
- •І.Ю. Проценко, л.В. Однодворець технологія одержання і фізичні властивості плівкових матеріалів та основи мікроелектроніки (практикуми)
- •Розділ 1 лабораторний практикум
- •1.1 Правила техніки безпеки під час виконаннЯ лабораторних робіт
- •1.2 Практикум «Технологія плівкових матеріалів»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні питання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •1.4 Практикум «Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •1.5 Практикум «основи опто- і мікроелектроніки»
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •1. Режим прямого ввімкнення
- •2. Режим зворотного ввімкнення
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Контрольні запитання
- •Список літератури
- •Порядок виконання роботи
- •Список літератури
- •Розділ 2 практичні заняття
- •2.1 Практикум «Фізичні явища в тонких плівках»
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •2.2 Практикум «Технологія наноструктурованих матеріалів»*
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв'язування
- •Список літератури
- •2.3 Практикум «Датчики неелектричних величин»
- •Задачі для розв’язування
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •2.4 Практикум «Прилади і методи дослідження плівкових матеріалів»
- •Питання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Запитання семінару
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •2.5 Практикум «Основи мікроелектроніки»
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Задачі для розв’язування
- •Список літератури
- •Технологія одержання і фізичні властивості плівкових матеріалів та основи мікроелектроніки (практикуми)
Список літератури
Прищепа М.М. Мікроелектроніка. Ч.1. Елементи мікроелектроніки / М.М.Прищепа, В.П.Погребняк. - Київ: Вища школа, 2004. - 432 с.
Ігумнов Д.В.Основи мікроелектроніки / Д.В. Ігумнов, Г.В. Корольов, І.С. Громов.– Київ: Вища школа, 2004. – 252 с.
Ефимов И.Е. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность / И.Е. Ефимов, И.Я. Козырь, Ю.И. Горбунов. - М.: Высшая школа, 1986. -464 с.
Однодворець Л.В. Основи мікроелектроніки. – Суми: Вид-во СумДУ, 2005. – 112 с.
Заняття 3. Фізичні процеси в p-n-переході
Методичні вказівки. При розв’язуванні задач використовуються такі співвідношення:
1) висота потенціального бар’єра визначається за умов, що p-n- перехід виникає в тому місці пластини, де концентрація акцепторної домішки дорівнюватиме концентрації донорної домішки:
де
k
– стала Больцмана; Т – температура; q
– заряд електрона;
і
-
концентрації
акцепторної і донорної домішок відповідно;
2) товщину області просторового заряду можна визначити за формулою
де
-
діелектрична проникність середовища
(у даному випадку повітря
=1
);
-
універсальна діелектрична стала
(
=8,85.10-12
Ф/м.);
3) максимальна напруженість електричного поля фіксується на «металургійній» межі переходу (при х=0) і може бути розрахована за формулою :
де kT – градієнт концентрації;
4)
питома ємність за умов рівноваги і
зовнішнього зміщення
;
5) концентрації надлишкових неосновних носіїв заряду можна визначити за формулами
де
- напруга прямого зміщення;
6)
концентрації неосновних носіїв заряду
в кожній із областей за умов рівноваги
та
визначаються за законом діючих мас на
межі «металургійного» переходу
;
7) для розрахунку повного струму скористаємося формулою
де Wn і Wp - товщина областей у напрямі проходження електронів та дірок відповідно; Ln і Lp - дифузійна довжина електронів в області p-типу та дірок в області n-типу відповідно; UT – значення напруги при конкретній температурі; Dn і Dp - коефіцієнти дифузії електронів і домішок відповідно;
8) зворотний струм насичення діода розраховується за формулою
9)
вольт-амперна характеристика ідеального
діода описується за формулою
;
10)
величина струму насичення
може
бути розрахована за діодною
або
дифузійною теоріями
;
11)
ширина області просторового заряду
визначається за формулою
.
Задачі для розв’язування
Задача 11. Діод із р-n- переходом створено методом дифузії акцепторної домішки р-типу (бор) у рівномірно леговану силіцієву пластину n-типу провідності з концентрацією домішки 1,1.1021 ат/м3 так, що виник лінійний перехід із градієнтом концентрації kT=1.1028 ат/м2. Товщина областей у напрямі проходження носіїв заряду Wn=1,5 мкм, Wp=2 мкм. Дифузійна довжина дірок в області n-типу Lp= 30 мкм, а дифузійна довжина електронів в області p-типу Ln=20 мкм. Коефіцієнт дифузії домішок Dp=1,2.10-3 м/с2, а коефіцієнт дифузії електронів Dn=3,4.10-3 м/с2. Площа p-n- переходу діода S=300 мкм2.
1. Розрахувати висоту потенціального бар’єра; товщину області просторового заряду за умов рівноваги; максимальну напруженість внутрішнього електричного поля в області просторового заряду; товщину області просторового заряду за умов зворотного зміщення переходу. Напруга зворотного зміщення URD= -5 B.
2. Визначити питому ємність переходу за відсутності зовнішнього зміщення та умов зворотного зовнішнього зміщення URD= -5 B.
3. Розрахувати концентрації надлишкових носіїв заряду, інжектованих у кожну з областей переходу за умов прямого зміщення UFD= +0,6 B.
4. Розрахувати повний струм, який проходить крізь діод, за умов прямого зміщення UFD= +0,6 B.
5. Визначити зворотний струм насичення діода.
Задача 12. Розрахувати величину електричного струму, який проходить через р-n-перехід, при температурі 400 К, якщо струм власних носіїв заряду дорівнює I0 = 20 мА, а на р-n-перехід діє пряма напруга величиною 0,05 В. Пояснити характер залежності струму від прикладеної напруги.
Задача 13. Розрахувати величину електричного струму, який проходить через р-n-перехід, при температурі 500 К, якщо струм власних носіїв заряду дорівнює I0 = 20 мА, а на р-n-перехід діє зворотна напруга величиною 0,05 В. Зобразити графічно характер залежності струму від прикладеної напруги.
Задача
14.
Розрахувати максимальне електричне
поле Е
і ширину областей просторового заряду
Wn
і Wp
в
германії (Ge) з електронною та дірковою
провідністю для p-n-
переходу в умовах рівноваги.
=10
Ом.см,
=1
Ом.см.
Задача 15. У кремнієвому p-n- переході площиною S= =10-3 см2 і концентраціями легувальної домішки ND=NA=1018 см-3 при кімнатній температурі Т = 300 К відбувається накопичення заряду. Розрахувати накопичений заряд і час, за який зворотне зміщення зростає від 0 до -10 В, якщо величина струму через діод дорівнює 1 мА.