
- •Расчетная работа n 1 Полупроводниковые резисторы
- •Методика расчета диффузионного резистора
- •Вопросы для защиты:
- •Варианты конструкции конденсаторов
- •Методика расчета конденсатора на основе n-p- перехода
- •Тонкопленочные резисторы
- •Пленочные резисторы
- •Варианты конструкции тонкопленочного резистора.
- •Методика расчета тонкопленочного резистора
- •Порядок расчета тпр
- •Резистор прямоугольной формы
- •Пленочные конденсаторы и катушки индуктивности
- •Расчёт тонкоплёночного конденсатора
Вопросы для защиты:
Что представляет собой диффузионный резистор? Нарисуйте резистор, созданный на основе базовой области.
Напишите формулу для расчета сопротивления полосковой конфигурации.
Перечислите топологии диффузионных резисторов. На какие сопротивления они рассчитаны?
Нарисуйте П-образную и Т-образную эквивалентную схему диффузионного резистора.
Расчетная работа N2
Полупроводниковые конденсаторы
Цель работы: рассчитать геометрические размеры окна под диффузия для получения полупроводникового конденсатора.
Основные теоретические сведения
Варианты конструкции конденсаторов
В полупроводниковых биполярных ИМС используются конденсаторы на основе p-n-переходов (диффузионные или ионно-легированные) и конденсаторы типа металл-диэлектрик-полупроводник (МДП).
Диффузионные конденсаторы (ДК) формируются на основе любого из n-p- переходов транзисторной структуры: коллектор – подложка (КП), эмиттер – база (ЭБ), база–коллектор (БК)(рисунок 8).
Рис. 8. Диффузионные конденсаторы.
Типичная структура ДК, в котором используется переход коллектор-база, показана на рис. 9.
Е
мкость
такого конденсатора в общем случае
имеет вид:
где
С01
и С02
— удельные емкости донной и боковой
частей р-п-перехода.
Соотношение слагаемых в правой части
зависит от отношения а/b,
т.е. от конфигурации
ДК. Оптимальной
конфигурацией является квадрат (а =
b):
при этом «боковая»
составляющая емкости оказывается в
десятки раз меньше донной. Пренебрегая
боковой составляющей, т.е. вторым
слагаемым, и полагая а
=b,
получаем:
Рис.9. Диффузионный конденсатор
на основе коллекторного перехода
.Например, если С01 = 150 пФ/мм2 и С = 100 пФ, то а == 0,8 мм. Как видим, размеры конденсатора получились сравнимыми с размерами кристалла.
Для того чтобы суммарная площадь всех конденсаторов, входящих в состав ИС, не превышала 20-25 % площади кристалла, необходимо ограничить суммарную емкость конденсаторов величиной
где Sкp — площадь кристалла. Если Sкр = 2–9 мм2 и С01 = 150 пФ/мм2, то Смакс = 50-300 пФ.
Используя не коллекторный, а эмиттерный n-p-переход, можно обеспечить в 5-7 раз большие значения максимальной емкости. Это объясняется большей удельной емкостью эмиттерного перехода, поскольку он образован низкоомными слоями.
Основные параметры ДК, включая технологический разброс номиналов Δ, температурный коэффициент емкости ТКЕ , пробивное напряжение Unp и добротность Q, приведены в табл. 1 для обоих вариантов ДК — с использованием коллекторного и эмиттерного переходов. Как видим, основное преимущество при использовании эмиттерного перехода — большие значения максимальной емкости. По пробивному напряжению и добротности (см. ниже) этот вариант уступает варианту с использованием коллекторного перехода.
Необходимым условием для нормальной работы ДК является обратное смещение p-n-перехода. Следовательно, напряжение на ДК должно иметь строго определенную полярность.
Емкость
ДК зависит от напряжения. Это значит,
что ДК, вообще говоря, является нелинейным
конденсатором с
вольт-фарадной характеристикой C(U).
Нелинейные конденсаторы
находят применение в специальных узлах
радиотехнической аппаратуры:
параметрических усилителях, умножителях
частоты и др. В таких узлах нелинейность
ДК оказывается полезной. Однако чаще
требуются линейные
конденсаторы с
постоянной емкостью, которые способны
пропускать без искажения переменные
сигналы и «блокировать» (т.е. не пропускать)
постоянные составляющие сигналов. ДК
успешно выполняет такую функцию при
наличии постоянного смещения
напряжения
,
превышающего амплитуду
переменного сигнала.
Таблица 1.
Типичные параметры интегральных конденсаторов
-
Тип конденсатора
С0, пФ/мм
Смакс,
пФ
Δ,%
тке, % /Ос
Uпр, В
Переход БК Переход БЭ
Переход КП
МДП-структура
150 1000
100
300
300 1200
500
±20 ±20
±20
± 25
- 0,1
- 0,1
- 0,1
0,02
50 7
70 80
Важной особенностью ДК является возможность менять значение емкости, меняя смещение . Следовательно, ДК можно использовать не только в качестве «обычного» конденсатора с постоянной емкостью, но и в качестве конденсатора с электрически управляемой емкостью или, как говорят, конденсатора переменной емкости. Такие конденсаторы необходимы, например, для настройки колебательных контуров в радиотехнике. Электрическая регулировка емкости, разумеется, предпочтительнее обычной механической. Однако диапазон электрической регулировки ограничен: меняя смещение от 1 до 10 В, можно изменить емкость ДК всего в 2-2,5 раза.
Добротность.
Важным параметром всякого конденсатора,
в том числе ДК, является высокочастотная
добротность Q
. Она характеризует
потери мощности при протекании емкостного
тока и определяется как отношение
реактивного сопротивления конденсатора
к активному:
где rв — сопротивление потерь на высоких частотах (рис.10, а). Чем меньше активная мощность по сравнению с реактивной, тем больше добротность. Например, если С= 100 пФ, rв = 20 Ом и f = 1 МГц, то QB ≈ 75. У идеального конденсатора rв = 0 и Q=∞.
Главным источником потерь в ДК являются горизонтальные сопротивления нижних слоев, входящих в состав р-п-переходов. Для перехода БК — это сопротивление коллекторного слоя (рис. 7), а для перехода БЭ — базового. При наличии скрытого n+-слоя сопротивление rв для перехода БК значительно меньше, чем при использовании коллекторного (табл. 1).
Из выражения добротности очевидно, что добротность возрастает с уменьшением частоты. Однако при достаточно низких частотах становится существенным другой тип потерь, которым на высоких частотах можно пренебречь. Речь идет о сопротивлении потерь rн, обусловленном обратным током p-n-перехода, т.е. о сопротивлении утечки. Это сопротивление шунтирует емкость ДК (рис. 10, б). Поэтому добротность на низких частотах определяют как отношение реактивной проводимости конденсатора к активной:
где rн - сопротивление потерь (утечки) на низких частотах.
Поскольку сопротивление rн определяется обратным током перехода, оно обратно пропорционально площади перехода. Тем самым произведение Сrн, а значит, и низкочастотная добротность не зависят от площади. Типичное значение QH на частоте 500 Гц составляет 50-100.
В том диапазоне частот, в котором значения обеих добротностей QB и QH превышают 100-200, ДК представляет собой почти идеальную емкость, т.е. на эквивалентных схемах (рис. 10) можно не учитывать сопротивление потерь. Из приведенных примеров следует, что ДК является почти идеальным в диапазоне
частот 500 Гц - 500 кГц.
Эквивалентная схема. Специфической особенностью ДК как элемента ИС является наличие у него паразитной емкости. При использовании перехода БК - это барьерная емкость между коллекторным слоем и подложкой Спар = Скп. Наличие паразитной емкости приводит к неполной передаче напряжения через ДК в нагрузку.
Действительно, из эквивалентной схемы на рис. 11 видно, что ДК вместе с паразитной емкостью образует емкостной делитель напряжения. Поэтому на выход проходит только часть входного напряжения Uвх. Коэффициент передачи будет близок к единице, если выполняется неравенство Спар < С. Однако площади обоих конденсаторов (рабочего и паразитного) почти одинаковы (рис. 11). Более того, площадь паразитного конденсатора Скп даже несколько больше площади рабочего. Поэтому емкости Спар и С различаются только благодаря различию удельных емкостей переходов БК и КП и различию напряжений на этих переходах. Расчеты показывают, что в реальных структурах ИС паразитную емкость Спар не удается сделать меньше (0,15-0,2)С. Соответственно коэффициент передачи не превышает 0,8-0,9. Аналогичные выводы и аналогичная эквивалентная схема действительны и для ДК, использующего переход БЭ.
М
ДП(МОП)-конденсатор.
Интегральным конденсатором, принципиально
отличным от ДК, является МДП-конденсатор.
МДП-конденсаторы (металл-диэлектрик-полупроводник)
используют в качестве диэлектрика
тонкий слой (0,05…0,12 мкм)
или
.
Нижней обкладкой служит высоколегированный
эмиттерный слой, верхней – пленка
алюминия толщиной Его типичная
структура показана на рис. 12. Здесь над
эмиттерным n+-слоем
с помощью дополнительных технологических
процессов выращен слой тонкого
окисла. В дальнейшем, при осуществлении
металлической разводки, на этот слой
напыляется алюминиевая верхняя обкладка
конденсатора.
Удельная емкость МДП-конденсатора выражается формулой
,
где d – толщина защитного окисла, ε – его диэлектрическая проницаемость. Обычно удельная емкость составляет около 350 пФ/мм2. Основные параметры МДП-конденсаторов приведены в табл. 1.
Рис.12. МДП-конденсатор с диэлектриком.
Важным преимуществом МДП-конденсаторов по сравнению с ДК является то, что они работают при любой полярности напряжения, т.е. аналогичны «обычному» конденсатору. Однако МДП-конденсатор, как и ДК, тоже нелинейный.
Выбор n-p-переходов для конденсаторов определяется значением емкости, допустимыми напряжениями на переходе и другими требованиями. Низковольтные конденсаторы обычно формируются на переходе эмиттер-база. Наиболее часто используется конденсатор на n-p- переходе база-коллектор.