
- •Приготовление атомарно-чистых поверхностей
- •Дифракция электронов низких энергий – метод исследования поверхностей твердых тел Возможности метода дифракции медленных электронов (дмэ)
- •Применение кинематической и динамической теории дифракции для расшифровки поверхностной структуры кристаллов
- •Методы расчета поверхностных структур с помощью кинематической теории дифракции
- •Элементы динамической теории электронного рассеяния в кристаллах
- •Влияние тепловых колебаний поверхностных атомов на интенсивность дифрагированных пучков
- •Динамические характеристики поверхностных атомов
- •Двухмерные структуры
- •Феноменологическое описание структуры поверхности кова-лентного кристалла в терминах квантовой химии
- •Атомная структура поверхности скола (111) кремния
- •Природа структуры Si(111)-(21)
- •Структурный переход (21)(11)
- •Межплоскостные расстояния и усредненный внутренний потенциал в приповерхностном слое кремния
- •Значения межплоскостных расстояний и внутреннего потенциала в поверхностном слое.
- •Среднеквадратичные смещения поверхностных атомов и температура Дебая в приповерхностном слое
Атомная структура поверхности скола (111) кремния
Непосредственно после скола от атомарно-чистой поверхности (111) кремния наблюдали дифракционные картины двух типов. На рис. 7.3 изображены фотография картины ДМЭ первого типа и соответствующая ей обратная решетка. Для дифракционной картины этого типа характерно появление "дробных" ("полуцелых") рефлексов вдоль одного из направлений <111>, которые отсутствуют в случае объемной дифракции и свидетельствуют о реконструкции поверхности (см. картину ДМЭ для нереконструированной поверхности (111) на рис. 7.4). Используя правила, связывающие прямую и обратную решетку, определяли размеры и конфигурацию двухмерной элементарной ячейки на поверхности. Ячейка имела вид параллелограмма, образованного отрезками вдоль <110>, вектор трансляции вдоль одной из сторон вдвое больше, чем в объеме, а вдоль другой совпадает с объемным значением. Такая элементарная ячейка соответствует реконструированной структуре (21).
При перемещении первичного пучка электронов вдоль исследуемой поверхности были зафиксированы участки с другим типом дифракционных картин (рис. 7.5). Дифрактограммы этого типа содержат «полуцелые» рефлексы во взаимно пересекающихся лауэвских зонах. Такое чередование «целых» и «дробных» рефлексов по взаимно пересекающимся зонам позволяет предположить, что дифракционная картина формировалась от поверхности, различные участки которой имели сверхструктуру (2x1), т.е. поверхность имела доменную структуру (рис. 7.5).
Появление реконструкции (21) хорошо описывается моделью «поднятых» и «опущенных» атомов. Увеличение периода трансляции поверхностной элементарной ячейки в одном направлении вдвое по сравнению с объемным значением можно объяснить поочередным опусканием и подниманием атомных рядов, рис. 7.6.
При этом атомы поднятого слоя займут промежуточное положение между тетраэдрической и тригонально-пирамидальной конфигурациями, а атомы опущенного ряда – между тригонально-плоской и тертраэдрической конфигурациями.
Элементарные
ячейки, обозначенные пунктиром,
эквивалентны: базируются на одной
системе «поднятых» и «опущенных» атомов.
Элементарная ячейка, обозначенная
штрих-пунктиром, может базироваться
только на другой системе «поднятых» и
«опущенных» атомов, не адекватной
и
зображенной
на рис. 7.6.
Кристаллографический
анализ показывает, что на поверхности
(111) алмазной решетки можно выбрать
только две неадекватные ориентировки
<
110>,
подъем и опускание атомов вдоль которых
приводят к двум неэквивалентным
ориентациям элементарной ячейки (рис.
7.6 и 7.7).
Природа структуры Si(111)-(21)
Реконструированная структура (21) наблюдается на поверхности скола (111) кремния в вакууме не хуже 10-7 Па. На поверхностях, полученных методом ионной бомбардировки с последующим отжигом (ИБО), реконструкцию типа (21) не наблюдали. Поскольку все другие методы получения атомарно-чистой поверхности к реконструкции этого типа не приводят и структура (21) является метастабильной, естественно сделать предположение, что появление реконструкции (21) определяется механизмом раскалывания монокристаллов. Обсудим один из возможных механизмов.
Для ковалентных кристаллов со структурой алмаза скалывание происходит по плотноупакованной плоскости спайности (111), а связи разрываются по плотноупакованным атомным рядам <110>. В момент разрыва связей плотно-упакованный атомный ряд <110> вследствие упругих напряжений связей должен быть смещен наружу от решетки кристалла, т.е. приподнят над плоскостью (111). Кооперативное смещение атомов ряда <110> на "линии разрыва связей" приведет к кооперативному смещению атомов предшествующего ряда (с "разорванными связями") в обратном направлении (см. рис. 7.7) внутрь образующейся поверхности (111). Смещение второго ряда вызовет смещение следующего и т.д. В такой модели по поверхности от линии скола распространяется упругая волна "подъема и опускания" рядов <110>. Это упорядочение, по-видимому, сохраняется после скола в виде метастабильной структуры (21), которая при слабых энергетических возмущениях переходит в разупорядоченную структуру "поднятых" и "опущенных" атомов. Таким образом, образование двухмерной структуры (21) должно быть связано с ориентацией проекции раскалывающей силы на плоскости (111) относительно рядов <110>.
Рассмотрим
в рамках такой модели процесс образования
доменной структуры (21).
Из эксперимента и приведенного выше
модельного представления следует, что
элементарная ячейка (21)
своим длинным ребром всегда ориентирована
вдоль кристаллографических направлений
<110>, по которым идет раскалывание.
На поверхности (111) кремния (см. рис. 7.6 и
7.7) можно выделить три типа ориентации
плоской элементарной ячейки и,
следовательно, три типа доменов с
различной ориентацией структуры (21).
Из рис. 7.6 и 7.7 видно, что ориентирование
элементарной ячейки в двух различных
направлениях [
]
и [
],
а значит, и возникновение доменов с
такими ориентациями структуры (21)
будут соответствовать появлению
дифракционной картины, чередование
целых и полуцелых рефлексов которой
характеризует однородную поверхность
со сверхструктурой (21).
И, наоборот, при ориентации элементарной
ячейки в двух направлениях [
]
и [
]
реальные электронограммы от сколотой
поверхности с доменной сверхструктурой
(21)
могут быть представлены как суперпозиция
картин дифракции от участков поверхности
с неадекватной ориентацией элементарных
ячеек.
Рассмотрим
два крайних случая: когда скалывающее
усилие приложено перпендикулярно к
направлению плотноупакованных атомных
рядов или направлено под углом к ним,
по кристаллографическим направлениям
[
]
и [
]
соответственно, рис. 7.8.
Из рис. 7.8 видно, что при условии реализации предложенной модели, в первом случае будут опускаться и подниматься плотноупакованные атомные ряды [ ], что соответствует образованию однородной поверхности со структурой (21). Во втором случае элементарная ячейка может быть ориентирована в двух направлениях, и на сколотой поверхности образуется доменная сверхструктура (21).
Для
подтверждения модели провели следующий
эксперимент. Одна группа кристаллов
была ориентирована так, что проекция
раскалывающей силы на плоскости (111)
была направлена вдоль [
]
(поверхность, где проводили надрез
соответствовала (
)),
т.е. перпендикулярно к [
]
(линия разрыва связей). Вторая группа
была ориентирована так, что проекция
раскалывающей силы располагалась вдоль
[
],
и следовательно, под углом к ряду [
]
(см. рис. 7.8 и 7.9). В первом случае ожидали
получить чистую бездоменную структуру
(21),
во втором – доменную с близким к единице
соотношением двух ориентации ячейки
(21),
чему соответствовал
а
бы близкая интенсивность полученных
рефлексов в пересекающихся зонах на
картинах ДМЭ.
кспериментально
была установлена только качественная
корреляция результатов с моделью. Чистую
недоменную структуру (21)
на поверхности (111) кремния не наблюдали,
хотя в той или иной степени доменная
структура присутствует всегда. Вероятно,
это связано с невозможностью точной
ориентации (правда, модель предполагает
фокусировку сил вдоль плотных рядов)
или расфокусировкой ориентации
действующих сил из-за дефектов (ядра
дислокаций).
Следует также учесть, что наблюдаемое различие интенсивностей полуцелых рефлексов во взаимно пересекающихся зонах Лауэ, возможно, имеет тривиальное объяснение: различное соотношение площадей, занимаемых разными неадекватными ориентациями ячейки (21) в области электронного пучка.
Для используемых значений энергии первичных электронов когерентная длина электронов составляет 101-102 нм, что близко к размерам отдельных доменных участков.