
- •Часть II
- •I. Контрольные задания по курсу «электроника» Общие методические указания к контрольным заданиям
- •1. Предварительные теоретические сведения
- •1.1. Биполярные транзисторы
- •1.1.1. Устройство и принцип действия биполярного транзистора
- •1.1.2. Режимы работы транзистора
- •1.1.3. Схемы включения.
- •1.1.4. Физическая модель биполярного транзистора (модель Эберса-Молла)
- •1.1.5. Статические характеристики
- •Характеристики схемы включения транзистора с об
- •Характеристики схемы включения с оэ
- •1.1.6. Дифференциальные параметры транзистора
- •1.1.7. Система h-параметров
- •1.1.8. Определение h-параметров транзистора по статическим характеристикам
- •1.1.9. Схема замещения транзистора для малого сигнала.
- •1.1.10. Роль коллекторной емкости транзистора
- •1.1.11. Транзистор в режиме усиления
- •1.1.12. Основные параметры режима усиления
- •1.1.13. Нагрузочные характеристики транзистора
- •1.1.14. Связь коэффициентов усиления с h-параметрами
- •1.1.15. Усилительные свойства транзистора при различных способах включения
- •1.1.16. Основные способы задания рабочей точки на входных вах биполярного транзистора
- •1.1.17. Ключевой режим работы биполярного транзистора
- •1.1.18. Переходные процессы в биполярном транзисторе
- •1.2. Полевые транзисторы
- •1.2.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •1.2.2. Транзистор с p-n- затвором
- •1.2.3. Вольтамперные характеристики полевого транзистора с p-n-переходом
- •1.2.4. Транзисторы с изолированным затвором (мдп-транзисторы)
- •1.2.5. Вольтамперные характеристики мдп-транзисторов
- •1.2.6. Дифференциальные параметры полевых транзисторов
- •1.2.7. Частотные свойства полевых транзисторов
- •1.2.9. Усилительный режим полевых транзисторов
- •1.2.10. Ключевой режим работы полевых транзисторов
- •1.2.11. Переходные процессы в полевом транзисторе
- •2. Постановка и содержание заданий
- •Задание 1
- •Задание 2
- •Задание 3
- •Задание 4
- •Задание 5
- •Задание 6
- •2.1. Указания по выполнению заданий
- •2.1.1. Указания к заданию 1
- •2.1.2. Указания к заданию 2
- •2.1.3. Указания к заданию 3
- •2.1.4. Указания к заданию 4
- •2.1.5. Указания к заданию 5
- •2.1.6. Указания к заданию 6
- •3.1. Примеры решения заданий
- •3.1.1. Пример решения задания 1
- •3.1.2. Пример решения задания 2
- •3.1.3. Пример решения задания 3
- •3.1.4. Пример решения задачи 4
- •3.1.5. Пример решения задачи 5
- •3.1.1. Пример решения задачи 6
- •II. Вопросы к тестам по курсу «электроника и микроэлектроника» Общие методические указания к тестовым заданиям
- •Тест «Основы электроники», «Полупроводниковые диоды»
- •Полупроводниковый диод включен в прямом направлении, если:
- •Полупроводниковый диод включен в обратном направлении, если:
- •Сравните значения прямого и обратного напряжений полупроводникового выпрямительного диода:
- •Тест «Основы электроники» «Полупроводниковые транзисторы»
- •Тест «Основы электроники» «Интегральные микросхемы»
- •Приложение 1 Статические характеристики транзисторов
- •Приложение 2
- •Приложение 3
- •Приложение 4
1.1.18. Переходные процессы в биполярном транзисторе
Рассмотрим переходные процессы при переключении ключа из состояния “выключено” в состояние “включено” и обратно. На рис. 21 приведены временные диаграммы напряжений, токов и накопленного заряда при включении и выключении транзисторного ключа.
В исходном состоянии на базу транзистора подано запирающее напряжение –EБ. Процесс отпирания транзистора при подаче отпирающего напряжения +E+Б можно разделить на три этапа: задержка фронта, формирование фронта и накопление заряда. Этап: задержки фронта обусловлен заряжением входной емкости запертого транзистора от значения –EБ до напряжения отпирания эмиттерного перехода U (для кремниевого транзистора U0,6В для германиевого U0,2В). Этот процесс протекает с постоянной времени τc
τc=RБCвх (39)
Входную емкость Свх обычно принимают равной сумме барьерных емкостей эмиттерного и коллекторного переходов
Cвх=CЭбар+CКбар (40)
Время задержки фронта определяется формулой
(41)
Ток заряжения входной емкости показан на рис. 21 штриховой линией. В момент t1 открывается эмиттерный переход и начинается инжекция носителей в базу, транзистор переходит в активный режим. На этом этапе коллекторный ток возрастает до значения IКН. Процесс формирования фронта характеризуется эквивалентной постоянной времени τoe
,
(42)
где τ – время жизни неосновных носителей в базе;
- усредненная
емкость коллекторного перехода.
Обычно принимают =1,6СК для сплавных и =1,4СК для дрейфовых транзисторов, где СК – емкость коллекторного перехода запертого транзистора. Длительность фронта tф= t2-t1 определяется формулой
(43)
При S>>1 формула упрощается:
tф = τoe / S (43а)
В конце этапа формирования фронта в базе транзистора накапливается заряд Qгр, а напряжение на коллекторном переходе падает до нуля. После того как транзистор начал работать в режиме насыщения внешних изменений в схеме ключа не происходит. Однако продолжается накопление заряда, причем на данном этапе заряд накапливается не только в базовом, но и в коллекторном, слое. В конце этапа накапливается стационарный заряд Qстац
, (44)
где
- среднее время жизни в базовом и
коллекторном слоях.
Длительность этого процесса составляет примерно 3 . Если длительность входного импульса меньше, чем 3 , накопленный заряд будет меньше стационарного значения.
Процесс выключения начинается в момент t3, когда на базу подается запирающее напряжение. В момент переключения на обоих переходах сохраняется прямое смещение, близкое к U. При этом коллекторный ток остается равным IКН. Базовый ток принимает значение:
(45)
На первом этапе
процесса выключения происходит
рассасывание накопленного заряда за
счет экстракции p-n-переходами
током
и за счет рекомбинации. Скорость изменения
заряда
Окончание этапа рассасывания характеризуется тем, что концентрация избыточных зарядов на коллекторной границе базы падает до нуля и на коллекторном переходе восстанавливается обратное напряжение. Только после этого может начаться уменьшение коллекторного тока и формирование среза импульса. Длительность этого процесса называется временем рассасывания tр или временем задержки среза tхср. В конце этого этапа в базе остается некоторый остаточный заряд Qост. Время рассасывания определяется интегрированием выражения (47) в пределах от до Qост:
(46)
Обычно Qост значительно меньше Qгр, а Qгр<< Qстац, поэтому в первом приближении можно пренебречь остаточным зарядом. Тогда
(46а)
По окончании процесса рассасывания начинается последний этап переходного процесса – запирание транзистора. Длительность запирания обычно определяется процессом заряжения коллекторной емкости, протекающей с постоянной времени τк=RК , длительность среза по уровню IК=0,1IКН равна
tc=2,3 RК (47)
Время включения tвкл и время выключения tвыкл. равны
tвкл= tзф+ tф, tвыкл.= tр+ tс (48)
При практическом определении времен tзф, tф, tр, tс обычно используются уровни 0,1IКН и 0,9IКН