
- •Расчетная работа n 1 Полупроводниковые резисторы
- •Методика расчета диффузионного резистора
- •Вопросы для защиты:
- •Варианты конструкции конденсаторов
- •Методика расчета конденсатора на основе n-p- перехода
- •Тонкопленочные резисторы
- •Пленочные резисторы
- •Варианты конструкции тонкопленочного резистора.
- •Методика расчета тонкопленочного резистора
- •Порядок расчета тпр
- •Резистор прямоугольной формы
- •Пленочные конденсаторы и катушки индуктивности
- •Расчёт тонкоплёночного конденсатора
Пленочные конденсаторы и катушки индуктивности
Цель работы: рассчитать геометрические размеры тонкопленочного конденсатора
Основные теоретические сведения
Конденсаторы.
Структура и конфигурация типичного
пленочного конденсатора показаны
на рис. 16. Удельная емкость конденсатора
определяется по формуле
,
где толщина диэлектрической пленки
d
существенно зависит
от технологии: для тонких пленок d
= 0,1-0,2 мкм, для толстых
d
= 10-20 мкм. Поэтому при
прочих равных условиях удельная
емкость толстопленочных конденсаторов
меньше, чем тонкопленочных. Однако
различие в толщине диэлектрика может
компенсироваться благодаря различию
диэлектрических проницаемостей
материалов.
У тонкопленочных конденсаторов удельная емкость не пропорциональна диэлектрической проницаемости используемого материала, так как учитывается еще его пробивная напряженность. Материал с высоким значением ε может иметь малую пробивную напряженность. Тогда при заданном пробивном напряжении толщину диэлектрического слоя необходимо увеличивать, и выигрыш в удельной емкости оказывается меньше ожидаемого.
При выборе диэлектрика для высокочастотных конденсаторов (как тонко-, так и толстопленочных) приходится дополнительно учитывать потери энергии в диэлектрике. Что касается омических потерь в обкладках пленочных конденсаторов, то они гораздо меньше, чем у полупроводниковых конденсаторов, потому что в качестве обкладок используются металлические слои с высокой проводимостью.
Рис.16. Конструкции пленочных конденсаторов с обкладками прямоугольной формы (а), в виде пересекающихся проводников (б) и гребенки(в).
Конструкция (рис. 16, а), в которой контур верхней обкладки вписывается в контур нижней обкладки, предназначена для реализации конденсаторов повышенной емкости (сотни-тысячи пикофарад). Ее особенностью является то, что несовмещение контуров обкладок не сказывается на воспроизведении емкости (для устранения погрешности из-за площади вывода верхней обкладки предусмотрены компенсаторы 5), а распространение диэлектрика за контуры обеих обкладок гарантирует надежную изоляцию обкладок при их предельном несовмещении.
Для конденсаторов небольшой емкости (десятки пикофарад) целесообразна конструкция (рис. 16, б) в виде пересекающихся проводников одинаковой ширины, разделенных слоем диэлектрика. Емкость конденсатора данной конструкции нечувствительна к смещению обкладок из-за неточности их совмещения.
Для реализации высокочастотных конденсаторов (емкость < 1 пФ) применяют гребенчатую конструкцию (рис. 16, в), в которой обкладки имеют форму гребенчатых проводников, а диэлектрик является составным типа «подложка — воздух» или «подложка — диэлекрическое покрытие».
В табл. 4 приведены типичные параметры пленочных конденсаторов. Для сравнения воспроизведены также параметры близких им по структуре МДП-конденсаторов. Из таблицы можно сделать следующие общие выводы:
удельные емкости пленочных конденсаторов (при надлежащем выборе диэлектрика) в несколько раз и даже на порядок превышают удельную емкость МДП-конденсаторов и тем более диффузионных конденсаторов;
максимальные емкости пленочных конденсаторов могут быть на несколько порядков больше, чем емкости полупроводниковых конденсаторов, главным образом благодаря большей площади (поскольку площадь подложек гибридных ИС значительно превышает площадь кристаллов полупроводниковых ИС);
толстопленочные конденсаторы незначительно уступают тонкопленочным по большинству параметров, за исключением, может быть, температурного коэффициента;
для высокочастотных тонкопленочных конденсаторов оптимальным диэлектриком является моноокись кремния; близкими к ней параметрами обладает также моноокись германия.
Таблица 4. Типичные параметры пленочных конденсаторов
Тип конденсатора |
|
|
Δ, % |
TKE, %/°C
|
Q (10 МГц) |
|
Тонкопле- ночныи |
SiO |
60 |
1500 |
± 15 |
0,2 |
200 |
|
1500 |
4*104 |
± 15 |
0 03 |
40 |
|
Та205 |
4000 |
105 |
± 15 |
0,02 |
30 |
|
Толстопленочный |
— |
104 |
± 20 |
± 0,05... ± 0,15 |
_ |
|
МДП |
350 |
200 |
± 20 |
0,02 |
10 |
Катушки индуктивности. Как уже отмечалось, возможность осуществлять катушки индуктивности методами микроэлектроники является одним из достоинств пленочной технологии. Такие катушки представляют собой плоские спирали, обычно прямоугольной конфигурации (Рис.17). Для уменьшения сопротивления в качестве материала используется золото. Ширина металлической полоски составляет 30-50 мкм, просвет между витками 50—100 мкм. При таких геометрических размерах удельная индуктивность лежит в диапазоне 10-20 нГн/мм2, т.е. на площади 25 мм2 можно получить индуктивность 250-500 нГн.
Добротность
катушек индуктивности на высокой
частоте определяется выражением
где rв — сопротивление высокочастотных потерь. Например, на частоте 100 МГц добротность может иметь значение QB = 50. В отличие от добротности конденсатора добротность катушки возрастает с увеличением частоты. Поэтому пленочные катушки могут успешно работать в диапазоне сверхвысоких частот (СВЧ), при частотах 3-5 ГГц. При этом число витков составляет 3-5. В связи с разработкой микроминиатюрных проволочных катушек применение пленочных катушек, особенно на частотах менее 50-100 МГц, ограничивается, и предпочтение, как и в случае конденсаторов, отдается навесным компонентам.
Рис.17. Пленочная
катушка индуктивности