Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
3 Магнитные ВИП.docx
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.05.2025
Размер:
1.5 Mб
Скачать
  1. Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (tfi)

Кроме всемирно известной технологии утечки магнитного потока продольного намагничивания (MFL) активно применяется технология поперечного намагничивания (TFI), которая является решением проблемы обнаружения продольных трещин в стенке трубы.

В отличие от дефектоскопов с продольным намагничиванием (MFL) дефектоскопы, построенные по технологии TFI, обнаруживают узкие продольно ориентированные дефекты, включая трещины в продольных сварных швах, продольную внешнюю коррозию, вызванную отслоением покрытия, а также такие непредсказуемые и, таким образом, критичные сочетания дефектов, как "продольная риска во вмятине".

Надежное обнаружение продольно ориентированных дефектов может быть обеспечено только в том случае, если намагничивание трубопровода производится в направлении перпендикулярном плоскости расположения дефектов.

Для реализации этого принципа была разработана магнитная система, которая позволяет намагничивать трубопровод в поперечном по отношению к продольной оси направлении.

Магнитная система содержит несколько секторов, образованных постоянными магнитами и гибкими проволочными щетками. В промежутках между щетками расположены датчики для измерения магнитной индукции.

Рисунок 7 - Принцип поперечного намагничивания трубопровода и регистрации сигналов датчиками типа I (TFI)

На рисунке 7 изображен принцип работы датчиков типа I:

  1. в стенке трубы создается магнитное поле высокой напряженности;

  2. силовые линии магнитного поля будут отклоняться, если на наружной или внутренней поверхности трубы есть потеря металла;

  3. датчики типа I регистрируют изменение индукции магнитного поля вызванное наличием потери металла или другой аномалией.

Технология TFI, а также высокие требования к точности определения размеров дефектов потребовали применения датчиков сверхвысокого разрешения.

  1. Комбинированный магнитный дефектоскоп сверхвысокого разрешения с продольным и поперечным намагничиванием.

Технология комбинированной магнитной диагностики сочетает в себе преимущества технологии, как продольного, так и поперечного намагничивания. Дефектоскопы, построенные по этой технологии (сверхвысокого разрешения), осуществляют намагничивание трубопровода в продольном и поперечном направлениях. Дефектоскоп способен за один прогон собрать всю информацию о дефектах тела трубы и сварных швов вне зависимости от их ориентации.

Задачей комбинированного магнитного дефектоскопа является обнаружение за один пропуск дефектов ориентированных как в продольном, так и в поперечном направлении. Для этого дефектоскоп оснащен магнитными системами для последовательного намагничивания трубопровода в продольном и в поперечном направлении. Каждая магнитная система содержит постоянные магниты и гибкие проволочные щетки. В промежутках между щетками расположены датчики для измерения магнитной индукции. Все датчики имеют сверхвысокое разрешение. Это обусловлено особенностями комбинированной магнитной диагностики, а также высокими требованиями к точности определения размеров дефектов.