
- •Приготовление атомарно-чистых поверхностей
- •Дифракция электронов низких энергий – метод исследования поверхностей твердых тел Возможности метода дифракции медленных электронов (дмэ)
- •Применение кинематической и динамической теории дифракции для расшифровки поверхностной структуры кристаллов
- •Методы расчета поверхностных структур с помощью кинематической теории дифракции
- •Элементы динамической теории электронного рассеяния в кристаллах
- •Влияние тепловых колебаний поверхностных атомов на интенсивность дифрагированных пучков
- •Динамические характеристики поверхностных атомов
- •Двухмерные структуры
- •Феноменологическое описание структуры поверхности кова-лентного кристалла в терминах квантовой химии
- •Атомная структура поверхности скола (111) кремния
- •Природа структуры Si(111)-(21)
- •Структурный переход (21)(11)
- •Межплоскостные расстояния и усредненный внутренний потенциал в приповерхностном слое кремния
- •Значения межплоскостных расстояний и внутреннего потенциала в поверхностном слое.
- •Среднеквадратичные смещения поверхностных атомов и температура Дебая в приповерхностном слое
Элементы динамической теории электронного рассеяния в кристаллах
Важнейшие элементы динамической теории рассеяния были обсуждены Бетте, Слэтером и Морсом. В основе этой теории лежит представление о глубоком взаимодействии между электронной волной, падающей на кристалл, и атомами кристаллической решетки.
Основной
задачей в динамической теории рассеяния
является изучение характера потенциального
поля внутри кристаллической решетки и
на ее границе. Внутренний потенциал
кристаллической решетки (),
являющийся
периодической функцией координат (
),
можно
представить в виде тройного ряда Фурье:
, (4.5)
где Н – вектор обратной решетки; нулевой член разложения V0 представляет собой средний внутренний потенциал
Положение максимумов I/U – кривых с учетом внутреннего потенциала описывается формулой
, (4.6)
где Vn – ускоряющий потенциал, соответствующий максимуму n-го порядка при отражении от семейства плоскости с межплоскостным расстоянием d; Vэфф – эффективный потенциал, связанный с внутренним потенциалом кристалла соотношением:
. (4.7)
Влияние тепловых колебаний поверхностных атомов на интенсивность дифрагированных пучков
У поверхностных атомов в отличие от объемных координационная сфера не замкнута. Это приводит к изменению динамических характеристик поверхностных решеток: фотонного спектра, среднеквадратичных смещений атомов, степени изотропности смещений и др.
Теоретические исследования динамических характеристик поверхностных атомов были начаты Калашниковым, который вычислил среднеквадратичные смещения поверхностных атомов в приближении изотропного континуума. В последнее время появилось несколько новых теоретических работ, где вычислен средний квадрат амплитуды атома, находящегося на поверхности (100) простого кубического кристалла и взаимодействующего только со своими ближайшими соседями. Эти работы предсказывают, что среднеквадратичное смещение для поверхностных атомов должно быть больше, чем для атомов в объеме кристалла, и что с увеличением расстояния от свободной поверхности амплитуда колебаний поверхностного атома быстро стремится к своему объемному значению. Вычисления Рича показывают, что колебания атомов в пятом атомном слое практически неотличимы от колебаний атомов в объеме.
Экспериментальные исследования динамических свойств поверхностных атомов впервые были выполнены с помощью метода дифракции электронов низких энергий. Обычно для выявления эффектов, связанных с тепловым движением атомов, приходится проводить эксперименты в определенном интервале температур. Для определения динамических характеристик поверхностных атомов (температура Дебая, среднеквадратичные смещения атомов) снимается температурная зависимость интенсивности дифракционного рефлекса I=f(T)). Зависимость I=f(T) обусловлена тепловыми колебаниями решетки и в гармоническом приближении характеризуется фактором Дебая-Валлера (е-2M):
, (5.1)
где
– проекция среднеквадратичного смещения
атомов на направление разности векторов
падающего и отраженного лучей.
В высокотемпературном приближении теории Дебая:
, (5.2)
где – характеристическая температуре Дебая; h – постоянная Планка; k – постоянная Больцмана; т – масса атома.
Для соединений надо пользоваться приведенной массой mnp :
, (5.3)
где m1 и m2 – массы атомов компонентов; p1 и p2 – атомные доли компонентов в соединении.
Таким образом, имея экспериментально установленные зависимости I=f(T), по наклону графиков log I=f(T) при помощи формул (5.1) и (5.2) можно вычислить значения и . Если результаты получены для зеркально отраженного луча (00), вектор рассеяния которого перпендикулярен к плоскости, то рассчитанные среднеквадратичные смещения атомов являются нормальными к поверхности.
Изменяя энергию первичных электронов (т.е. изменяя глубину проникновения электронов), по зависимостям (5.1) и (5.2) можно определить характер изменения и при переходе от поверхности к объему.
Определенную таким образом характеристическую температуру Дебая так же, как и найденную по рассеянию рентгеновских лучей и эффекту Мессбауэра, обозначают как "рентгеновская" температура Дебая (р). Различают дебаевскую температуру, получаемую из данных по теплоемкости (с). р не совпадает с с. Причина этого заключается в том, что р и с связаны с различными участками фононного спектра кристаллов.
В
настоящее время с помощью метода ДМЭ
для граней (111)Si,
(111)А и (
)В
GaAs
определены характеристические температуры
Дебая и среднеквадратичные амплитуды
колебаний атомов в поверхностном слое
(табл. 5.1).
Таблица 5.1.