Контрольные вопросы

1. Электромагнитные волны в диэлектриках. Импеданс и адмитанс диэлектрической среды.

2. Плоская волна в проводящем полупространстве. Высокочастотные свойства металлов.

3. Скин-эффект. Поверхностный импеданс.

4. Граница раздела сред. Граничные условия.

5. Отражение и прохождение электромагнитной волны на границе раздела сред.

6. Распространение электромагнитных волн в тонких слоях. Суть метода усреднения и его применение в исследовании электродинамических свойств тонких слоев и пленок.

7. Точные и приближенные граничные условия для тонких слоев.

8. Электродинамическое описание многослойных структур.

9. Коэффициенты отражения и прохождения. Влияние толщины пленки и подложки, частоты и угла падения ЭМВ на коэффициенты отражения и прохождения.

10. Проводимость тонких металлических слоев и пленок

11. Волновод как линия передачи СВЧ.

12. Типы волн в волноводах. Электрические и магнитные поля в волноводах.

13. Скорость распространения и длина волны в волноводе.

14. Выбор типа волн и размеров сечения волновода. Определение критической длины волны в волноводе.

15. Связь волновода с другими цепями.

16. Режим работы волновода. Основные способы согласования волновода с нагрузкой. Применение волноводов.

17. Понятие резонансных окон. Емкостные, индуктивные и резонансные диафрагмы. Свойства и применение реактивных диафрагм.

18. Теория направленных ответвителей.

19. Принцип работы измерителя КСВН. Методика определения КСВН в данной секции.

20. Коэффициент отражения. Методика получения экспериментальных зависимостей коэффициента отражения от толщины, угла падения ЭМВ и частоты падающего излучения в данной секции.

Литература

1. Antonets I.V., Kotov L.N., Shavrov V.G., Sheglov V.I. The reflection of the electromagnetic waves of the centimetric range by the thin amorphous metal films // Abstracts of International conference “Functional Materials”. Crime, Ukraine, 2003. P. 115.

2. Antonets I.V., Kotov L.N., Shavrov V.G., Shcheglov V.I. Conducting and reflecting properties of thin amorphous films from different metals // Eight International Workshop On Non-Crystalline Solids. Gijon, Spain, 2006. P. 51.

3. Bruggemann M., Masten A., Wibmann P. Electrical and structural properties of copper films annealed on Si(111) // Thin Solid Films. 2002. V. 406. P. 294–298.

4. Fenn M., Akuetey G., Donovan P.E. Electrical resistivity of Cu and Nb thin films // J.Phys.: Condens. Matter. 1998. V. 10. P. 1707–1720.

5. Liu H.-D., Zhao Y.-P., Ramanath G., et. al. Thickness dependent electrical resistivity of ultrathin (<40 nm) Cu films // Thin Solid Films. 2001. V. 384. P. 151–156.

6. Oksanen M.I., Tretyakov S.A. Lindell I.V. Vector Circuit Theory for Isotropic and Chiral Slabs // J of Electromagnetic Waves and Applications. 1990. V. 4. № 2.

7. Pushka P., Tretyakov S.A., Sihvola A.H. Recursive approximate boundary conditions for multilayered media // Report 267. Fin-02015 HUT, Espoo, Finland, 1998.

8. Ston I. On the Electrical Resistance of Thin Films // Phys. Rev. 1898. V. 6. № 1. P. 1–16.

9. Thomson J. J. The Corpuscular Theory of Matter. Lond., 1907.

10. Абелес Ф. Оптические свойства металлических пленок // Физика тонких пленок. Т. 6. С. 171–227.

11. Абрикосов А.А. Основы теории металлов. М.: Мир, 1985.

12. Антонец И.В. Отражающие и проводящие свойства тонких металлических пленок и их наноструктура // Монография. Сыктывкар: РИО СыктГУ, 2007. 124 c.

13. Антонец И.В. Электродинамический анализ отражения радиоволн от тонких металлических слоев // Сборник научных работ аспирантов и молодых ученых. Сыктывкар, 2002. С. 6–11.

14. Антонец И.В. Проводимость и отражающие свойства тонких аморфных металлических пленок // Материалы XV Коми республиканской молодежной научной конференции. Т. 1. Сыктывкар, Коми НЦ УрО РАН, 2004. С. 22–25.

15. Антонец И.В., Буханцов В.А., Котов Л.Н. Носов Л.С. Радиоэлектроника // Сыктывкар: РИО СыктГУ, 2007. 160 c.

16. Антонец И.В. Гольчевский Ю.В. Физика волновых процессов. Физическая электроника. Твердотельная электроника // Практические рекомендации к семинарским занятиям. Сыктывкар: РИО СыктГУ, 2005. 44 с.

17. Антонец И.В., Голубев Е.А. Исследование наноструктуры тонких металлических пленок Ag, Au, Cu, Fe с помощью атомно-силовой микроскопии // XII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка, 2001. С. 165.

18. Антонец И.В., Голубев Е.А., Котов Л.Н. Влияние подложек на формирование рельефа поверхности тонких металлических пленок // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. № 8. С. 65-72.

19. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Голубев Е.А. Особенности наноструктуры тонких аморфных металлических пленок // Материалы докладов IV Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов. М.: Институт кристаллографии РАН, 2003. С. 248.

20. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Голубев Е.А. Особенности наноструктуры и удельной проводимости тонких пленок различных металлов // ЖТФ. 2004. № 3. С. 24–27.

21. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В. Влияние поверхности подложек на формирование тонких металлических пленок // Вестник Сыктывкарского госуниверситета: Серия 2. Вып. 1. Сыктывкар: РИО СыктГУ, 2006. С. 14-25.

22. Антонец И.В., Котов Л.Н., Некипелов С.В., Карпушов Е.Н. Проводящие и отражающие свойства тонких металлических пленок // ЖТФ. 2004. Т. 74. № 11. С. 102–106.

23. Антонец И.В. Котов Л.Н., Некипелов С.В. и др. Проводящие и отражающие свойства тонких металлических пленок с различной толщиной и морфологией поверхности // Proceedings XII International Conference on Spin-Electronics and Gyrovector Electrodynamics. Moscow, 2003. Publisher UNC-1 MPEI (TU). P. 642–655.

24. Антонец И.В. Котов Л.Н., Некипелов С.В. и др. Электродинамические свойства тонких металлических пленок с различной толщиной и морфологией поверхности // Радиотехника и электроника. 2004. Т. 49. № 10. С. 1243–1250.

25. Антонец И.В., Котов Л.Н., Шавров В.Г., Щеглов В.И. Проводящие и отражающие свойства тонких пленок различных металлов // Радиотехника и электроника. 2006. Т. 51. №. 12. С. 1394-1400.

26. Антонец И.В., Котов Л.Н., Шавров В.Г., Щеглов В.И. Применение метода усреднения к расчету распространения электромагнитного излучения через тонкие пленки с различной проводимостью // Радиотехника и электроника. 2007. Т.52. №4. С. 403-414.

27. Антонец И.В., Котов Л.Н., Шавров В.Г., Щеглов В.И. Применение метода усреднения для расчета коэффициентов отражения, прохождения и поглощения при наклонном падении электромагнитной волны на плоскопараллельную пластину // Радиотехника и электроника. 2008. Т. 53. (в печати).

28. Баженов М.В., Антонец И.В., Голубев Е.А. Наноструктура аморфных металлических пленок и ее влияние на электромагнитные свойства // Вестник института геологии Коми НЦ УрО РАН. № 3. Сыктывкар, 2000. С. 8–9.

29. Баскаков С.И. Основы электродинамики. М.: Сов. радио, 1974. 248с.

30. Бек Г., Гюнтеродт Г.Й. Металлические стекла. М: Мир, 1983г.

31. Белоцерковский Г.Б. Антенны. М: Оборониздат, 1956г. 496с

32. Бланк А.Я., Касумов Ф.К., Шаршанов А.Я. Поглощение электромагнитного излучения в слоистой структуре металл-диэлектрик // РЭ. 1993. Т. 38. № 12. С. 2128–2137.

33. Бреховских Л.М. Волны в слоистых средах. АН СССР, 1957.

34. Вайнштейн Л.А. Теория дифракции и метод факторизации. М.: Сов.радио, 1966.

35. Вальднер О.А., Милованов О.С., Собенин Н.П. Техника сверхвысоких частот. Учебная лаборатория. М.: Атомиздат, 1974. 232 с

36. Жеребцов И.П. Введение в технику дециметровых и сантиметровых волн. М., Л.: Энергия, 1964. 144с.

37. Измерения в электронике. Справочник. // Под ред. Кузнецова В.А. М.: Энергоатомиздат, 1987. 512 с.

38. Каплан А.Е. Об отражательной способности металлических пленок в СВЧ - и радиодиапазоне // РЭ. 1964. № 10. С. 1781–1787.

39. Каценеленбаум Б.З. Высокочастотная электродинамика. М.: Наука, 1966.

40. Конторович М.И., Черепанов А.С. Метод усреднения для анализа процессов в волноводе с гиромагнитным заполнением // РЭ. 1985. Т. 30. № 8.

41. Конторович М.И, Третьяков С.А. Приближенные граничные условия в теории электромагнитных волн в ферритовом слое // РЭ. 1986. Т. 31. № 6.

42. Костиенко А.И. Введение в электронику СВЧ. М.: Изд-во Московского университета, 1989. 200с.

43. Кравченко А.Н. Краевые характеристики в задачах электродинамики. Киев: ”Наукова думка”, 1989.

44. Кравченко А.Н. Прямой метод рассеяния векторных краевых задач электродинамики // Изв. Вузов. Электромеханика. 1984. № 7.

45. Кравченко А.Н., Нижних Л.П. Нормально-тангенциальная форма уравнений электродинамики проводящих сред // Краевые задачи мат. физики. Киев, 1971.

46. Кравченко А.Н., Нижних Л.П. Электродинамические расчеты в электротехнике. Киев: Техника, 1977.

47. Курушин А.И., Гусаров В.М. Специальный физический практикум по сверхвысоким частотам. Пермь, 1974.

48. Курушин Е.П., Нефедов Е.М. Электродинамика анизотропных волноведущих структур. М: Наука, 1983.

49. Ландау Л.Д., Лившиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Мир, 1967.

50. Ларсон Д.К. Размерные эффекты в электропроводности тонких металлических пленок и проволок // Физика тонких пленок. Т. 6. С. 97–170.

51. Лебедев И. Техника и приборы СВЧ. М: Наука, 1961.

52. Леонтович М.А. О приближении граничных условий для электромагнитного поля на поверхности хорошо проводящих тел // Иссл. по распространению радиоволн. 1948. Сб. II.

53. Соколов А.В. Оптические свойства металлов. М.: Государственное издательство физ.-мат. лит-ры, 1961.

54. Справочник по электротехническим материалам. Т. 3 // Под ред. Корицкого Ю.В. и др. Л.: Энергоатомиздат, 1988.

55. Технология тонких пленок. Справочник / Под ред. Майссела Л., Глэнка Р. Т.1, 2. М.: Мир, 1977. 768с.

56. Тишер Ф. Техника измерений на СВЧ. / М.: Государственное издательство физ.-мат. лит-ры, 1963.

57. Третьяков С.А. Приближенные граничные условия для тонкого биизотропного поля // РЭ. 1994. Т. 39. № 2.

58. Третьяков С.А. Электродинамика сложных сред: киральные, биизотропные и некоторые бианизотропные материалы (обзор) // РЭ. 1994. Т. 39. № 10.

59. Халиуллин Д.Я., Третьяков С.А. Обобщенные граничные условия импедансного типа для плоских слоев различных сред // РЭ. 1998. Т. 43 № 1. С. 16–30.

60. Хасс Г. Физика тонких пленок. Т. 1. М.: Мир, 1967. 343с.