
- •Введение в методику экспериментов по физике атома, атомных явлений, ядра и элементарных частиц
- •Хронология экспериментов по исследованию структуры атома
- •1. Научные методы исследования в физике микрочастиц
- •1.1 Спектральный анализ
- •1.1.1 Предмет спектрального анализа. Структура атомных спектров.
- •1.1.2 Источники света
- •1.1.3 Спектральные приборы
- •1.1.4 Регистрация спектров
- •1.2 Рассеяние микрочастиц
- •1.2.1 Постановка экспериментов по рассеянию
- •1.2.2.Источники частиц
- •1.2.3 Детекторы частиц
- •1.3 Определение значений флуктуирующих величин
- •2. Некоторые явления физики микромира
- •2.1 Неопределенность значений отдельных сопряженных величин
- •2.2 Туннельный эффект
- •2.3 Вынужденное излучение. Лазеры
- •2.4 Изотопический сдвиг
- •2.5 Уширение спектральных линий
- •2.6 Радиоактивность
- •2.6.1 Общая характеристика радиоактивности
- •2.6.2 Радиоактивность
- •2.6.5 Взаимодействие ядерных излучений с веществом.
- •Зависимость максимального пробега -частиц от энергии в алюминии, биологической ткани (или воде) и воздухе
- •Зависимость пробега -частиц от начальной энергии в воздухе,
- •3. Модели
- •3.1 Модели атома
- •1. Основные понятия и определения:
- •2. Полуэмпирическая формула Бете-Вайцзеккера (бв):
- •3. Модель энергетических зон в твердых телах.
- •4. Зонная модель проводимости туннельного диода.
- •3.5 Математическая модель движения частиц в силовых полях
- •4. Методика экспериментальных исследований в лабораторном практикуме для студентов
- •Основное задание каждого исследования
- •Охрана труда и техника безопасности в лабораториях физики микрочастиц.
- •Опасность
- •4.1.2. Сериальная структура спектра водорода
- •4.1.3. Исследование спектральной чувствительности фотоэлемента
- •4.1.4 Оптические квантовые генераторы
- •8. Выполнить основное задание данного исследования
- •4.2. Квантовые явления в полупроводниках.
- •4.2.1. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника
- •4.2.3. Особенности вольт-амперных характеристик
- •4.3. Регистрация и количественная оценка ядерных излучений
- •4.3.1. Статистические свойства радиоактивных препаратов
- •4.3.2 Компьютер как элемент экспериментальной установки в исследованиях по физике микрочастиц
- •4.3.3 Счетчик Гейгера-Мюллера и его параметры
- •4.3.4 Исследование b-активности изотопа калия 19к40
- •4.4. Поглощение радиоактивного излучения в газах и твердых телах
- •4.4.1 Свободный пробег a-частиц в воздухе.
- •4.4.2. Исследование явления поглощения b-частиц в металлах
- •4.5. Математическое моделирование
- •4.5.1. Движение микрочастиц в бесконечно глубокой потенциальной яме
- •Творческие задания.
- •4.5.2. Масса и энергия связи атомных ядер
- •Литерарура
1.1.3 Спектральные приборы
Для эмиссионного спектрального анализа применяются различные спектральные приборы с визуальной, фотографической или фотоэлектрической регистрацией спектров:
Спектрографы, у которых спектры регистрируются на фотографическую пластинку и занимают достаточно большой спектральный интервал.
Стилоскопы и стилометры, предназначенные для визуального качественного и полуколичественного анализов сталей и сплавов.
Монохроматоры у которых спектры занимают очень малый спектральный интервал и регистрируются визуально или фотоэлектрическим способом.
Полихроматоры с фотоэлектрической регистрацией световых потоков и предназначенные для быстрого и автоматизированного проведения большого числа анализов. От монохроматоров они отличаются тем, что ими может быть выделено несколько узких спектральных областей.
Все эти приборы имеют примерно одинаковую конструкцию с использованием в качестве диспергирующего элемента стеклянной (для ультрафиолетовой области кварцевой) призмы или дифракционной решетки. Призменные приборы почти потеряли научное применение, однако широко используются в технических и учебных целях. Современные исследовательские спектральные приборы – это, как правило, дифракционная техника с высокими значениями основных параметров.
О
птическая
схема призменного монохроматора
как
простейшего спектрального прибора
представлена на рис.3. Свет от источника
1
попадает
на входную щель 2 монохроматора 2, которая
находится в фокусе линзы 3. Призма 4
разлагает свет в спектр, который
наблюдается в фокальной плоскости линзы
5. Монохроматоры чаще всего используются
для выделения почти монохроматического
пучка света, который используется для
различных исследований, например
определения коэффициентов преломления
и отражения света различными веществами
на различных частотах (длинах волн.)
Наиболее распространенными приборами, применяющимися для эмиссионного спектрального анализа, являются спектрографы. Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Принципиальная схема призменного спектрографа представлена на рис. 4.
Рис. 4. Оптическая схема призменного спектрографа:
1 — входная щель; 2 — коллиматорный объектив; 3 —
призма; 4 — камерный объектив; 5 — фотопластинка
Спектрограф имеет три основные части: коллиматор, состоящий из объектива 2 и щели 1, установленной в его фокусе; диспергирующую систему 3, состоящую из одной или нескольких преломляющих призм, и фотографическую камеру, состоящую из объектива 4 и фотопластинки 5, расположенной в его фокальной плоскости. Показатель преломления материала призмы неодинаков для различных длин волн. Поэтому неоднородный по спектральному составу параллельный пучок лучей, формируемый коллиматором и падающий на призму, разделяется в ней на монохроматические пучки, идущие по разным направлениям. Камерный объектив 4 собирает эти пучки в своей фокальной плоскости, создавая на фотопластинке 5 последовательность монохроматических изображений щели — спектральные линии.
Дисперсия спектрографа показывает на геометрические размеры спектра, приходящиеся на единичный спектральный интервал. Чем больше дисперсия (угловая либо линейная), тем дальше друг от друга находятся на соответствующих спектрограммах одни и те же спектральные линии.
Разрешающая способность спектрографа R показывает, могут ли наблюдаться как отдельные две рядом расположенные спектральные линии или они сольются в одну, т.е. прибор их не разрешает. Причина не разрешения двух рядом расположенных линий определяется совместным действием различных факторов. К их числу относятся дифракция на действующем отверстии спектрографа, различные аберрации и другие погрешности оптики прибора, ширина входной щели и зернистая структура фотографической эмульсии. Как правило, большая дисперсия определяет и большую разрешающую способность
Рабочий диапазон спектра ограничивается поглощением излучения оптическими деталями прибора и в слое воздуха между источником света и приемником, величиной области дисперсии материала призм и областью чувствительности приемника излучения.
В заключение данной главы приведем несколько фотографий (спектрограмм) отдельных участков спектров различных элементов, на которых отмечены отдельные спектральные линии и их длины волн в нанометрах.
|
|
|
|
Обратите внимание на:
- сложность структуры спектров;
- обилие количества линий в небольшом спектральном интервале;
- точность в определении длин волн линий;
- различие в яркости и четкости изображения линий;
- различия в толщине (ширине) линий, т.е. в спектральных интервалах, которые они занимают, сравните его с тем значением длинны волны, которое приписывается данной линии, с точностью данного значения.