
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №2 контроль качества оптических систем по виду дифракционного изображения точки Цель работы
- •Лабораторная работа № 3 Измерение хроматизма оптических систем Цель работы
- •Технические характеристики
- •Измерение хроматической аберрации положения
- •Лабораторная работа № 4 Измерение сферической аберрации оптических систем Цель работы
- •1. Настройка оптической системы.
- •2. Измерение поперечной сферической аберрации.
- •3. Измерение продольной сферической аберрации.
- •Лабораторная работа №5 Измерение дисторсии оптической системы Цель работы
- •Технические характеристики
- •Порядок выполнения работы
- •Лабораторная работа №6 измерение частотно-контрастной характеристики оптической системы Цель работы
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №7 Измерение диаметра наименьшего кружка рассеяния инфракрасных объективов фотоэлектрическим методом Цель работы
- •Технические характеристики
- •Лабораторная работа №8 Исследование качества оптической системы теневым методом Цель работы
- •Исследование и контроль качества изображения оптико-электронных приборов
- •420111, Казань, к. Маркса, 10
Измерение хроматической аберрации положения
Установить в коллиматор интерференционный фильтр с λ0=522 мм.
Установить коллиматор на угол ω=0.
Сфокусировать измерительный микроскоп на плоскость наилучшего видения по центру поля объектива. Снять не менее трех отсчетов С0 по индикатору.
Установить в коллиматор последовательно интерференционные фильтры с λ1=665 нм, λ2=416 нм.
Сфокусировать микроскоп последовательно на щель при λ0, λ1, λ2. Снять отсчёты С1…С3.
Полученные данные занести в таблицу для определения хроматизма положения согласно указанному образцу.
λ, нм |
ωi |
Отсчеты Сiλj в делениях микроскопа |
Среднее Сiλj |
ΔSi′ |
||
С1 |
С2 |
С3 |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Хроматическую аберрацию положения для длин волн определить по формуле:
ΔSi′=Ciλj - Cjλ0
Вычислить погрешности измерений σ, S, Δi
Оценить величину хроматической аберрации положения.
Построить график аберрации δSλ′=f(λ).
По всем полученным данным составить отчет.
Контрольные вопросы
Что такое хроматическая аберрация увеличения, положения?
Каким образом наличие аберраций хроматизма увеличения и положения влияет на качество изображения системы?
Объясните принцип измерения хроматической аберрации положения, увеличения.
От чего зависит точность измерения аберраций?
Почему наблюдение изображения щели производится с помощью микроскопа?
Как влияет увеличение микроскопа на точность измерения аберрации?
Для чего в данной установке применены интерференционные фильтры?
Лабораторная работа № 4 Измерение сферической аберрации оптических систем Цель работы
Измерение поперечной и продольной сферических аберраций оптической системы.
Оценка качества исследуемой системы.
Общие сведения
Сферическая аберрация проявляется в несовпадении фокусов для лучей света, проходящих через осесимметрическую оптическую систему на разных расстояниях от оптической оси этой системы (рис. 4.1). Фокус лучей, проходящий через центральную зону системы 0–0, располагается в гауссовой плоскости Г–Г; фокусы пучков лучей, проходящих через другие кольцевые зоны, находятся ближе гауссовой плоскости для собирающих (положительных) систем и дальше для рассеивающих (отрицательных) систем. Вследствие сферической аберрации изображение, даваемое параллельным пучком лучей, перпендикулярным оси в точке 0, будет иметь вид не точки, а кружка с ярким ядром и ослабевающим по яркости ореолом.
Сферическая аберрация делится на поперечную и продольную. Их сущность рассмотрим по рис. 4.1, где изображены: ход лучей от бесконечно удаленной точки, для различных зон объектива, ограниченного диафрагмой, Г–Г – гауссова плоскость, I–I – плоскость наименьшего кружка рассеяния. Фокус параксиальных лучей лежит в гауссовой плоскости (точка 0), фокусы зон (1–1, 2–2, 3–3) не совпадают с гауссовой плоскостью, поэтому в плоскости Г–Г эти зоны объектива дают вместо точечного изображения кружки рассеивания радиусом δy′. Сходящийся к фокусу пучок перестал быть гомоцентрическим, а изображение точки потеряло резкость и стало размытым, т.е. оптическая система имеет аберрации, которые назвали сферическими. Член-корреспондент АН СССР Д.Д. Максутов называл их еще зональными.
На рис. 4.1 показаны максимальные δy′ – поперечная аберрация, равная радиусу кружка рассеяния в гауссовой плоскости, δs′ – продольная сферическая аберрация, равная отрезку, измеряемому от гауссовой плоскости до фокуса зоны объектива. В случае объектива в виде одиночной линзы δy′ пропорциональна кубу зоны (y3), δs′ – квадрату зоны (y2). Кружок наименьшего рассеяния равен δy′min=0,25·δy′max.
Так как для собирающих линз s' < 0, а для рассеивающих s' > 0, то специальным подбором линз в оптической системе можно почти полностью устранить сферическую аберрацию. У одиночных линз со сферическими поверхностями сферическую аберрацию можно уменьшить, выбирая оптимальное соотношение радиусов кривизны этих поверхностей. При показателе преломления материала линзы n = 1,5 сферическая аберрация минимальна, если отношение радиусов равно 1/6. Уменьшить сферическую аберрацию можно, используя оптические элементы с асферическими поверхностями (например, параболическими).
Рис.4.1. Ход лучей в оптической системе, иллюстрирующий сферическую аберрацию
Аберрации измеряют при оценке качества расчета новых систем, правильности назначения допусков на их изготовление, а также при выборочном контроле серийной продукции.
Если
сравнить величины допустимых
остаточных аберраций
с чувствительностью глаза
,
то станет ясно, что величина
измеряемых аберраций
находится на пределе и
даже за пределами
чувствительности глаза.
Измерение остаточных аберраций корректированных оптических систем фотообъективов, объективов зрительных труб, элементов оборачивающих систем и др. выполняют для выявления соответствия реальных аберраций их теоретическим значениям, на основании чего судят о возможности использования оптической системы по прямому назначению.
Метод визуальных фокусировок, предложенный академиком В.П. Ленником, является наиболее простым и производительным, обеспечивает необходимую точность измерений. Метод основан на опыте Юнга, позволяющем получить две системы интерференционных полос от двух пар отверстий или щелей, симметрично расположенных относительно оптической оси.
Сферическая аберрация измеряется с помощью определения координат точек пересечения с задней фокальной плоскостью лучей, прошедших через отдельные зоны контролируемого объектива.
Описание лабораторной установки
Схема установки, изображенная на рис. 4.2, а, реализована на оптической скамье ОСК – 2ЦЛ.
Рис. 4.2. Схема лабораторной установки для контроля сферической аберрации:
а – схема лабораторной установки, б – зональная диафрагма, в – внешний вид одного элемента диафрагмы, г, д – изображение «тройника»
Прямоугольная щель 3 установлена в заднем фокусе объектива коллиматора и освещается источником света 1 через конденсор 2 со сменным светофильтром С. За объективом 4 установлена зональная диафрагма 5, представляющая собой две пары диаметрально расположенных отверстий в непрозрачном экране, которые могут перемещаться дискретно по радиусу с помощью дополнительной пластинки с отверстиями.
За исследуемым объективом 6 на отсчетной каретке устанавливают микроскоп М, который содержит объектив 7 и сетку 8. Окуляром 9 микроскопа, как правило, служит окуляр-микрометр. Диафрагма 5 выделяет из параллельного пучка лучей, идущих из коллиматора узкий пучок в зоне yi.
В фокальной плоскости объектива 6 формируется дифракционное изображение щели 3, представляющее собой так называемый «тройник» (рис. 4.2, г, д). «Тройник» состоит из трех линий, расположенных параллельно длинной стороне щели 3. Если постепенно открывать различные зоны объектива, то при отсутствии сферической аберрации «тройник» будет неподвижен.
При измерении поперечной сферической аберрации можно использовать только одну диафрагму 5, а значение y' смещения «тройника» измерять с помощью окуляр-микрометра, наводя перекрестие на центральную светлую линию «тройника».
При
наведении нити
окуляр-микрометра на
середину светлой линии
«тройника», который
представляет собой
дифракционное изображение
щели 3
построенное двумя отверстиями
шириной b
(рис. 4.2, в) с расстоянием между
ними d=2b.
Расстояние от центра главного
максимума нулевого
порядка до первого минимума
определяется в угловой
мере выражением
,
где λ – длина волны света. Если
b=0,01f′,
то
.
Линейное
расстояние от центра изображения
до первого минимума
Δ=f′sinφ=25λ,
а ширина всего изображения
равна 50λ, или
0,025 мм. Если принять, что визуальное
изображение можно разделить
нитью на две равные части с
погрешностью до
его ширины, то погрешность
наведения составит 0,005
мм. С учетом других погрешностей
на практике считается,
что погрешность измерения
поперечной аберрации
составит 0,01 … 0,015 мм независимо
от самой аберрации.
При измерении продольной сферической аберрации используют две диафрагмы 5, устанавливая их на симметричных зонах относительно оси объектива 6.
Характеристики установки
Условие, которому должна удовлетворять лабораторная установка, следующие:
Дк=148 мм > Доб; f′к=1600 мм > f′об; σ′м > σ′об; |
|
|
|
|
(4.1) |
b<0,01f′об; d=2b, |
(4.2) |
где Дк, Доб диаметры объективов коллиматора и исследуемого объективов; σ'м, σ'об апертурные углы микрообъектива микроскопа и исследуемого объектива; Гм увеличение микроскопа; b – ширина щелей зональной диафрагмы; d – шаг зональной диафрагмы (расстояние между серединами щелей); а – ширина щели коллиматора.
Параметры зональной диафрагмы приведены в табл. 4.1.
Таблица 4.1.
Параметры зональной диафрагмы.
Вариант |
в, мм |
d, мм |
|
N |
1 |
1,3 |
2,6 |
0,2 |
7 |
2 |
2,5 |
5,0 |
0,3 |
5 |
Примечание: – погрешность изготовления щелей; n – количество зон.
Погрешности измерения аберрации зависят от ряда факторов, приведенных в табл. 4.2:
Таблица 4.2
Факторы, влияющие на погрешности измерения аберрации.
Факторы |
Значение погрешности |
Поперечная наводка |
|
Продольная наводка |
|
Совмещение интерференционных картин |
|
случайная погрешность |
|
систематическая погрешность: |
|
при поперечной наводке |
|
при продольной наводке |
|
Погрешность изготовления щелей |
|
Непараллельность оптических осей |
|
Примечание: σ'ок апертурный угол окуляра; Δd = 0,2 мм; i погрешность отсчета; n – число измерений; Sм величина перемещения микроскопа вдоль оси в процессе измерения в миллиметрах; y, s, из, н систематические погрешности.
Суммарная погрешность может быть оценена в виде:
|
(4.3) |
где
i
составляющие систематической
погрешности; К
= 1, если N
> 4; K
= 1,1, если N
4.
Цена деления микроскопа с окуляр-микрометром 0,1 мкм, цена деления индикатора перемещения микроскопа вдоль оптической оси 0,002 мм.
Порядок выполнения работы