- •В.Ф. Сухова, д.А. Борисов физика полупроводников
 - •Основы физики полупроводников Структура полупроводников. Зонная модель и модель ковалентной связи
 - •Образование носителей заряда в собственных полупроводниках
 - •Примесная электропроводность полупроводников
 - •Закон действующих масс и принцип нейтральности полупроводника
 - •Процессы электропроводности в полупроводниках
 - •Дрейф носителей заряда
 - •Диффузия носителей заряда
 - •Оптические свойства полупроводников
 - •Собственное поглощение
 - •Примесное поглощение
 - •Фоторезистивный эффект
 - •Контакт полупроводников p- и n-типа
 - •Образование электронно-дырочного перехода
 - •Электронно-дырочный переход под прямым напряжением
 - •Электронно-дырочный переход под обратным напряжением
 - •Вольтамперная характеристика реального p-n перехода
 - •Пробой электронно-дырочного перехода
 - •Влияние температуры на ход вольтамперной характеристики p-n перехода
 - •Лабораторные работы Лабораторная работа №1 Исследование вольтамперных характеристик p-n переходов с различной площадью переходов и шириной запрещенной зоны полупроводника
 - •Описание лабораторной установки
 - •Задания на лабораторную работу
 - •Вопросы для допуска к работе
 - •Контрольные вопросы и задания
 - •Лабораторная работа №2 Исследование влияния температуры на вольтамперную характеристику p-n перехода
 - •Описание лабораторной установки
 - •Задания на лабораторную работу
 - •Вопросы для допуска к работе
 - •Контрольные вопросы и задания
 - •Лабораторная работа №3 Исследование электрических режимов пробоя p-n перехода
 - •Описание лабораторной установки
 - •Задания к лабораторной работе
 - •Вопросы для допуска к работе
 - •Контрольные вопросы и задания
 - •Лабораторная работа №4 Исследование оптических свойств полупроводника
 - •Описание лабораторной установки
 - •Задания на лабораторную работу
 - •Вопросы для допуска к работе
 - •Контрольные вопросы и задания
 - •Библиографический список
 - •Оглавление
 
Примесная электропроводность полупроводников
Если в полупроводник ввести примесь другого вещества, то дополнительно к собственной появляется еще и примесная электропроводность, которая в зависимости от рода примеси может быть электронной или дырочной.
При введении в монокристалл четырехвалентного кремния атома пятивалентного элемента, например фосфора, четыре из пяти валентных электронов фосфора вступают в связь с четырьмя электронами соседних атомов кремния. Пятый же электрон фосфора, который слабо связан с ядром, легко отрывается фононом и становится свободным. В результате к собственным свободным электронам кремния добавляются электроны примесного происхождения. Проводимость при этом становится преимущественно электронной. Такие полупроводники называют электронными или полупроводниками n-типа. Механизм образования такого полупроводника показан на рис. 5, а.
Примесь, атомы которой легко отдают электроны, называют донорной (донор означает дающий, жертвующий). Сами же атомы донорной примеси превращаются в неподвижные ионы с единичным положительным зарядом, то есть ионизируются.
 
	а 
	б
Рис. 5. Образование примесных полупроводников n-типа:
а – модель ковалентной связи; б – зонная модель.
С точки зрения зонной
модели введение в кремниевый полупроводник
донорной примеси приводит к появлению
в запрещенной зоне вблизи дна зоны
проводимости дополнительных энергетических
уровней, на которых находятся слабо
связанные с ядром валентные электроны.
Поскольку примесных атомов в полупроводнике
сравнительно мало, а расстояние между
ними достаточно велико, они практически
не взаимодействуют между собой. Поэтому
примесные уровни не расщепляются в зону
и показываются на зонной диаграмме как
один уровень (рис. 5, б). Разность
энергий между примесным уровнем и
уровнем дна зоны проводимости 
настолько мала, что уже при комнатной
температуре все электроны с примесных
уровней переходят в зону проводимости.
Эти электроны добавляются к собственным,
возникающим в процессе термогенерации,
и полупроводник становится электронным.
Концентрация электронов и дырок в таком
полупроводнике обозначается с индексами
«n» (n –
negative), и их количество в
отличие от собственного полупроводника
является неодинаковым. Так, концентрация
электронов становится больше на величину
концентрации донорной примеси 
,
а дырок в n-полупроводнике
оказывается меньше, чем в собственном:
,
.
Последнее неравенство объясняется тем, что в электронном полупроводнике свободных электронов гораздо больше, чем в собственном, а значит, происходит больше актов рекомбинации. Электроны в полупроводнике n-типа принято называть основными носителями заряда, а дырки – неосновными.
Если в монокристалл кремния вводить атомы трехвалентного элемента, например бора, то три его валентных электрона вступают в связь с тремя валентными электронами кремния. Для образования устойчивой восьмиэлектронной оболочки атому бора не хватает одного электрона, и он забирает его у соседнего атома кремния. Сам атом бора превращается в неподвижный ион с единичным отрицательным зарядом (см. рис. 6, а). Такие примеси называют акцепторными, то есть принимающими электрон. У соседнего атома кремния в этом случае появляется незаполненная валентная связь, или дырка. Эти дырки добавляются к дыркам собственного полупроводника.
 
	а 
	б
Рис. 6. Образование примесных полупроводников р-типа:
а – модель ковалентной связи; б – зонная модель.
С точки зрения зонной
модели полупроводника атомы акцепторных
примесей создают дополнительные
свободные энергетические уровни в
запрещенной зоне вблизи потолка валентной
зоны. На эти уровни легко переходят
электроны из валентной зоны, создавая
в ней дополнительные дырки 
(см. рис.
6, б). Полупроводник становится
дырочным или полупроводником
р-типа. Концентрации электронов и дырок
в таком полупроводнике обозначают с
индексами «р» (р – positive).
Дырок в валентной зоне становится больше
на величину концентрации акцепторной
примеси 
,
а количество электронов уменьшается в
результате рекомбинаций:
,
.
