- •Основные разделы дисциплины
- •Часть 1
- •Часть 2
- •Часть 3
- •Часть 4
- •Часть 1
- •1.1. Классификация оэп
- •1.2. Обобщенная структурная схема оэп
- •1.3. Структурные схемы и методы измерений
- •Часть 2 Основные энергетические и световые характеристики излучения
- •Шумовые параметры оэп
- •Часть 3 Модуляция светового потока
- •Часть 4 Применение оптико-электронных приборов
- •Часть 5 Спектральные приборы
1.3. Структурные схемы и методы измерений
Обобщенная структурная схема ОЭП позволяет установить назначение отдельных его узлов, однако она не отражает связи структуры прибора с методами измерений.
Виды измерений
В зависимости от того, чем характеризуется измеряемая величина, различают: амплитудные, частотные и фазовые измерения. Измерение постоянных, а также медленно изменяющихся величин относится к амплитудным измерениям. При импульсном характере изменения величины возможны время- импульсные измерения, являющиеся во многих случаях разновидностью фазовых измерений. Измерение сводится к сопоставлению тем или иным способом измеряемой величины с ее эталоном. В приборах используются эталонные образцы, соответствующие измеряемой величине и методу измерения.
Методы амплитудных измерений, Приборы с одним оптическим каналом
Прибор, в котором излучение источника электромагнитной энергии распространяется по одному определенному оптическому пути называется одноканальным. В оптический канал может быть установлен эталонный либо исследуемый образец. При размещении образца в оптическом канале используемый поток источника излучения частично поглощается или рассеивается. Измеряя прошедший поток можно получить информацию о свойствах образца (рис.2).
Рис. 2. Структурная схема одноканального прибора:
1 – источник излучения; 2 – исследуемый образец; 3 – приемник; 4 – усилитель; 5 – индикатор
Автоматизация измерений (рис. 3).
Рис.3. Структурная схема одноканального прибора с индикатором нуля:
1 – источник излучения; 2 – поляризатор; 3 – объект измерения;
4 – анализатор; 5 – приемник; 6 – усилитель; 7 – индикатор нуля;
8 - шкала
Методы амплитудных измерений, Приборы с двумя оптическими каналами
Схема амплитудных измерений с двумя оптическими каналами показана на рис. 4.
Рис. 4. Структурная схема двухканального прибора: I , II – эталонный и измерительный каналы;
1 – источник излучения; 2 – эталон с постоянным поглощением; 3 – оптический клин; 4 – объект измерения; 5, 6 – приемники; 7 – усилитель; 8 – двигатель; 8 – шкала
Схема включения приемников производится по мостовой схеме (рис.5).
Рис. 5. Схема включения приемников двухканальном приборе
Автоматизация измерений
На рис.6 показан способ автоматизации отсчетов. Выходное напряжение усилителя приложено к управляющей обмотке реверсивного двигателя. При неравенстве потоков на выходе усилителя появляется переменное напряжение и вал двигателя начинает вращаться. Вращение вала преобразуется в поступательное перемещение оптического клина.
Рис. 6. Структурная схема двухканального прибора с поочередным сопоставлением потоков:
1 – источник излучения; 2 – эталон с постоянным поглощением; 3 – оптический клин; 4 – исследуемый объект; 5 – диск; 6 – приемник; 7 – усилитель; 8 – двигатель; 9 – шкала; 10 – двигатель модулятора
Рис. 7. Напряжение потоков на нагрузке приемника в приборе с сопоставлением потоков:
Применение частотных измерений
Двухканальные структуры приборов используются в интерференционных приборах. Изменение интерференционной картины позволяют получать определенные сведения об объекте измерения.
Рис. 8. Схема интерференционного прибора:
1 – источник излучения; 2 – полупрозрачная пластина;
3 – неподвижное зеркало; 4 – подвижное зеркало; 5 – приемник; 6 – усилитель;
Рис. 9. Зависимость потока от разности оптических
путей в интерфереционном приборе
Применение фазовых измерений
Поток излучения полупроводникового лазера примерно пропорционален току в его цепи. Прикладывая гармоническое напряжение к цепи лазера, можно получить изменение потока, близкие к синусоидальным. Фазы изменения потока и напряжения одинаковы. Синусоидально изменяющийся поток можно использовать для фазовых измерений. Излучение полупроводникового лазера распространяется до отражателя, установленного на расстоянии D от дальномера. Отраженное излучение возвращается к фотоприемнику (рис. 10).
Рис. 10. Схема светодальномера:
а – структура устройства; б – графики напряжений;
