
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №2 контроль качества оптических систем по виду дифракционного изображения точки Цель работы
- •Лабораторная работа № 3 Измерение хроматизма оптических систем Цель работы
- •Технические характеристики
- •Измерение хроматической аберрации положения
- •Лабораторная работа № 4 Измерение сферической аберрации оптических систем Цель работы
- •1. Настройка оптической системы.
- •2. Измерение поперечной сферической аберрации.
- •3. Измерение продольной сферической аберрации.
- •Лабораторная работа №5 Измерение дисторсии оптической системы Цель работы
- •Технические характеристики
- •Порядок выполнения работы
- •Лабораторная работа №6 измерение частотно-контрастной характеристики оптической системы Цель работы
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №7 Измерение диаметра наименьшего кружка рассеяния инфракрасных объективов фотоэлектрическим методом Цель работы
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №8 Исследование качества оптической системы теневым методом Цель работы
- •Исследование и контроль качества изображения оптико-электронных приборов
- •420111, Казань, к. Маркса, 10
1. Настройка оптической системы.
Прежде чем приступить к выполнению лабораторной работы, необходимо произвести проверку состояния установки (центрировка и фокусировка). Для этого при снятой диафрагме 5, наблюдая изображение щели 3 в микроскоп, нужно убедиться в том, что при фокусировке микроскопа изображение щели размывается симметрично относительно центра поля окуляра; установить зональную диафрагму на станину и, открыв пару щелей в центре, наблюдать в микроскоп расфокусировку «тройников». Расфокусировка должна происходить также симметрично. В случае если происходит смещение щелей и «тройников» не симметрично, настройку системы производить следующим образом:
1.1. На объектив коллиматора и проверяемый объектив натянуть перекрестие из тонких нитей, определяющих центр объектива и коллиматора.
1.2. Установить лазер ЛГ-56 на оптическую скамью, включить его, подвижкой стойки лазера вывести луч на центр объектива коллиматора.
1.3. Разворотом коллиматора совместить луч лазера со щелью коллиматора.
1.4. Проверить положение объектива коллиматора, если его центр сместится с луча лазера, произвести юстировку параллельным смещением всего коллиматора перпендикулярно оптической оси.
1.5. Если луч лазера попадает на щель коллиматора, то юстировку можно считать законченной. В случае если луч не попадает на щель, то юстировку нужно произвести еще раз начиная с п. 1.3.
1.6. С помощью подвижек исследуемого объектива вывести его центр на луч лазера. Произвести точную центровку объектива. Для чего между объективом и коллиматором нужно поместить плоско – параллельную пластинку под углом 45. Наблюдая через пластинку блики, отраженные от поверхности проверяемого объектива, расположить на горизонтальной линии симметрично относительно блика, отраженного от объектива микроскопа (рис. 4.3), подвижками винтов расположенных на оправе проверяемого объектива.
Рис. 4.3. Блики, наблюдаемые через плоскопараллельную пластинку, расположенную под углом 45
2. Измерение поперечной сферической аберрации.
2.1. Сфокусировать оптическую систему. Критерием фокусировки является четкое изображение светящейся линии, достигаемое изменением ширины щели согласно условию формулы (4.1) и положению микроскопа.
2.2. Выбрать зональную диафрагму согласно условию (4.2) и установить ее в параллельном пучке на минимально возможном расстоянии от плоскости входного зрачка испытуемого объектива перпендикулярно оптической оси.
2.3. Используя дополнительную пластинку с отверстиями, установить зональную диафрагму так, чтобы в центре входного зрачка открылась пара щелей. При этом в микроскоп видно дифракционное изображение (тройник), образованное при прохождении узкого пучка через эту пару щелей (см. рис. 4.2).
2.4. Закрыв половину зональной диафрагмы непрозрачной преградой, определить положение гауссовой плоскости. Для этого, перемещая микроскоп вдоль оптической оси и одновременно открывая соответствующие пары щелей в пределах центральной области входного зрачка объектива (2-3 зоны), добиться такого положения микроскопа, когда при последовательном перемещении щелей дифракционная картина будет неподвижна относительно перекрестия окулярного микрометра.
2.5. Перемещая зональные щели в крайнее от центра зрачка положение до заметного искажения дифракционной картины, определить координату крайнего луча mmax и измерить y'max с помощью окуляр-микрометра, наводя его перекрестие на середину центрального максимума дифракционной картины.
2.6. Смещая пару щелей от центра зрачка последовательно с шагом d, провести измерения соответствующих положений центрального максимума «тройника» y' с помощью окулярмикрометра и занести результаты в таблицу для расчета поперечной сферической аберрации согласно указанному образцу. Измерения проводить не менее 3-5 раз.
j |
m |
y′i |
y′срi |
δy′ |
|
Δi |
||||||||
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
|
|
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
||
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
n |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Примечание: mj=2dj; Δi=y′i-y′срi; δy′=(y′срi- y′ср0)M; где j – положение диафрагмы (отсчет от центра входного зрачка); mj=yj – положение зональной диафрагмы; y′i – отсчет поперечной сферической аберрации по окуляр-микрометру; δy′ – поперечная сферическая аберрация; М – цена деления шкалы микроскопа.
2.7. Вычислить δy′. Для этого нужно построить график аберрации σ′=f(δy′), по оси абсцисс отложить величину δy′ в масштабе 200:1, если δy′≥0,05 мм, или в масштабе 500:1, если δy′<0,05 мм, по оси ординат σ′ в масштабе, при котором σ′ = 0,5 соответствует 50 мм.
2.8. Вычислить погрешность измерения Δδy′ согласно формуле (6.3), используя таблицу для расчета поперечной сферической аберрации.
2.9.
Оценить величину волновой
аберрации методом
графического интегрирования
и дать оценку качества
исследуемого объектива,
используя критерий Релея:
.