых
факторов (колебания напряжения в сети,
изменения расстояния между электродами,
изменения условий испарения пробы и
т.д.). В связи с этим, в основе большинства
современных методов количественного
анализа лежит измерение относительной
интенсивности спектральных линий
определяемого элемента и элемента
сравнения, находящегося в той же пробе.
Обозначив
и
– интенсивности линий определяемого
элемента и элемента сравнения,
соответственно, найдем их отношение с
учетом (7.1)
. (7.3)
При постоянстве значений
,
и
(это необходимое требование при
использовании элемента сравнения)
соотношение (7.3) принимает вид:
или
,
где
. (7.4)
При фотографической регистрации спектров оптические плотности линий определяемого элемента и элемента сравнения в соответствии с (7.2) равны
или
.
Для близко расположенной аналитической
пары линий и в случае, когда в качестве
внутреннего стандарта используют фон
вблизи от линии,
и
.
Тогда
или с учетом (7.4) получаем основное
уравнение количественного анализа:
. (7.5)
Измерение почернений аналитических
пар линий проводят с помощью микрофотометра.
Полученная с помощью стандартных
образцов зависимость является
градуировочным графиком. Выбор координат
при его построении определяется
соображениями удобства (
,
а иногда и необходимостью (
).
Разность оптических плотностей
заменяют логарифмом относительных
интенсивностей в том случае, когда
аналитические сигналы находятся в
области недодержек. Для измерения
величины интенсивности необходимо
построение характеристической кривой
фотопластинки.
Наиболее широкое применение в практике количественного спектрального анализа получили методы трех эталонов и добавок.