Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
izm_tol.doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.05.2025
Размер:
1.91 Mб
Скачать

6. Оформление результатов

В отчете следует описать: назначение микроинтерферометра, зарисовать схему движения лучей МИИ-4 и полученную интерференционную картину, по результатам измерений рассчитать высоту ступени и вычислить среднее значение толщины выданного пленочного покрытия на подложке.

7. Контрольные вопросы

1. Какие существуют методами измерения толщин пленочных покрытий и в чем их достоинства и недостатки?

2. На каком принципе и как работает микроинтерферометр МИИ-4?

3. Чему в формуле (4) соответствует величина 0,27 мкм?

8. Литература

1. Борн М., Вольф Э., Основы оптики // М.: Наука 1970, 856 с.

2. Комраков Б.М., Шапочкин Б.А., Измерение параметров оптических покрытий // М.: Радио и связь, 1986, 102 с

3. Основы эллипсометрии. Под ред. А.В. Ржанова // М.:Наука, 1979, 424 с.

4. Thin Films for Optical Systems, ed. F.R. Flory, Marcel Dekker // Inc., Berlin, 1995, p.586.

5. Техническое описание и инструкция по эксплуатации микроинтерферометра Линника МИИ-4, 1973.

ОГЛАВЛЕНИЕ

1. Введение..........................................................................................................

2. Методы измерения толщин............................................................................

2.1. Эллипсометрия...................................................................................

2.2. Рентгеновские методы.......................................................................

2.3. Оптические методы контроля...........................................................

2.3.1. Интерферометрия.................................................................

2.3.2. Методы оптической интерференции...................................

3. Микроинтерферометр Линника.....................................................................

3.1. Назначение.........................................................................................

3.2. Технические данные..........................................................................

3.3. Принцип действия..............................................................................

3.4. Оптическая система...........................................................................

3.5. Устройство микроинтерферометра...................................................

4. Задание.............................................................................................................

5. Выполнение работы........................................................................................

5.1. Настройка микроинтерферометра МИИ-4.......................................

5.2. Измерение высоты микронеровностей.............................................

6. Оформление результатов................................................................................

7. Контрольные вопросы.....................................................................................

8. Литература.......................................................................................................

3

3

5

7

8

8

10

12

12

12

12

16

18

21

21

21

23

25

25

25

Вера Матвеевна Елинсон

Андрей Николаевич Лямин

Методические указания к лабораторной работе

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]