
- •Электроника и микроэлектроника
- •1 Выпрямительный диод
- •1.1 Теоретические сведения
- •4 Гост 25529-82. Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров.
- •2 Варикап
- •2.1 Теоретические сведения
- •4 Гост 25529-82. Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров.
- •3 Стабилитрон
- •3.1 Теоретические сведения
- •4 Гост 25529-82. Диоды полупроводниковые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров.
- •4 Биполярный транзистор
- •4.1.1 Устройство и принцип действия
- •5 Полевой транзистор
- •5.1 Теоретические сведения
- •5.1.1 Типы полевых транзисторов, принцип действия, область применения
- •5.1.2 Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •5.1.2.1 Устройство и принцип действия
- •5.1.2.2 Статические характеристики полевого транзистора с управляющим p-n-переходом
- •5.1.3.1 Устройство и принцип действия
- •5.1.3.2 Статические характеристики моп-транзисторов с индуцированным каналом
- •5.1.4.1 Устройство и принцип действия
- •Пример оформления отчета по лабораторной работе
5.1.3.1 Устройство и принцип действия
Упрощенная структура МОП-транзистора с индуцированным каналом n-типа показана на рисунке 5.5. В полупроводнике p-типа, называемом подложкой, методом диффузии образованы две n+ -области, не имеющие между собой электрического соединения. Одна из них называется стоком, другая – истоком. Эти области отделены друг от друга двумя включенными встречно p-n-переходами, образованными на границах n+- и p-областей. Поэтому если между стоком и истоком включить источник постоянного напряжения UСИ, то в цепи потечет очень малый ток, обусловленный обратным током p-n-переходов.
Рисунок 5.5 – структура МОП-транзистора с индуцированным каналом n-типа
Если к металлическому затвору приложить положительное напряжение относительно подложки, то под действием электрического поля начнется оттеснение дырок от поверхности полупроводника, расположенной напротив затвора, в глубину полупроводника. В результате этого концентрация дырок в приповерхностном слое уменьшается, а концентрация электронов увеличивается. При некотором значении внешнего напряжения на затворе концентрация электронов в этом слое может оказаться больше, чем концентрация дырок. Произойдет инверсия типа электропроводности. Слой с инверсной электронной электропроводностью, отделенный от полупроводника p-типа областью, обедненной свободными носителями заряда, соединяет n+-области стока и истока, т. е. служит каналом.
Если между стоком и истоком включить внешний источник напряжения UСИ, то при некотором значении напряжения на затворе, которое называется пороговым (UЗИ пор), в цепи сток – исток пойдет электрический ток. В канале транзистора этот ток обусловлен движением электронов. Так как электроны должны двигаться от истока к стоку, источник внешнего напряжения UСИ следует подключать положительным полюсом к стоку, а отрицательным – к истоку. Из-за падения напряжения на канале при прохождении по нему тока поперечное электрическое поле вблизи истока оказывается больше, чем вблизи стока, вследствие чего концентрация электронов в канале у истока больше, чем у стока. При увеличении положительного напряжения на затворе концентрация электронов в инверсном слое в будет увеличиваться. Это приведет к увеличению электропроводности канала и к росту тока стока. Режим работы полевого транзистора, при котором увеличение абсолютного значения напряжения на затворе приводит к увеличению тока стока, называется режимом обогащения. Следовательно, МОП-транзисторы с индуцированным каналом могут работать только в режиме обогащения и поэтому их иногда называют полевыми транзисторами обогащенного типа.
На рисунке 5.6 даны условные графические обозначения МОП-транзисторов с индуцированным каналом.
а) б)
Рисунок 5.6 Условное графическое обозначение МОП-транзистора с индуцированным каналом n-типа (а) и p-типа (б)
5.1.3.2 Статические характеристики моп-транзисторов с индуцированным каналом
На рисунке 5.7 показаны статические выходные (стоковые) характеристики МДП-транзистора с индуцированным каналом p-типа. Эти характеристики снимаются при напряжениях на затворе, превышающих пороговое напряжение.
Рисунок 5.7 – выходные (стоковые) характеристики МДП-транзистора с индуцированным каналом p-типа
Если бы с ростом напряжения UСИ ширина индуцированного канала не изменялась, его сопротивление оставалось бы постоянным, а зависимость IC = f (UСИ) – линейной. Но при увеличении тока стока увеличивается падение напряжения на сопротивлении канала, вследствие чего он вблизи стока сужается. Когда ток стока достигает определенного значения, канал вблизи стока почти перекрывается и происходит ограничение тока стока, как в транзисторах с управляющим p-n-переходом.
При увеличении отрицательного напряжения на затворе стоковые характеристики смещаются вверх. Это обусловлено увеличением ширины канала и его электропроводности.
Анализ показывает, что стоковые характеристики МДП-транзисторов описываются следующими аналитическими зависимостями:
в крутой области
;
(6)
в пологой области
.
(7)
Здесь
– коэффициент (А/В)2,
именуемый удельной крутизной. Как видно
из формулы, она зависит от длины и ширины
канала, материала диэлектрика и его
толщины, а также от подвижности носителей
в канале..
Статические характеристики передачи, или стокозатворные характеристики МОП-транзистора с индуцированным каналом, выражают зависимость IC = f (UЗИ) при UСИ = const. Эти характеристики (рисунок 5.8) обычно приводятся для режима насыщения и описываются уравнением (7).
Рисунок 5.8 – Передаточные (стокозатворные) характеристики МОП-транзистора с индуцированным каналом p-типа
5.1.4 МОП-транзисторы со встроенным каналом