Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Пассивные элементы+.doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.04.2025
Размер:
6.46 Mб
Скачать

Расчёт тонкоплёночного конденсатора

Исходными данными для расчёта МДМ-конденсаторов являются:

номинальное значение ёмкости С; относительная погрешность ёмкости γс (15%). ра­бочее напряжение Uр( 20 В), максимальная рабочая температура Тmax (80 С), время работы 1000ч., конструктивные и технологические ограничения. Погрешности, используемые в расчете, взять по максимальной границе.

Таблица 5.

Основные характеристики диэлектрических материалов тонкопленочных конденсаторов

Материал

, при частоте 1 кГц

с

,

% /10 ч.

6-8

(1-2)∙

(1-2)∙

1,5-6

3,5-4

(5-6)∙

(0.8-1)∙

1

10

9∙

(1,5-5)∙

2

Порядок расчёта тонкопленочного конденсатора

1. Определить тип и конструкцию конденсатора.

  1. Выбрать материал диэлектрической плёнки из таблицы и рассчитать минимальную толщину диэлектрика из условия электрической прочности:

dmin ≥ Kпр ,

где Kпр=(2-3) – коэффициент запаса прочности; Епр – электрическая прочность диэлектрика.

Если dmin лежит за пределами (0,1-1) мкм, то следует выбрать другой материал.

  1. Определить максимальную удельную ёмкость С0 max1, которая обеспечит необходимую электрическую прочность:

С0 max1=εε0/dmin

  1. Определить максимальную удельную ёмкость С0 max2, которая обеспечит требуемую точность изготовления конденсатора:

С0 max2=С(Sдоп/∆L)2*Kф/(1+ Kф)2,

Где: Kф=L/B – коэффициент формы конденсатора (L и B-размеры обкладки конденсатора; обычно L=B, т.о. Kф принимается равным единице.); ∆L- абсолютная погрешность линейных размеров конденсатора (10 мкм); Sдоп- допустимая относительная погрешность активной площади конденсатора, которая определяется как: Sдопс-(γс0+γтст),

здесь γс0-относительная погрешность удельной ёмкости, которая характеризует воспроизводимость технологического процесса формирования диэлектрической плёнки и составляет 5%; γст – относительная температурная погрешность γт=сmax0), где с - температурный коэффициент материала диэлектрика, Т0=20°С; γст-относительная погрешность, обусловленная старением диэлектрика γст= , где  - коэффициент старения, t-время работы.

  1. Из двух значений С0 max выбрать наименьшее С0 .

  2. Рассчитать активную площадь конденсатора:

S=C/C0, размеры верхней пластины(обкладки) LB= , BB= LBф

  1. Рассчитать размеры нижней обкладки конденсатора и размеры диэлектрика:

Lн= LB+2q Bн=BB+2q

LД= LН+2f BД= BН+2f

где q – расстояние между краями верхней и нижней обкладки

f – расстояние между краями диэлектрика и нижней обкладки

q=200мкм f=100мкм

Литература:

  1. Конструирование и технология микросхем. Под. ред. Л. А. Коледова.-М.:Высшая школа, 1984.

  2. Пономарёв М. Ф. Конструкции и расчёт микросхем и микроэлементов.-М.: Радио и связь, 1982.

  3. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.И. Микроэлектроника: Проектирование, виды микросхем, функциональная микроэлектроника.- М.: Высшая школа, 1987.

  4. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники: Учеб.пособие для вузов.-М.: Лаборатория Базовых Знаний, 2001._ 488 с.

ВАРИАНТЫ РАСЧЕТОВ

N вар.

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

Rдиф, Ом

500

550

600

650

700

750

800

850

900

1000

Сдиф, пФ

10

15

20

25

30

40

45

50

55

60

Rпл. Ом

500

550

600

650

700

750

800

850

900

1000

Спл,

пФ

40

60

80

100

120

140

160

180

200

220

N вар.

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

Rдиф, Ом

1050

1100

1150

1200

1250

1300

1350

1400

1450

1500

Сдиф, пФ

65

70

75

80

85

90

95

100

110

120

Rпл. Ом

1050

1100

1150

1200

1250

1300

1350

1400

1450

1500

Спл, пФ

240

260

280

300

320

340

360

380

400

420

24