3.3 Алгоритм пошуку несправностей за тестовим діагностуванням

Діагностування пристроїв тестовими методами передбачає складання алгоритму пошуку несправностей. Розглянемо етапи пошуку несправностей за тестового комбінованого діагностування, відповідно до яких повинен розроблятися алгоритм.

Етап 1.

Проводять структурне тестування ОД шляхом подавання тестових впливів, що найбільш наближені до робочих. Тестові послідовності складають на основі інформації про алгоритм роботи пристрою. Це спрощує їх складання.

Етап 2.

Здійснюють тестування фрагментів структури пристроїв (фрагментів ТЕЗів) шляхом подавання сигналів тестових впливів, що генерують відповідно до часових діаграм роботи цих фрагментів, і зчитування відповідних реакцій в запрограмований момент. Модель фрагменту складають на алгоритмічному або функціональному рівні, що робить простішим складання тестових послідовностей.

Етап 3.

Проводять покомпонентно-структурне тестування, передусім компонентів підвищеного ступеня інтеграції — ВІС і НВІС фрагмента структури. Тестову програму для діагностування розробляють на основі їх моделей.

Контрольні запитання

1. Вкажіть ступені деталізації, що визначають глибину пошуку дефекту, та дайте їх характеристику.

2. Як поділяють методи діагностування за способом їх проведення?

3. Як класифікують види діагностування за характером вхідних впливів?

4. Що розуміють під робочим технічним діагностуванням?

5. Що розуміють під тестовим діагностуванням?

6. Вкажіть види тестового діагностування.

7. Що розуміють під функціональним діагностуванням?

8. Що розуміють під параметричним діагностуванням?

9. Що розуміють під тестовим діагностуванням?

10. Що таке пофрагментне діагностування?

11. Що таке покомпонентне діагностування?

Завдання на самостійну роботу

1. Дайте письмові відповіді на контрольні запитання.

2. Опрацюйте усно тестові запитання.

3. Складіть алгоритм тестування аналогового пристрою за завданням до практичної роботи.

Лекція 4

4. Використання раціональних алгоритмів пошуку несправностей за умовою для діагностики аналогових та аналого-цифрових об’єктів телекомунікацій

4.1 Особливості діагностування аналогових та аналого-цифрових пристроїв

Особливістю діагностування аналогових та аналого-цифрових (АЦ) пристроїв є складність автоматизації процесу діагностування, що зумовлено специфікою їх функціонування. На даний час практично не існує систем, що забезпечують автоматичну побудову тестів для аналогових і аналого-цифрових пристроїв за їх структурним або функціональним описом. Існуючі системи покликані лише допомагати діагносту високої кваліфікації, так що тести будуються практично вручну виходячи із глибоких знань діагноста про схемотехніку й функції ОД.

Традиційний підхід побудови тестів для аналогових та АЦ-пристроїв базується на функціональному тестуванні на основі специфікацій ОД. При цьому звичайно діагност припускає, що в процесі діагностики буде доступна різноманітна контрольно-діагностична апаратура (КДА). Велика кількість специфікацій, висока вартість КДА й вимоги високої кваліфікації персоналу, а також процес діагностування, сполучений з великою кількістю ручних операцій, призводять до низького ступеня автоматизації і в остаточному підсумку до високої вартості традиційного підходу. Треба відмітити суттєве підвищення складності сучасних аналогових та АЦ-пристроїв, що викликане підвищенням ступеня їх інтеграції, тому автоматична генерація тестових послідовностей (АГТП) є важливою і актуальною задачею.

Розглянемо деякі раціональні методи пошуку несправностей за умовою для діагностики аналогових та АЦ-пристроїв, а саме:

• метод на основі аналізу чутливості;

• метод на основі сигнального орієнтованого графу.