- •Обоснование и выбор типовых конструктивно-технологических решений.
- •Исходные данные и основные соотношения.
- •Алгоритм расчёта интегрального показателя качества аппаратуры.
- •Определение конструктивных параметров микросборок.
- •Определение конструктивных параметров аппаратуры.
- •Расчленение аппаратуры на крупные функционально законченные части.
- •Конструктивные параметры аппаратуры.
- •Структурный анализ аппаратуры на уровне микросхем.
- •Количество типов микросхем.
- •Распределение блоков по типам.
- •Распределение микросхем по типам.
- •Определение параметров надёжности аппаратуры.
- •Интенсивность отказов микросхем.
- •Интенсивность отказов аппаратуры.
- •Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
- •Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и зиПа.
- •Число профилактических осмотров.
- •Комплект зип.
- •Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
- •Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
- •Определение затрат на разработку, производство и эксплуатацию аппаратуры.
- •Затраты на разработку и производство.
- •Затраты на разработку и производство субблоков.
- •Затраты на разработку и производство аппаратуры.
- •Затраты на эксплуатацию аппаратуры.
- •Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
Расчёт интегрального показателя качества аппаратуры и выбор её оптимального конструктивно-технологического решения.
Затраты на обеспечение функционирования аппаратуры определяем по формуле:
где: Зк = Зр + Зп – капитальные вложения;
Ен – нормативный коэффициент эффективности капитальных вложений (Ен = 0,12).
для разъёмной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
для книжной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
для кассетной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
Интегральный показатель качества аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
для книжной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
для кассетной конструкции:
для J1: |
|
для J2: |
|
8.3 Задавая различные значения входных данных в допустимых пределах (например, различный уровень интеграции), оценивают интегральный показатель качества различных вариантов аппаратуры.
Для J=128
Наилучший показатель качества имеет разъемная конструкция. Пи = 4343.
С меньшим показателем качества Пи = 3533 далее идет книжная конструкция.
Наихудший вариант представляет собой кассетная конструкция с Пи = 564
Для J=256
Наилучшим показателем качества обладает разъемная конструкция с Пи =4239.
С меньшим показателем качества Пи = 3948 второй идет книжная конструкция.
Наихудшим интегральным показателем качества Пи = 968 обладает кассетная конструкция.
8.4 По полученным значениям интегральных показателей качества строится функция цели, максимум которой указывает на оптимальный вариант построения аппаратуры микросхем.
З
ависимость
интегрального показателя качества
от уровня интеграции
Зависимость интегрального показателя от варианта конструкции ЭС
(к п.6.1.1.)
(к п.6.1.1.)
Графическое представление интегральных показателей качества аппаратуры при различном конструктивном исполнении.
Вывод:
В настоящей курсовой были рассмотрены уровни интеграции J=128 и J=256, а также три варианта конструкций: книжная, кассетная и разъемная. Расчеты, проведенные в курсовой работе, показывают, что наиболее экономически обоснованным для нашей аппаратуры является выбор варианта разъемной конструкции со степенью интеграции J=128, поскольку при этом достигается наибольшее значение показателя качества.
Как альтернативу, можно предложить разъемную конструкцию аппаратуры со степенью интеграции J=256.
