- •Введение в методику экспериментов по физике атома, атомных явлений, ядра и элементарных частиц
- •Хронология экспериментов по исследованию структуры атома
- •1. Научные методы исследования в физике микрочастиц
- •1.1 Спектральный анализ
- •1.1.1 Предмет спектрального анализа. Структура атомных спектров.
- •1.1.2 Источники света
- •1.1.3 Спектральные приборы
- •1.1.4 Регистрация спектров
- •1.2 Рассеяние микрочастиц
- •1.2.1 Постановка экспериментов по рассеянию
- •1.2.2.Источники частиц
- •1.2.3 Детекторы частиц
- •1.3 Определение значений флуктуирующих величин
- •2. Некоторые явления физики микромира
- •2.1 Неопределенность значений отдельных сопряженных величин
- •2.2 Туннельный эффект
- •2.3 Вынужденное излучение. Лазеры
- •2.4 Изотопический сдвиг
- •2.5 Уширение спектральных линий
- •2.6 Радиоактивность
- •2.6.1 Общая характеристика радиоактивности
- •2.6.2 Радиоактивность
- •2.6.5 Взаимодействие ядерных излучений с веществом.
- •Зависимость максимального пробега -частиц от энергии в алюминии, биологической ткани (или воде) и воздухе
- •Зависимость пробега -частиц от начальной энергии в воздухе,
- •3. Модели
- •3.1 Модели атома
- •1. Основные понятия и определения:
- •2. Полуэмпирическая формула Бете-Вайцзеккера (бв):
- •3. Модель энергетических зон в твердых телах.
- •4. Зонная модель проводимости туннельного диода.
- •3.5 Математическая модель движения частиц в силовых полях
- •4. Методика экспериментальных исследований в лабораторном практикуме для студентов
- •Основное задание каждого исследования
- •Охрана труда и техника безопасности в лабораториях физики микрочастиц.
- •Опасность
- •4.1.2. Сериальная структура спектра водорода
- •4.1.3. Исследование спектральной чувствительности фотоэлемента
- •4.1.4 Оптические квантовые генераторы
- •8. Выполнить основное задание данного исследования
- •4.2. Квантовые явления в полупроводниках.
- •4.2.1. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •4.2.3. Особенности вольт-амперных характеристик
- •4.3. Регистрация и количественная оценка ядерных излучений
- •4.3.1. Статистические свойства радиоактивных препаратов
- •4.3.2 Компьютер как элемент экспериментальной установки в исследованиях по физике микрочастиц
- •4.3.3 Счетчик Гейгера-Мюллера и его параметры
- •4.3.4 Исследование b-активности изотопа калия 19к40
- •4.4. Поглощение радиоактивного излучения в газах и твердых телах
- •4.4.1 Свободный пробег a-частиц в воздухе.
- •4.4.2. Исследование явления поглощения b-частиц в металлах
- •4.5. Математическое моделирование
- •4.5.1. Движение микрочастиц в бесконечно глубокой потенциальной яме
- •Творческие задания.
- •4.5.2. Масса и энергия связи атомных ядер
- •Литерарура
1.1.4 Регистрация спектров
Более сложные технические и научные задачи по сравнению с качественным, решаются в рамках количественного спектрального анализа. Среди этих задач: определение количества каждого из элементов в соединении, определение температуры и концентрации заряженных частиц в плазме, многие проблемы астрофизики и т.д. Решение подобных задач связано, как правило, с оценкой интенсивности определенных спектральных линий.
Напомним,
что интенсивность излучения света в
данной точке пространства определяется
как средний по времени световой поток
через единицу поверхности площадки,
перпендикулярной
к
направлению распространения световой
волны. Оказывается, что для любого
приемника света, который будет оценивать
этот поток (человеческий глаз, фотопленка,
электронные приборы), вовсе небезразлично
в каком спектральном интервале он
излучается. Приемник будет по разному
реагировать на излучение одинаковой
интенсивности в различных участках
спектра. Так человеческий глаз, например,
не воспринимает излучения, лежащего в
ультрафиолетовой области спектра, но
очень чутко реагирует на излучение в
желто-зеленой области. Именно поэтому,
рассматривая спектр излучения какого-либо
элемента, мы, хотя и видим спектральные
линии, представляющиеся нам по-разному
яркими, все же мы не можем приписать им
конкретное значение интенсивности.
Более того, мы не можем даже сравнить
интенсивности двух спектральных линий,
если они расположены в далеких друг от
друга спектральных областях. Измерения
подобного рода можно провести только
тогда, когда известна спектральная
чувствительность фотоприемника:
,
где i
- фототок,
поток световой энергии в узком интервале
длин волн (,
+d).
Очевидно из вышесказанного, что
функция длины волны света. Вид этой
функции для конкретного фотоприемника
находится экспериментально.
Простейший
способ получения спектральной
характеристики, например, фотоэлемента,
заключается в том, что на последний
направляют при помощи монохроматора
свет различных длин волн ,
но с одинаковым потоком световой энергии
в одинаковых интервалах (,
+d).
Тогда встает вопрос: чем же освещать
входную щель монохроматора? Ведь любой
источник света обладает различной
излучательной способностью в различных
областях спектра. Проблема легко решается
для таких источников, для которых
известна зависимость энергии излучения
от длины волны. Такими источниками
света, в первую очередь, являются лампочки
накаливания, поскольку их излучение
подчиняется законам теплового излучения.
Знание зависимости
позволяет
произвести перерасчет силы фототока
от реального к воображаемому
немонохроматическому источнику
постоянной интенсивности в любом
спектральном интервале. На рис.5
представлена зависимость энергии
излучения от длины волны для раскаленного
вольфрама, имеющего температуру Т=1800°К.
По оси ординат отложена энергия излучения
в произвольных единицах. Примем за
единицу энергию, соответствующую длине
волны =560
нм (эта длина волны соответствует
максимальной чувствительности глаза)
и ограничимся рассмотрением видимой
части спектра. Для света длина волны =
560
нм фототок i
во столько раз меньше, чем фототок от
источника постоянной интенсивности
,
во сколько раз
меньше
.
Поэтому,
для того, чтобы произвести перерасчет,
показание гальванометра (фототок)
следует умножить на коэффициент k.
Очевидно, для 560
нм
k1,
для 560
нм k1.
Для определения чувствительности фотоэлемента обычно пользуются эталонными лампами с известными кривыми Вина, либо определяют пирометром температуру нити лампочки накаливания и, зная материал спирали нити по табличным данным строят кривую Вина . Затем определяют коэффициент k для различных длин волн и производят перерасчет.
Рис. 5. График зависимости энергии излучения от длины волны для вольфрама, при температуре 1800°К. Горизонтальная линия характеризует распределение энергии по длинам волн для воображаемого источника (результат перерасчета).
Аналогичных исследований требуют также и фотопленка, стеклянные фотопластинки или фотобумага.
