
- •1. Введение
- •2. Методы измерения толщин
- •2.1. Эллипсометрия
- •2.2. Рентгеновские методы
- •2.3. Оптические методы контроля
- •2.3.1. Интерферометрия
- •2.3.2. Методы оптической интерференции
- •3.4. Оптическая система
- •3.5. Устройство микроинтерферометра
- •4. Задание
- •5. Выполнение работы
- •5.1. Настройка микроинтерферометра мии-4.
- •5.2. Измерение высоты микронеровностей
- •6. Оформление результатов
- •7. Контрольные вопросы
- •8. Литература
- •Измерение толщины пленок методом микроинтерферометрии
- •109240, Москва, Берниковская наб., 14
6. Оформление результатов
В отчете следует описать: назначение микроинтерферометра, зарисовать схему движения лучей МИИ-4 и полученную интерференционную картину, по результатам измерений рассчитать высоту ступени и вычислить среднее значение толщины выданного пленочного покрытия на подложке.
7. Контрольные вопросы
1. Какие существуют методами измерения толщин пленочных покрытий и в чем их достоинства и недостатки?
2. На каком принципе и как работает микроинтерферометр МИИ-4?
3. Чему в формуле (4) соответствует величина 0,27 мкм?
8. Литература
1. Борн М., Вольф Э., Основы оптики // М.: Наука 1970, 856 с.
2. Комраков Б.М., Шапочкин Б.А., Измерение параметров оптических покрытий // М.: Радио и связь, 1986, 102 с
3. Основы эллипсометрии. Под ред. А.В. Ржанова // М.:Наука, 1979, 424 с.
4. Thin Films for Optical Systems, ed. F.R. Flory, Marcel Dekker // Inc., Berlin, 1995, p.586.
5. Техническое описание и инструкция по эксплуатации микроинтерферометра Линника МИИ-4, 1973.
ОГЛАВЛЕНИЕ
1. Введение.......................................................................................................... 2. Методы измерения толщин............................................................................ 2.1. Эллипсометрия................................................................................... 2.2. Рентгеновские методы....................................................................... 2.3. Оптические методы контроля........................................................... 2.3.1. Интерферометрия................................................................. 2.3.2. Методы оптической интерференции................................... 3. Микроинтерферометр Линника..................................................................... 3.1. Назначение......................................................................................... 3.2. Технические данные.......................................................................... 3.3. Принцип действия.............................................................................. 3.4. Оптическая система........................................................................... 3.5. Устройство микроинтерферометра................................................... 4. Задание............................................................................................................. 5. Выполнение работы........................................................................................ 5.1. Настройка микроинтерферометра МИИ-4....................................... 5.2. Измерение высоты микронеровностей............................................. 6. Оформление результатов................................................................................ 7. Контрольные вопросы..................................................................................... 8. Литература....................................................................................................... |
3 3 5 7 8 8 10 12 12 12 12 16 18 21 21 21 23 25 25 25 |
Вера Матвеевна Елинсон
Андрей Николаевич Лямин
Методические указания к лабораторной работе